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1. WO2020105724 - 単結晶X線構造解析装置および試料ホルダ

公開番号 WO/2020/105724
公開日 28.05.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/045694
国際出願日 21.11.2019
IPC
G01N 23/20016 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
20008分析機器の構造の細部,例.X線源,検出器または光学系に特徴のあるもの;付属品;試料調製
20016ゴニオメータ
G01N 23/20025 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
20008分析機器の構造の細部,例.X線源,検出器または光学系に特徴のあるもの;付属品;試料調製
20025そのための試料ホルダまたは試料支持部材
G01N 23/205 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
205回折カメラを用いるもの
G01N 23/207 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
207回折法,例.プローブを中心として1以上の移動可能な検出器を円周上に配置するもの
CPC
G01N 23/20016
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
20008Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
20016Goniometers
G01N 23/20025
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
20008Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
20025Sample holders or supports therefor
G01N 23/205
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
205using diffraction cameras
G01N 23/207
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
出願人
  • 株式会社リガク RIGAKU CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 佐藤 孝 SATO Takashi
代理人
  • 福地 武雄 FUKUCHI Takeo
優先権情報
2018-21981023.11.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) SINGLE-CRYSTAL X-RAY STRUCTURAL ANALYSIS DEVICE AND SAMPLE HOLDER
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE STRUCTURELLE AUX RAYONS X SUR MONOCRISTAL ET PORTE-ÉCHANTILLON
(JA) 単結晶X線構造解析装置および試料ホルダ
要約
(EN)
The present invention makes it possible to attach a sample holder holding a porous complex crystal in which single crystals are occluded, to a goniometer head with relative ease, good reproducibility, and certainty. This single-crystal X-ray structural analysis device for performing structural analysis of a substance, is provided with: an X-ray source that generates X rays; a goniometer equipped with a goniometer head 514 to which a sample holder 310 that holds a porous complex crystal occluding a sample is attached; an X-ray irradiation unit that irradiates, with X rays, the porous complex crystal having the position thereof adjusted with the goniometer head 514; an X-ray detection measurement unit that detects and measures the X rays diffracted or scattered by the sample; and a structural analysis unit that performs structural analysis of the sample on the basis of the diffracted or scattered X rays detected by the X-ray detection measurement unit. On a surface of the goniometer head 514 where the sample holder 310 is attached, a positioning part that determines the position where the sample holder 310 is attached is formed.
(FR)
La présente invention permet de fixer un porte-échantillon supportant un cristal complexe poreux dans lequel des monocristaux sont occlus à une tête de goniomètre avec une facilité relative, avec une bonne reproductibilité et avec certitude. Ce dispositif d'analyse structurelle aux rayons X sur monocristal pour effectuer une analyse structurelle d'une substance comprend : une source de rayons X qui génère des rayons X ; un goniomètre équipé d'une tête de goniomètre 514 à laquelle est fixé un porte-échantillon 310 qui supporte un cristal complexe poreux occluant un échantillon ; une unité d'irradiation de rayons X qui irradie, avec des rayons X, le cristal complexe poreux dont la position est ajustée avec la tête de goniomètre 514 ; une unité de mesure de détection de rayons X qui détecte et mesure les rayons X diffractés ou diffusés par l'échantillon ; et une unité d'analyse structurelle qui réalise une analyse structurelle de l'échantillon sur la base des rayons X diffractés ou dispersés détectés par l'unité de mesure de détection de rayons X. Sur une surface de la tête 514 de goniomètre où le porte-échantillon 310 est fixé, une partie de positionnement qui détermine la position où le porte-échantillon 310 est fixé est formée.
(JA)
単結晶を吸蔵させた細孔性錯体結晶を保持した試料ホルダを、比較的容易に、かつ、再現性良く確実にゴニオメータヘッドに装着することを可能にする。物質の構造解析を行う単結晶X線構造解析装置であって、X線を発生するX線源と、試料を吸蔵した細孔性錯体結晶を保持した試料ホルダ310を装着するゴニオメータヘッド514を備えたゴニオメータと、前記ゴニオメータヘッド514で位置が調整された前記細孔性錯体結晶にX線を照射するX線照射部と、前記試料により回折又は散乱したX線を検出して測定するX線検出測定部と、前記X線検出測定部に検出された回折又は散乱X線に基づいて前記試料の構造解析を行う構造解析部と、を備え、前記ゴニオメータヘッド514の前記試料ホルダ310を装着する面には、前記試料ホルダ310を装着する位置を決める位置決め部が形成されている。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報