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1. WO2020105721 - 単結晶X線構造解析装置と方法、そのための試料ホルダ及びアプリケータ

公開番号 WO/2020/105721
公開日 28.05.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/045690
国際出願日 21.11.2019
IPC
G01N 23/20025 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
20008分析機器の構造の細部,例.X線源,検出器または光学系に特徴のあるもの;付属品;試料調製
20025そのための試料ホルダまたは試料支持部材
G01N 23/205 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
205回折カメラを用いるもの
G01N 23/207 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
207回折法,例.プローブを中心として1以上の移動可能な検出器を円周上に配置するもの
G01N 1/28 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
1サンプリング;調査用標本の調製
28調査用標本の調製
CPC
G01N 1/28
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
1Sampling; Preparing specimens for investigation
28Preparing specimens for investigation ; including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
G01N 23/20025
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
20008Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
20025Sample holders or supports therefor
G01N 23/205
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
205using diffraction cameras
G01N 23/207
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
出願人
  • 株式会社リガク RIGAKU CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 佐藤 孝 SATO Takashi
代理人
  • 福地 武雄 FUKUCHI Takeo
優先権情報
2018-21873222.11.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) SINGLE-CRYSTAL X-RAY STRUCTURAL ANALYSIS DEVICE AND METHOD, AND SAMPLE HOLDER AND APPLICATOR THEREFOR
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ANALYSE STRUCTURALE À RAYONS X MONOCRISTALLINE, PORTE-ÉCHANTILLON ET APPLICATEUR CORRESPONDANT
(JA) 単結晶X線構造解析装置と方法、そのための試料ホルダ及びアプリケータ
要約
(EN)
Provided are a user-friendly single-crystal X-ray structural analysis device for, even if management of related information is included, easily and quickly performing single-crystal X-ray structural analysis using a porous complex crystal (crystal sponge), and a sample holder and an applicator therefor. This single-crystal X-ray structural analysis device for performing structural analysis of a substance, is provided with: an X-ray source that generates X rays; a sample holder (250) that includes a porous complex crystal (200) capable of occluding a sample in a plurality of micropores formed inside and holds the sample; a goniometer that has the sample holder (250) mounted thereon so as to rotate the sample holder; an X-ray irradiation unit that irradiates the sample held by the sample holder mounted to the goniometer with X rays from the X-ray source; an X-ray detection measurement unit that detects and measures X rays diffracted or scattered by the sample; a structural analysis unit that performs structural analysis of the sample on the basis of the diffracted or scattered X rays measured by the X-ray detection measurement unit; and an information acquisition unit (600) that acquires information about the porous complex crystal (220).
(FR)
L'invention concerne un dispositif d'analyse structurale à rayons X monocristallin convivial permettant, même si une gestion d'informations associées est comprise, de réaliser facilement et rapidement une analyse structurale à rayons X monocristalline à l'aide d'un cristal complexe poreux (éponge cristalline), ainsi qu'un porte-échantillon et un applicateur associé. Ledit dispositif d'analyse structurale à rayons X monocristallin permettant d'effectuer une analyse structurale d'une substance comprend : une source de rayons X qui génère des rayons X ; un porte-échantillon (250) qui comprend un cristal complexe poreux (200) permettant d'occlure un échantillon dans une pluralité de micropores formés à l'intérieur et de contenir l'échantillon ; un goniomètre comprenant le porte-échantillon (250) monté sur ce dernier de façon à faire tourner le porte-échantillon ; une unité d'irradiation de rayons X qui irradie l'échantillon maintenu par le porte-échantillon monté sur le goniomètre avec des rayons X provenant de la source de rayons X ; une unité de mesure de détection de rayons X qui détecte et mesure les rayons X diffractés ou diffusés par l'échantillon ; une unité d'analyse structurale qui réalise une analyse structurale de l'échantillon en fonction des rayons X diffractés ou diffusés mesurés par l'unité de mesure de détection de rayons X ; et une unité d'acquisition d'informations (600) qui acquiert des informations concernant le cristal complexe poreux (220).
(JA)
細孔性錯体結晶(結晶スポンジ)を用いた単結晶X線構造解析を迅速に行い、関連情報の管理を含めて容易なものとするユーザフレンドリな単結晶X線構造解析装置と方法、そのための試料ホルダ及びアプリケータを提供する。物質の構造解析を行う単結晶X線構造解析装置であって、X線を発生するX線源と、内部に形成された複数の微細孔に試料を吸蔵可能な細孔性錯体結晶(200)を含み前記試料を保持する試料ホルダ(250)と、前記試料ホルダ(250)を取り付けて回動するゴニオメータと、前記ゴニオメータに取り付けられた前記試料ホルダに保持された前記試料に対して前記X線源からのX線を照射するX線照射部と、前記試料により回折又は散乱されたX線を検出して測定するX線検出測定部と、前記X線検出測定部により測定された回折又は散乱X線に基づいて前記試料の構造解析を行なう構造解析部と、前記細孔性錯体結晶に関する情報(220)を取得する情報取得部(600)と、を備える。
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