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1. WO2020084890 - X線分析装置及びX線発生ユニット

公開番号 WO/2020/084890
公開日 30.04.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/033399
国際出願日 27.08.2019
IPC
G01N 23/223 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
22材料からの二次放射の測定によるもの
223X線またはガンマ線を試料に照射して蛍光X線を測定するもの
G21K 1/02 2006.01
G物理学
21核物理;核工学
K他に分類されない粒子線または電離放射線の取扱い技術;照射装置;ガンマ線またはX線顕微鏡
1粒子または電離放射線の取扱い装置,例.集束または減速
02絞り,コリメーターを用いるもの
G21K 1/06 2006.01
G物理学
21核物理;核工学
K他に分類されない粒子線または電離放射線の取扱い技術;照射装置;ガンマ線またはX線顕微鏡
1粒子または電離放射線の取扱い装置,例.集束または減速
06回折,屈折または反射を用いるもの,例.モノクロメーター
G21K 5/02 2006.01
G物理学
21核物理;核工学
K他に分類されない粒子線または電離放射線の取扱い技術;照射装置;ガンマ線またはX線顕微鏡
5照射装置
02ビーム形成手段をもたないもの
G21K 5/08 2006.01
G物理学
21核物理;核工学
K他に分類されない粒子線または電離放射線の取扱い技術;照射装置;ガンマ線またはX線顕微鏡
5照射装置
08照射されるターゲットまたは物体の保持具
H05G 1/00 2006.01
H電気
05他に分類されない電気技術
GX線技術
1X線管を含むX線装置;そのための回路
出願人
  • 株式会社堀場製作所 HORIBA, LTD. [JP]/[JP]
発明者
  • 青山 朋樹 AOYAMA, Tomoki
代理人
  • 河野 英仁 KOHNO, Hideto
  • 河野 登夫 KOHNO, Takao
優先権情報
2018-20122125.10.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) X-RAY ANALYSIS DEVICE AND X-RAY GENERATION UNIT
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE DE RAYONS X ET UNITÉ DE GÉNÉRATION DE RAYONS X
(JA) X線分析装置及びX線発生ユニット
要約
(EN)
Provided are an X-ray analysis device and X-ray generation unit that make it possible to reduce scanning time. The X-ray analysis device comprises the X-ray generation unit. The X-ray generation unit comprises a target plate having a target that is irradiated with an electron beam from an electron beam source and generates X-rays, an X-ray concentration element that moves together with the target plate and concentrates the X-rays generated by the target, and a drive unit for changing the position of the target plate or X-ray concentration element in relation to the electron beam source.
(FR)
L'invention concerne un dispositif d'analyse de rayons X et une unité de génération de rayons X qui permettent de réduire le temps de balayage. Le dispositif d'analyse de rayons X comprend l'unité de génération de rayons X. L'unité de génération de rayons X comprend une plaque cible ayant une cible qui est irradiée avec un faisceau d'électrons à partir d'une source de faisceau d'électrons et génère des rayons X, un élément de concentration de rayons X qui se déplace conjointement avec la plaque cible et concentre les rayons X générés par la cible, et une unité d'entraînement pour modifier la position de la plaque cible ou de l'élément de concentration de rayons X par rapport à la source de faisceau d'électrons.
(JA)
走査時間を短くすることができるX線分析装置及びX線発生ユニットを提供する。 X線分析装置は、X線発生ユニットを備え、X線発生ユニットは、電子線源から電子線が照射されてX線を発生するターゲットを有するターゲットプレートと、ターゲットプレートの動きに連動し、ターゲットから発生するX線を集光するX線集光素子と、電子線源に対してターゲットプレート又は前記X線集光素子の位置を変える駆動部とを備える。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報