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1. WO2020105716 - 単結晶X線構造解析装置と方法、及び、そのための試料ホルダ

公開番号 WO/2020/105716
公開日 28.05.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/045685
国際出願日 21.11.2019
IPC
G01N 23/20025 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
20008分析機器の構造の細部,例.X線源,検出器または光学系に特徴のあるもの;付属品;試料調製
20025そのための試料ホルダまたは試料支持部材
G01N 23/205 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
205回折カメラを用いるもの
G01N 23/207 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
207回折法,例.プローブを中心として1以上の移動可能な検出器を円周上に配置するもの
G01N 1/28 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
1サンプリング;調査用標本の調製
28調査用標本の調製
CPC
G01N 1/28
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
1Sampling; Preparing specimens for investigation
28Preparing specimens for investigation ; including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
G01N 23/20025
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
20008Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
20025Sample holders or supports therefor
G01N 23/205
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
205using diffraction cameras
G01N 23/207
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
出願人
  • 株式会社リガク RIGAKU CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 佐藤 孝 SATO Takashi
代理人
  • 福地 武雄 FUKUCHI Takeo
優先権情報
2018-21781421.11.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) SINGLE-CRYSTAL X-RAY STRUCTURAL ANALYSIS DEVICE AND METHOD, AND SAMPLE HOLDER THEREFOR
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ANALYSE STRUCTURELLE AUX RAYONS X SUR MONOCRISTAL, ET PORTE-ÉCHANTILLON ASSOCIÉ
(JA) 単結晶X線構造解析装置と方法、及び、そのための試料ホルダ
要約
(EN)
Provided are a single-crystal X-ray structural analysis device that makes it possible to surely and easily perform single-crystal X-ray structural analysis using a crystal sponge, and a method and a sample holder therefor. The present invention is provided with: an X-ray source that generates X rays; a sample holder 250 that holds a sample; a goniometer that has the sample holder 250 mounted thereon so as to rotate the sample holder 250; an X-ray irradiation unit that irradiates the sample held by the sample holder 250 mounted to the goniometer with X rays from the X-ray source; an X-ray detection measurement unit that detects and measures X rays diffracted or scattered by the sample; a structural analysis unit that performs structural analysis of the sample on the basis of the diffracted or scattered X rays detected by the X-ray detection measurement unit. The sample holder 250 includes a porous complex crystal capable of occluding the sample in a plurality of micropores formed inside. In a state where the sample holder 250 is mounted to the goniometer, the porous complex crystal is fixed to a position of the sample holder 250 where X rays from the X-ray irradiation unit are emitted.
(FR)
L'invention se rapporte à un dispositif d'analyse structurelle aux rayons X sur monocristal qui permet d'effectuer de manière sûre et facile une analyse structurelle aux rayons X sur monocristal à l'aide d'une éponge cristalline, ainsi qu'à un procédé et à un porte-échantillon associés. La présente invention comprend : une source de rayons X qui génère des rayons X ; un porte-échantillon 250 qui supporte un échantillon ; un goniomètre sur lequel est monté le porte-échantillon 250 de façon à faire tourner le porte-échantillon 250 ; une unité d'irradiation de rayons X qui irradie l'échantillon supporté par le porte-échantillon 250 monté sur le goniomètre avec des rayons X provenant de la source de rayons X ; une unité de mesure de détection de rayons X qui détecte et mesure les rayons X diffractés ou diffusés par l'échantillon ; une unité d'analyse structurelle qui réalise une analyse structurelle de l'échantillon sur la base des rayons X diffractés ou dispersés détectés par l'unité de mesure de détection de rayons X. Le porte-échantillon 250 comprend un cristal complexe poreux capable d'occlure l'échantillon dans une pluralité de micropores formés à l'intérieur de celui-ci. Dans un état où le porte-échantillon 250 est monté sur le goniomètre, le cristal complexe poreux est fixé à un endroit du porte-échantillon 250 où les rayons X provenant de l'unité d'irradiation de rayons X sont émis.
(JA)
結晶スポンジを利用した単結晶X線構造解析を確実かつ容易に行うことを可能にする単結晶X線構造解析装置、更に、そのための方法や試料ホルダを提供する。X線を発生するX線源と、試料を保持する試料ホルダ250と、試料ホルダ250を取り付けて回動するゴニオメータと、ゴニオメータに取り付けられた試料ホルダ250に保持された試料に対してX線源からのX線を照射するX線照射部と、試料により回折又は散乱されたX線を検出して測定するX線検出測定部と、X線検出測定部に検出された回折又は散乱X線に基づいて試料の構造解析を行なう構造解析部と、を備え、試料ホルダ250は、内部に形成された複数の微細孔に試料を吸蔵可能な細孔性錯体結晶を含み、細孔性錯体結晶は、試料ホルダ250がゴニオメータに取り付けられた状態で、試料ホルダ250のX線照射部からのX線が照射される位置に固定されている。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報