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1. WO2020105723 - 単結晶X線構造解析試料の吸蔵装置及び吸蔵方法

公開番号 WO/2020/105723
公開日 28.05.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/045692
国際出願日 21.11.2019
IPC
G01N 23/20025 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
20008分析機器の構造の細部,例.X線源,検出器または光学系に特徴のあるもの;付属品;試料調製
20025そのための試料ホルダまたは試料支持部材
G01N 1/28 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
1サンプリング;調査用標本の調製
28調査用標本の調製
CPC
G01N 1/28
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
1Sampling; Preparing specimens for investigation
28Preparing specimens for investigation ; including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
G01N 23/20025
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
20008Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
20025Sample holders or supports therefor
出願人
  • 株式会社リガク RIGAKU CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 佐藤 孝 SATO Takashi
代理人
  • 福地 武雄 FUKUCHI Takeo
優先権情報
2018-21980923.11.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) SINGLE-CRYSTAL X-RAY STRUCTURAL ANALYSIS SAMPLE OCCLUSION DEVICE AND OCCLUSION METHOD
(FR) DISPOSITIF D'OCCLUSION D'ÉCHANTILLON D'ANALYSE STRUCTURELLE AUX RAYONS X SUR MONOCRISTAL ET PROCÉDÉ D'OCCLUSION
(JA) 単結晶X線構造解析試料の吸蔵装置及び吸蔵方法
要約
(EN)
Provided are a single-crystal X-ray structural analysis sample occlusion device that makes it possible to supply a sample to a porous complex crystal and surely occlude the sample; and an occlusion method. A occlusion device 300 for occluding a sample, is provided with: a supply part that supplies the sample to the inside of an applicator 311 to which a sample holder 310 that holds a porous complex crystal is inserted; a temperature adjustment unit 320 that controls the temperature of the applicator 311; a discharge part that takes out the sample from the inside of the applicator 311 to which the sample holder 310 is inserted; and a control unit 340 that controls the supply part, the temperature adjustment unit 320, and the discharge part.
(FR)
L'invention concerne un dispositif d'occlusion d'échantillon d'analyse structurelle aux rayons X sur monocristal qui permet de fournir un échantillon à un cristal complexe poreux et d'occlure l'échantillon de manière sûre ; et un procédé d'occlusion. Un dispositif d'occlusion 300 pour occlure un échantillon comprend : une partie d'alimentation qui fournit l'échantillon à l'intérieur d'un applicateur 311 sur lequel est inséré un porte-échantillon 310 qui supporte un cristal complexe poreux ; une unité de réglage de température 320 qui commande la température de l'applicateur 311 ; une partie d'évacuation qui extrait l'échantillon de l'intérieur de l'applicateur 311 sur lequel le porte-échantillon 310 est inséré ; et une unité de commande 340 qui commande la partie d'alimentation, l'unité de réglage de température 320 et la partie d'évacuation.
(JA)
細孔性錯体結晶に試料を供給して確実に吸蔵させることを可能にする単結晶X線構造解析試料の吸蔵装置及び吸蔵方法を提供する。試料を吸蔵させる吸蔵装置300であって、前記試料を、細孔性錯体結晶を保持した試料ホルダ310が挿入されたアプリケータ311の内部に供給する供給部と、前記アプリケータ311の温度を制御する温度調整部320と、前記試料ホルダ310が挿入された前記アプリケータ311の内部から前記試料を搬出する排出部と、前記供給部と前記温度調整部320と前記排出部とを制御する制御部340と、を備える。
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