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1. WO2020105720 - 単結晶X線構造解析装置および試料ホルダ取り付け装置

公開番号 WO/2020/105720
公開日 28.05.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/045689
国際出願日 21.11.2019
IPC
G01N 23/20025 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
20008分析機器の構造の細部,例.X線源,検出器または光学系に特徴のあるもの;付属品;試料調製
20025そのための試料ホルダまたは試料支持部材
G01N 23/207 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
207回折法,例.プローブを中心として1以上の移動可能な検出器を円周上に配置するもの
CPC
G01N 23/20025
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
20008Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
20025Sample holders or supports therefor
G01N 23/207
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
出願人
  • 株式会社リガク RIGAKU CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 佐藤 孝 SATO Takashi
代理人
  • 福地 武雄 FUKUCHI Takeo
優先権情報
2018-21875622.11.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) SINGLE-CRYSTAL X-RAY STRUCTURAL ANALYSIS DEVICE AND SAMPLE HOLDER MOUNTING DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE STRUCTURELLE AUX RAYONS X SUR MONOCRISTAL ET DISPOSITIF DE MONTAGE DE PORTE-ÉCHANTILLON
(JA) 単結晶X線構造解析装置および試料ホルダ取り付け装置
要約
(EN)
Provided are: a single-crystal X-ray structural analysis device and a sample holder mounting device that surely and easily enable work of detaching a sample occluded in a crystal sponge and work of loading of the sample to the structural analysis device. This sample holder mounting device is for mounting a sample holder that holds a sample to a single-crystal X-ray structural analysis device for performing structural analysis of a substance. The sample holder mounting device is provided with a sample holder mounting mechanism 600 that mounts a sample holder 250 to a goniometer 12 of the single-crystal X-ray structural analysis device, the sample holder 250 being provided in a form of being attached to an attachable/detachable applicator 300 but being detached from the applicator 300 for the mounting. The sample holder 250 includes a porous complex crystal capable of occluding the sample in a plurality of micropores formed inside. In a state where the sample holder 250 is mounted to the goniometer 12, the porous complex crystal is fixed to a position of the sample holder 250 where X rays from the X-ray irradiation unit are emitted.
(FR)
L'invention concerne : un dispositif d'analyse structurelle aux rayons X sur monocristal et un dispositif de montage de porte-échantillon qui permettent de réaliser de manière sûre et facile le détachement d'un échantillon occlus dans une éponge cristalline et le chargement de l'échantillon vers le dispositif d'analyse structurelle. Ce dispositif de montage de porte-échantillon est destiné à monter un porte-échantillon qui supporte un échantillon sur un dispositif d'analyse structurelle aux rayons X sur monocristal pour effectuer une analyse structurelle d'une substance. Le dispositif de montage de porte-échantillon est pourvu d'un mécanisme de montage de porte-échantillon 600 qui monte un porte-échantillon 250 sur un goniomètre 12 du dispositif d'analyse structurelle aux rayons X sur monocristal, le porte-échantillon 250 étant disposé en étant fixé à un applicateur pouvant être fixé/détaché 300, mais en étant détaché de l'applicateur 300 pour le montage. Le porte-échantillon 250 comprend un cristal complexe poreux capable d'occlure l'échantillon dans une pluralité de micropores formés à l'intérieur de celui-ci. Dans un état où le porte-échantillon 250 est monté sur le goniomètre 12, le cristal complexe poreux est fixé à un endroit du porte-échantillon 250 où les rayons X provenant de l'unité d'irradiation de rayons X sont émis.
(JA)
結晶スポンジに吸蔵した試料の取り外しや装置への搭載作業を確実かつ容易に行うことが可能な単結晶X線構造解析装置および試料ホルダ取り付け装置を提供する。物質の構造解析を行う単結晶X線構造解析装置に試料を保持する試料ホルダを取り付ける試料ホルダ取り付け装置であって、着脱可能なアプリケータ300に装着されて提供された前記試料ホルダ250を、前記単結晶X線構造解析装置のゴニオメータ12に、前記試料ホルダ250を前記アプリケータ300から取り外した状態で取り付ける試料ホルダ取付け機構600を備え、前記試料ホルダ250は、内部に形成された複数の微細孔に前記試料を吸蔵可能な細孔性錯体結晶を含み、前記細孔性錯体結晶は、前記試料ホルダ250が前記ゴニオメータ12に取り付けられた状態で、前記試料ホルダ250の前記X線照射部からのX線が照射される位置に固定されている。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報