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1. WO2020105525 - プローブ

公開番号 WO/2020/105525
公開日 28.05.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/044542
国際出願日 13.11.2019
IPC
G01R 1/067 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
1グループG01R5/00~G01R13/00またはG01R31/00に包含される型の機器または装置の細部
02一般的な構造の細部
06測定用導線;測定用探針
067測定用探針
G01R 1/073 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
1グループG01R5/00~G01R13/00またはG01R31/00に包含される型の機器または装置の細部
02一般的な構造の細部
06測定用導線;測定用探針
067測定用探針
073複合探針
H01R 13/631 2006.01
H電気
01基本的電気素子
R導電接続;互いに絶縁された多数の電気接続要素の構造的な集合体;嵌合装置;集電装置
13グループH01R12/70またはH01R24/00~H01R33/00に分類される種類の嵌合装置の細部
62接続部品の係合または解放を容易にしまたは係合を保持するための部材
629接続部品の係合または解放を容易にする付加的部材,例.整列させまたは案内する部材,レバー,ガス圧力
631係合のためのみのもの
H01R 43/00 2006.01
H電気
01基本的電気素子
R導電接続;互いに絶縁された多数の電気接続要素の構造的な集合体;嵌合装置;集電装置
43電線接続器または集電装置の製造,組立,保守または修理のためまたは導体接続のために特に採用される装置または方法
CPC
G01R 1/067
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
G01R 1/073
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
073Multiple probes
H01R 13/631
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
13Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
62Means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts or for holding them in engagement
629Additional means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts, e.g. aligning or guiding means, levers, gas pressure ; electrical locking indicators, manufacturing tolerances
631for engagement only
H01R 43/00
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
43Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
出願人
  • 株式会社村田製作所 MURATA MANUFACTURING CO., LTD. [JP]/[JP]
発明者
  • 末政 肇 SUEMASA, Hajime
  • 剱崎 真一 KENZAKI, Shinichi
代理人
  • 山尾 憲人 YAMAO, Norihito
  • 岡部 博史 OKABE, Hiroshi
優先権情報
2018-21667319.11.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) PROBE
(FR) SONDE
(JA) プローブ
要約
(EN)
This probe for inspecting characteristics of a connector is provided with a plunger, a coaxial cable, a flange, and a housing. An end part of one side of the housing has an expanded-diameter part where the diameter is expanded in the horizontal direction from a main body. An upper surface of the flange has formed thereon a concavity for enlarging a through hole in the horizontal direction so as to receive the expanded-diameter part of the housing. The expanded-diameter part has a side wall partially in contact with or facing an inside surface of the flange where the concavity is formed, and a bottom wall abutting against the upper surface of the flange where the concavity is formed. The expanded-diameter part has a connecting surface for connecting the side wall and the bottom wall, and the connecting surface is an inclined surface inclined inward toward the bottom wall from the side wall; or, the inside surface of the flange where the concavity is formed has a first surface that is inclined obliquely downward, and a vertical surface that extends downward from the first surface and is connected to the upper surface of the flange is a second surface.
(FR)
Cette sonde servant à inspecter des caractéristiques d'un connecteur est pourvue d'un plongeur, d'un câble coaxial, d'une bride et d'un boîtier. Une partie d'extrémité d'un côté du boîtier est pourvue d'une partie de diamètre étendu où le diamètre est étendu dans la direction horizontale à partir d'un corps principal. Une surface supérieure de la bride est pourvue d'une concavité permettant d'agrandir un trou traversant dans la direction horizontale de façon à recevoir la partie de diamètre étendu du boîtier. La partie de diamètre étendu est pourvue d'une paroi latérale partiellement en contact avec la bride ou faisant face à une surface intérieure de la bride où se forme la concavité, une paroi inférieure venant en butée contre la surface supérieure de la bride où se forme la concavité. La partie de diamètre étendu est pourvue d'une surface de liaison pour relier la paroi latérale et la paroi inférieure, et la surface de liaison est une surface inclinée vers l'intérieur en direction de la paroi inférieure à partir de la paroi latérale ; ou, la surface intérieure de la bride où se forme la concavité présente une première surface inclinée obliquement vers le bas, et une surface verticale s'étendant vers le bas à partir de la première surface reliée à la surface supérieure de la bride constitue une seconde surface.
(JA)
コネクタの特性検査を行うためのプローブは、プランジャと、同軸ケーブルと、フランジと、ハウジングとを備え、ハウジングの一方側の端部は、本体部から水平方向に拡径した拡径部を有し、フランジの上面には、ハウジングの拡径部を受けるように貫通孔を水平方向に拡大する凹部が形成されており、拡径部は、凹部を形成するフランジの内側面に部分的に接触又は対向する側壁と、凹部を形成するフランジの上面に当接する底壁とを有し、拡径部は、側壁と底壁とを接続する接続面を有し、接続面は、側壁から底壁に向かって内側に傾斜した傾斜面である、あるいは、凹部を形成するフランジの内側面は、斜め下方に傾斜した第1の面を有し、鉛直面は、第1の面から下方に延びてフランジの上面に接続される第2の面である。
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