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1. WO2020075293 - ダイクロイックミラーアレイ及び光検出装置

公開番号 WO/2020/075293
公開日 16.04.2020
国際出願番号 PCT/JP2018/038131
国際出願日 12.10.2018
予備審査請求日 23.07.2019
IPC
G01J 3/36 2006.01
G物理学
01測定;試験
J赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
3分光測定;分光光度測定;モノクロメータ;色の測定
28スペクトルの調査
30スペクトル上で直接スペクトル線強度を測定するもの
36別々の検出器によるスペクトル中の2以上のバンドの調査
G01N 21/64 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
62調査される材料が励起され,それにより光を発しまたは入射光の波長に変化を生ずるシステム
63光学的励起
64蛍光;燐光
G02B 27/10 2006.01
G物理学
02光学
B光学要素,光学系,または光学装置
27他の光学系;他の光学装置
10光束分割系または合成系
CPC
G01J 3/36
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
28Investigating the spectrum
30Measuring the intensity of spectral lines directly on the spectrum itself
36Investigating two or more bands of a spectrum by separate detectors
G01N 21/64
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
64Fluorescence; Phosphorescence
G02B 27/10
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
27Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
10Beam splitting or combining systems
出願人
  • 株式会社日立ハイテク HITACHI HIGH-TECH CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 穴沢 隆 ANAZAWA Takashi
  • 伊名波 良仁 INABA Ryoji
  • 山本 周平 YAMAMOTO Shuhei
  • 中澤 太朗 NAKAZAWA Taro
代理人
  • 特許業務法人平木国際特許事務所 HIRAKI & ASSOCIATES
優先権情報
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) DICHROIC MIRROR ARRAY AND LIGHT DETECTING DEVICE
(FR) RÉSEAU DE MIROIRS DICHROÏQUES ET DISPOSITIF DE DÉTECTION DE LUMIÈRE
(JA) ダイクロイックミラーアレイ及び光検出装置
要約
(EN)
A dichroic mirror array according to the present disclosure is provided with, with respect to a right-handed XYZ cartesian coordinate system: a first group in which m (m≥2) dichroic mirrors DA1-DAm are arranged parallel to each other in the positive direction of the X-axis; and a second group in which n (n≥2) dichroic mirrors DB1-DBn are arranged parallel to each other in the negative direction of the X-axis. Incident surfaces of DA1-DAm and DB1-DBn are perpendicular to the XZ plane. In addition, the slopes of straight lines, formed by projecting the normal lines of the incident surfaces of DA1-DAm onto the XZ plane, are negative, and the slopes of straight lines, formed by projecting the normal lines of the incident surfaces of DB1-DBn onto the XZ plane, are positive.
(FR)
La présente invention concerne un réseau de miroirs dichroïques comprenant, par rapport à un système de coordonnées cartésiennes XYZ droitier : un premier groupe dans lequel m (m ≥2) miroirs dichroïques DA1 à DAm sont agencés parallèlement les uns aux autres dans la direction positive de l'axe X; et un second groupe dans lequel n (n ≥2) miroirs dichroïques DB1 à DBn sont disposés parallèlement les uns aux autres dans la direction négative de l'axe X. Les surfaces incidentes de DA1 à DAm et de DB1 à DBn sont perpendiculaires au plan XZ. De plus, les pentes des lignes droites, formées par la projection des lignes normales des surfaces incidentes de DA1 à DAm sur le plan XZ, sont négatives, et les pentes des lignes droites, formées par la projection des lignes normales des surfaces incidentes de DB1 à DBn sur le plan XZ, sont positives.
(JA)
本開示のダイクロイックミラーアレイは、右手系XYZ直交座標系において、m個(m≧2)のダイクロイックミラーDA1~DAmがX軸の正方向に沿って互いに平行に配列する第1のグループと、n個(n≧2)のダイクロイックミラーDB1~DBnがX軸の負方向に沿って互いに平行に配列する第2のグループと、を備える。DA1~DAmの入射面及びDB1~DBnの入射面は、XZ平面に垂直である。また、DA1~DAmの入射面の法線をXZ平面に投影した直線のXZ平面における傾きが負であり、DB1~DBnの入射面の法線をXZ平面に投影した直線のXZ平面における傾きが正である。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報