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1. WO2020095679 - プローブピンおよび検査治具

公開番号 WO/2020/095679
公開日 14.05.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/041489
国際出願日 23.10.2019
IPC
G01R 1/067 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
1グループG01R5/00~G01R13/00またはG01R31/00に包含される型の機器または装置の細部
02一般的な構造の細部
06測定用導線;測定用探針
067測定用探針
G01R 1/073 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
1グループG01R5/00~G01R13/00またはG01R31/00に包含される型の機器または装置の細部
02一般的な構造の細部
06測定用導線;測定用探針
067測定用探針
073複合探針
H01R 13/24 2006.01
H電気
01基本的電気素子
R導電接続;互いに絶縁された多数の電気接続要素の構造的な集合体;嵌合装置;集電装置
13グループH01R12/70またはH01R24/00~H01R33/00に分類される種類の嵌合装置の細部
02接触部材
22接合接触により共働するための接触子
24弾性的なもの;弾性的に取り付けられたもの
出願人
  • オムロン株式会社 OMRON CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 笹野 直哉 SASANO, Naoya
  • 寺西 宏真 TERANISHI, Hirotada
  • 酒井 貴浩 SAKAI, Takahiro
代理人
  • 山尾 憲人 YAMAO, Norihito
  • 和田 充夫 WADA, Mitsuo
優先権情報
2018-21079708.11.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) PROBE PIN AND INSPECTION JIG
(FR) BROCHE DE SONDE ET GABARIT D'INSPECTION
(JA) プローブピンおよび検査治具
要約
(EN)
This probe pin comprises: an elastic part which is elastically deformable in a first direction; and a connection part which is provided at one end of the elastic part in the first direction, and to which a conductor part of an electric wire is able to be connected.
(FR)
L'invention concerne une broche de sonde qui comprend : une partie élastique qui est élastiquement déformable dans une première direction ; et une partie de liaison qui est disposée à une extrémité de la partie élastique dans la première direction, et à laquelle une partie conductrice d'un fil électrique est apte à être connectée.
(JA)
プローブピンが、第1方向に沿って弾性変形可能な弾性部と、弾性部の第1方向の一端に設けられ、電線の導体部を接続可能な接続部とを備える。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報