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1. WO2020105718 - 単結晶X線構造解析システム

公開番号 WO/2020/105718
公開日 28.05.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/045687
国際出願日 21.11.2019
IPC
G01N 23/20025 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
20008分析機器の構造の細部,例.X線源,検出器または光学系に特徴のあるもの;付属品;試料調製
20025そのための試料ホルダまたは試料支持部材
G01N 23/205 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
205回折カメラを用いるもの
G01N 23/207 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
207回折法,例.プローブを中心として1以上の移動可能な検出器を円周上に配置するもの
G01N 1/28 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
1サンプリング;調査用標本の調製
28調査用標本の調製
CPC
G01N 1/28
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
1Sampling; Preparing specimens for investigation
28Preparing specimens for investigation ; including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
G01N 23/20025
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
20008Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
20025Sample holders or supports therefor
G01N 23/205
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
205using diffraction cameras
G01N 23/207
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
出願人
  • 株式会社リガク RIGAKU CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 佐藤 孝 SATO Takashi
代理人
  • 福地 武雄 FUKUCHI Takeo
優先権情報
2018-21875122.11.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) SINGLE-CRYSTAL X-RAY STRUCTURAL ANALYSIS SYSTEM
(FR) SYSTÈME D'ANALYSE STRUCTURELLE AUX RAYONS X SUR MONOCRISTAL
(JA) 単結晶X線構造解析システム
要約
(EN)
Provided is a single-crystal X-ray structural analysis system that makes it possible to surely and easily perform an elaborate step for occluding a trace amount of sample into the skeleton of a fine crystal sponge. The single-crystal X-ray structural analysis system is provided with an occlusion device 500 and a single-crystal X-ray structural analysis device. The single-crystal X-ray structural analysis device is provided with: an X-ray source that generates X rays; a sample holder that holds a sample; a goniometer that has the sample holder mounted thereon so as to rotate the sample holder; an X-ray irradiation unit that irradiates the sample held by the sample holder mounted to the goniometer with X rays from the X-ray source; an X-ray detection measurement unit that detects and measures X rays diffracted or scattered by the sample; and a structural analysis unit that performs structural analysis of the sample on the basis of the diffracted or scattered X rays detected by the X-ray detection measurement unit. The sample holder includes a porous complex crystal capable of occluding the sample in a plurality of micropores formed inside. The occlusion device 500 occludes the sample in the porous complex crystal of the sample holder.
(FR)
L'invention concerne un système d'analyse structurelle aux rayons X sur monocristal qui permet de réaliser de manière sûre et facile une étape élaborée destinée à occlure une quantité trace d'échantillon dans le squelette d'une éponge de cristaux fins. Le système d'analyse structurelle aux rayons X sur monocristal est pourvu d'un dispositif d'occlusion 500 et d'un dispositif d'analyse structurelle aux rayons X sur monocristal. Le dispositif d'analyse structurelle aux rayons X sur monocristal est pourvu : d'une source de rayons X qui génère des rayons X ; d'un porte-échantillon qui supporte un échantillon ; d'un goniomètre sur lequel est monté le porte-échantillon de façon à faire tourner le porte-échantillon ; d'une unité d'irradiation de rayons X qui irradie l'échantillon supporté par le porte-échantillon monté sur le goniomètre avec des rayons X provenant de la source de rayons X ; d'une unité de mesure de détection de rayons X qui détecte et mesure les rayons X diffractés ou diffusés par l'échantillon ; et d'une unité d'analyse structurelle qui réalise une analyse structurelle de l'échantillon sur la base des rayons X diffractés ou dispersés détectés par l'unité de mesure de détection de rayons X. Le porte-échantillon comprend un cristal complexe poreux capable d'occlure l'échantillon dans une pluralité de micropores formés à l'intérieur de celui-ci. Le dispositif d'occlusion 500 occlue l'échantillon dans le cristal complexe poreux du porte-échantillon.
(JA)
微量な試料を微細な結晶スポンジの骨格内へ吸蔵する緻密な工程を確実かつ容易に行うことが可能にする単結晶X線構造解析システムを提供する。吸蔵装置500と、単結晶X線構造解析装置と、を備え、単結晶X線構造解析装置は、X線を発生するX線源と、試料を保持する試料ホルダと、試料ホルダを取り付けて回動するゴニオメータと、ゴニオメータに取り付けられた試料ホルダに保持された試料に対してX線源からのX線を照射するX線照射部と、試料により回折又は散乱されたX線を検出して測定するX線検出測定部と、X線検出測定部に検出された回折又は散乱X線に基づいて試料の構造解析を行なう構造解析部と、を備え、試料ホルダは、内部に形成された複数の微細孔に試料を吸蔵可能な細孔性錯体結晶を含み、吸蔵装置500は、試料を、試料ホルダの細孔性錯体結晶に吸蔵させる。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報