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1. WO2020105255 - 温度測定装置の較正方法、温度測定装置の較正装置、物理量測定装置の較正方法、及び物理量測定装置の較正装置

公開番号 WO/2020/105255
公開日 28.05.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/036129
国際出願日 13.09.2019
IPC
G01J 5/00 2006.01
G物理学
01測定;試験
J赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
5放射温度計
G01J 5/60 2006.01
G物理学
01測定;試験
J赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
5放射温度計
50以下のサブグループに関する特別な技術によるもの
60色温度の測定によるもの
CPC
G01J 5/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
5Radiation pyrometry
G01J 5/60
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
5Radiation pyrometry
50using techniques specified in the subgroups below
60using determination of colour temperature ; Pyrometry using two wavelengths filtering; using selective, monochromatic or bandpass filtering; using spectral scanning
出願人
  • JFEスチール株式会社 JFE STEEL CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 剱持 光俊 KEMMOCHI, Mitsutoshi
代理人
  • 特許業務法人酒井国際特許事務所 SAKAI INTERNATIONAL PATENT OFFICE
優先権情報
2018-21784121.11.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE CALIBRATION METHOD, TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE CALIBRATION DEVICE, PHYSICAL QUANTITY MEASUREMENT DEVICE CALIBRATION METHOD, AND PHYSICAL QUANTITY MEASUREMENT DEVICE CALIBRATION DEVICE
(FR) PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE DE DISPOSITIF DE MESURE DE TEMPÉRATURE, DISPOSITIF D'ÉTALONNAGE DE DISPOSITIF DE MESURE DE TEMPÉRATURE, PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE DE DISPOSITIF DE MESURE DE QUANTITÉ PHYSIQUE ET DISPOSITIF D'ÉTALONNAGE DE DISPOSITIF DE MESURE DE QUANTITÉ PHYSIQUE
(JA) 温度測定装置の較正方法、温度測定装置の較正装置、物理量測定装置の較正方法、及び物理量測定装置の較正装置
要約
(EN)
This temperature measurement device calibration method includes a step for: using a temperature measurement device before a change and the temperature measurement device after the change to measure dark current data and spectrum information for the energy radiated by a blackbody furnace at each of a plurality of different temperatures; using the measured information to generate, from temperature measurement values measured for the temperature measurement device before the change by a contact thermometer and the spectrum information corresponding to the temperature measurement values, temperature measurement values measured for the temperature measurement device after the change using the contact thermometer and the spectrum information corresponding to the temperature measurement values; and using the generated information to determine a base spectrum and calibration curve for the temperature measurement device after the change.
(FR)
La présente invention concerne un procédé d'étalonnage de dispositif de mesure de température qui comprend une étape consistant à : utiliser un dispositif de mesure de température avant une variation et le dispositif de mesure de température après la variation pour mesurer des données de courant d'obscurité et des informations de spectre pour l'énergie rayonnée par un four à corps noir à chacune d'une pluralité de températures différentes ; utiliser les informations mesurées pour générer, à partir des valeurs de mesure de température mesurées pour le dispositif de mesure de température avant la variation par un thermomètre de contact et des informations de spectre correspondant aux valeurs de mesure de température, des valeurs de mesure de température mesurées pour le dispositif de mesure de température après la variation à l'aide du thermomètre de contact et des informations de spectre correspondant aux valeurs de mesure de température ; et utiliser les informations générées pour déterminer un spectre de base et une courbe d'étalonnage pour le dispositif de mesure de température après la variation.
(JA)
本発明に係る温度測定装置の較正方法は、変更前の温度測定装置及び変更後の温度測定装置において、異なる複数の温度毎に黒体炉の放射エネルギーの分光スペクトル情報及び暗電流データを測定し、測定された情報を用いて、変更前の温度測定装置において測定された接触式温度計による温度測定値と該温度測定値に対応する分光スペクトル情報から、変更後の温度測定装置についての接触式温度計を用いた温度測定値及び該温度測定値に対応する分光スペクトル情報を生成し、生成した情報を用いて変更後の温度測定装置における基底スペクトル及び検量線を決定するステップを含む。
他の公開
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