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1. WO2020075480 - 計測装置、計測方法、プログラム

公開番号 WO/2020/075480
公開日 16.04.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/037020
国際出願日 20.09.2019
IPC
G01N 21/27 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
27光電検出器を用いるもの
G01D 21/00 2006.01
G物理学
01測定;試験
D特に特定の変量に適用されない測定;単一のほかのサブクラスに包含されない2つ以上の変量を測定する装置;料金計量装置;特に特定の変量に適用されない伝達または変換装置;他に分類されない測定または試験
21他に分類されない測定または試験
G06M 15/00 2011.01
G物理学
06計算;計数
M計数機構;他に分類されない対象物の計数
15他に分類されない物品の計数
G06T 7/00 2017.01
G物理学
06計算;計数
Tイメージデータ処理または発生一般
7イメージ分析
A01G 3/02 2006.01
A生活必需品
01農業;林業;畜産;狩猟;捕獲;漁業
G園芸;野菜,花,稲,果樹,ぶどう,ホップ,または海草の栽培;林業;灌水
3園芸に特に適合した切り取り用具;立木の枝払い
02剪定鋏;花または果実鋏
CPC
A01G 3/02
AHUMAN NECESSITIES
01AGRICULTURE; FORESTRY; ANIMAL HUSBANDRY; HUNTING; TRAPPING; FISHING
GHORTICULTURE; CULTIVATION OF VEGETABLES, FLOWERS, RICE, FRUIT, VINES, HOPS OR SEAWEED; FORESTRY; WATERING
3Cutting implements specially adapted for horticultural purposes; Delimbing standing trees
02Secateurs; Flower or fruit shears
G01D 21/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
21Measuring or testing not otherwise provided for
G01N 21/27
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
27using photo-electric detection
G06T 7/00
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
出願人
  • ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 磯部 裕史 ISOBE, Hiroshi
  • 椛澤 秀年 KABASAWA, Hidetoshi
  • 氏家 一朗 UJIIE, Ichiro
  • 増野 智経 MASUNO, Tomonori
代理人
  • 岩田 雅信 IWATA, Masanobu
  • 中川 裕人 NAKAGAWA, Hiroto
優先権情報
2018-19317812.10.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT METHOD, AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF DE MESURE, PROCÉDÉ DE MESURE ET PROGRAMME
(JA) 計測装置、計測方法、プログラム
要約
(EN)
This measurement device or measurement method is configured so that an information processing device performs a process in which a cluster of grapes to be measured is specified on the basis of a detection that the cluster of grapes has been gripped by a gripping element, and a process in which measurement is started of the number of berries in the specified cluster of grapes.
(FR)
La présente invention concerne un dispositif de mesure ou un procédé de mesure conçu de sorte qu'un dispositif de traitement d'informations mette en œuvre un traitement durant lequel une grappe de raisins à mesurer est spécifiée sur la base d'une détection de la saisie de la grappe de raisins par un élément de saisie, et un traitement durant lequel est démarrée une mesure du nombre de grains de la grappe de raisins spécifiée.
(JA)
計測装置又は計測方法として、把持体によるブドウの房の把持の検出に基づいて計測対象となるブドウの房を特定する処理と、特定されたブドウの房の粒数の計測を開始する処理と、を情報処理装置が行うようにする。
他の公開
EP2019870052
国際事務局に記録されている最新の書誌情報