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1. WO2020100850 - 試験装置

公開番号 WO/2020/100850
公開日 22.05.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/044231
国際出願日 12.11.2019
IPC
G01R 31/00 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
G02F 1/13 2006.01
G物理学
02光学
F光の強度,色,位相,偏光または方向の制御,例.スイッチング,ゲーテイング,変調または復調のための装置または配置の媒体の光学的性質の変化により,光学的作用が変化する装置または配置;そのための技法または手順;周波数変換;非線形光学;光学的論理素子;光学的アナログ/デジタル変換器
1独立の光源から到達する光の強度,色,位相,偏光または方向の制御のための装置または配置,例.スィッチング,ゲーテイングまたは変調;非線形光学
01強度,位相,偏光または色の制御のためのもの
13液晶に基づいたもの,例.単一の液晶表示セル
出願人
  • 株式会社エンプラス ENPLAS CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 山田 隆之 YAMADA, Takayuki
代理人
  • 特許業務法人鷲田国際特許事務所 WASHIDA & ASSOCIATES
優先権情報
2018-21201112.11.2018JP
2018-23091310.12.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) TEST DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE TEST
(JA) 試験装置
要約
(EN)
Provided is a test device which makes it possible for electrical testing of a circuit board to be performed more easily. This test device is provided with: a main body portion (10) including a board guide (12) for guiding a circuit board (20) to a mounting position in a direction in which a board surface of the circuit board (20) extends, and a terminal guide groove (11) which guides a connection terminal (23) to a prescribed position when the circuit board (20) is being guided by the board guide (12); a leading unit (13) which leads the connection terminal (23) to the terminal guide groove (11) side when the connection terminal (23) is being guided through the board guide (12); a fixing unit (14) which positions and fixes the connection terminal (23) that has been guided to the prescribed position; and an electrically conductive contact (15) which is electrically connected to the connection terminal (23) that has been guided to the prescribed position.
(FR)
L'invention concerne un dispositif de test qui permet de réaliser plus facilement un test électrique d'une carte de circuit imprimé. Ce dispositif de test comprend : une portion de corps principal (10) comprenant un guide-carte (12) destiné à guider une carte de circuit imprimé (20) vers une position de montage dans une direction dans laquelle s'étend une surface de la carte de circuit imprimé (20), et une rainure de guidage de borne (11) qui guide une borne de connexion (23) vers une position prescrite lorsque la carte de circuit imprimé (20) est guidée par le guide-carte (12) ; une unité de conduite (13) qui conduit la borne de connexion (23) vers le côté de la rainure de guidage de borne (11) lorsque la borne de connexion (23) est guidée à travers le guide-carte (12) ; une unité de fixation (14) qui positionne et fixe la borne de connexion (23) qui a été guidée vers la position prescrite ; et un contact électriquement conducteur (15) qui est relié électriquement à la borne de connexion (23) qui a été guidée vers la position prescrite.
(JA)
より簡易に、回路基板の電気的試験を行うことを可能とする試験装置を提供する。試験装置は、回路基板(20)を、当該回路基板(20)の基板面の延在方向に沿って載置位置に案内する基板ガイド(12)、及び、回路基板(20)が基板ガイド(12)によって案内されるときに、接続端子(23)を所定位置に案内する端子ガイド溝(11)を有する本体部(10)と、接続端子(23)が基板ガイド(12)内を案内されるときに、接続端子(23)を端子ガイド溝(11)側に誘導する誘導部(13)と、所定位置に案内された接続端子(23)を位置決め固定する固定部(14)と、所定位置に案内された接続端子(23)と電気接続する導電性接触子(15)と、を備える。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報