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1. WO2020027043 - 非破壊検査方法、非破壊検査システム及び非破壊検査プログラム

公開番号 WO/2020/027043
公開日 06.02.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/029636
国際出願日 29.07.2019
IPC
G01N 27/83 2006.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
72磁気変量の調査によるもの
82きずの調査用
83漂遊磁場の調査によるもの
G01R 33/10 2006.1
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
33磁気的変量を測定する計器または装置
02磁界または磁束の方向または大きさの測定
10磁界分布をプロットするもの
G01R 33/12 2006.1
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
33磁気的変量を測定する計器または装置
12物品または固体もしくは流体の標本の磁気的性質の測定
CPC
G01N 27/83
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
27Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
72by investigating magnetic variables
82for investigating the presence of flaws
83by investigating stray magnetic fields
G01R 33/10
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
10Plotting field distribution ; ; Measuring field distribution
G01R 33/12
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
12Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
出願人
  • コニカミノルタ株式会社 KONICA MINOLTA, INC. [JP]/[JP]
発明者
  • 丸山 一直 MARUYAMA, Kazunao
  • 森田 博 MORITA, Hiroshi
  • 橋本 好之 HASHIMOTO, Yoshiyuki
  • 高 清 KOH, Sei
代理人
  • 特許業務法人光陽国際特許事務所 KOYO INTERNATIONAL PATENT FIRM
優先権情報
2018-14467101.08.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) NON-DESTRUCTIVE INSPECTION METHOD, NON-DESTRUCTIVE INSPECTION SYSTEM, AND NON-DESTRUCTIVE INSPECTION PROGRAM
(FR) PROCÉDÉ D'INSPECTION NON DESTRUCTIVE, SYSTÈME D'INSPECTION NON DESTRUCTIVE, ET PROGRAMME D'INSPECTION NON DESTRUCTIVE
(JA) 非破壊検査方法、非破壊検査システム及び非破壊検査プログラム
要約
(EN) A magnetic field application unit (3) that generates a prescribed magnetic field and executes: a first step in which a magnetic field distribution (data with magnet) is obtained along an extension direction X for a measurement target (8) and in accordance with the distance from a magnetic field application unit in a region adjacent to the magnetic field application unit on an outer surface of a non-magnetic body, in a state in which a magnetic field is applied to the measurement target from a position adjacent to the measurement target on the outer surface of the nonmagnetic body; a second step in which a magnetic field distribution (data without magnet) is obtained under conditions in which the magnetic field applied to the measurement target by the magnetic field application unit in the first step is removed, said magnetic field distribution being a set of the same distribution points as the magnetic field distribution in the first step; and a third step in which the magnetic field distribution is reconfigured by using the difference or ratio, etc., on the basis of the magnetic field distribution obtained in the first step and the magnetic field distribution obtained in the second step.
(FR) L'invention concerne une unité d'application de champ magnétique (3) qui génère un champ magnétique prescrit et exécute : une première étape lors de laquelle une distribution de champ magnétique (données avec aimant) est obtenue le long d'une direction d'extension X pour une cible de mesure (8) et en fonction de la distance depuis une unité d'application de champ magnétique dans une région adjacente à l'unité d'application de champ magnétique sur une surface externe d'un corps non magnétique, dans un état dans lequel un champ magnétique est appliqué à la cible de mesure à partir d'une position adjacente à la cible de mesure sur la surface externe du corps non magnétique ; une deuxième étape lors de laquelle une distribution de champ magnétique (données sans aimant) est obtenue dans des conditions dans lesquelles le champ magnétique appliqué à la cible de mesure par l'unité d'application de champ magnétique dans la première étape est retiré, ladite distribution de champ magnétique étant un ensemble des mêmes points de distribution que la distribution de champ magnétique lors de la première étape ; et une troisième étape lors de laquelle la distribution de champ magnétique est reconfigurée à l'aide de la différence ou du rapport, etc. sur la base de la distribution de champ magnétique obtenue lors de la première étape et de la distribution de champ magnétique obtenue lors de la deuxième étape.
(JA) 所定の磁場を発生する磁場印加ユニット(3)により、非磁性体の外表面の計測対象物(8)に近接した位置から当該計測対象物に磁場を印加した状態で、前記外表面上で磁場印加ユニットに隣接した領域の磁場印加ユニットからの距離に応じた当該計測対象物の延在方向Xに沿った磁場分布(磁石ありデータ)を取得する第1ステップと、第1ステップに対し磁場印加ユニットによる計測対象物への印加磁場が除外された条件下で、第1ステップの磁場分布と同分布点の集合である磁場分布(磁石なしデータ)を取得する第2ステップと、第1ステップにより取得した磁場分布と第2ステップにより取得した磁場分布とに基づき、差分や比率をとることなどで磁場分布を再構成する第3ステップとを実行する。
関連特許文献
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