処理中

しばらくお待ちください...

設定

設定

Goto Application

1. WO2020066100 - 蛍光X線分析装置

公開番号 WO/2020/066100
公開日 02.04.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/017172
国際出願日 23.04.2019
IPC
G01N 23/223 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
22材料からの二次放射の測定によるもの
223X線またはガンマ線を試料に照射して蛍光X線を測定するもの
G01N 23/2209 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
22材料からの二次放射の測定によるもの
2209波長分散型分光法を用いるもの
CPC
G01N 23/2209
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
22by measuring secondary emission from the material
2209using wavelength dispersive spectroscopy [WDS]
G01N 23/223
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
22by measuring secondary emission from the material
223by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
出願人
  • 株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 秋山 剛志 AKIYAMA, Goshi
代理人
  • 特許業務法人深見特許事務所 FUKAMI PATENT OFFICE, P.C.
優先権情報
2018-18465728.09.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER
(FR) SPECTROMÈTRE À FLUORESCENCE X
(JA) 蛍光X線分析装置
要約
(EN)
This X-ray fluorescence spectrometer (10) is provided with spectral diffractors (25A, 25B), detectors (30A, 30B), a measuring chamber (40), an exhaust device (45), and a control device (50). The measuring chamber (40) has housed therein: a sample (20) subject to analysis; the spectral diffractors (25A, 25B); and the detectors (30A, 30B). The exhaust device (45) evacuates air from the atmosphere inside the measuring chamber (40). The control device (50) measures an intensity of X-ray fluorescence on the basis of detection values of the detectors (30A, 30B). Further, the control device (50) makes a correction to the measured X-ray fluorescence intensity on the basis of the energy of the X-ray fluorescence and the pressure inside the measuring chamber (40).
(FR)
L'invention concerne un spectromètre à fluorescence X (10) pourvu de diffracteurs spectraux (25A, 25B), de détecteurs (30A, 30B), d'une chambre de mesure (40), d'un dispositif d'échappement (45) et d'un dispositif de commande (50). La chambre de mesure (40) contient : un échantillon (20) soumis à une analyse ; les diffracteurs spectraux (25A, 25B) ; et les détecteurs (30A, 30B). Le dispositif d'échappement (45) évacue l'air de l'atmosphère contenu à l'intérieur de la chambre de mesure (40). Le dispositif de commande (50) mesure une intensité de fluorescence X sur la base de valeurs de détection des détecteurs (30A, 30B). En outre, le dispositif de commande (50) effectue une correction de l'intensité de fluorescence X mesurée sur la base de l'énergie de la fluorescence X et de la pression à l'intérieur de la chambre de mesure (40).
(JA)
蛍光X線分析装置(10)は、分光器(25A,25B)と、検出器(30A,30B)と、計測室(40)と、排気装置(45)と、制御装置(50)とを備える。分析対象の試料(20)、並びに分光器(25A,25B)及び検出器(30A,30B)は、計測室(40)内に格納されている。排気装置(45)は、計測室(40)内の雰囲気を排気する。制御装置(50)は、検出器(30A,30B)の検出値に基づいて蛍光X線の強度を測定する。そして、制御装置(50)は、蛍光X線のエネルギーと計測室(40)内の圧力とに基づいて、測定された蛍光X線の強度を補正する。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報