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1. (WO2020012707) 3次元測定装置及び方法
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国際公開番号: WO/2020/012707 国際出願番号: PCT/JP2019/009289
国際公開日: 16.01.2020 国際出願日: 08.03.2019
IPC:
G01B 11/25 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11
光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
24
輪郭または曲率の測定用
25
対象物にパターン,例.モアレ縞,を投影することによるもの
出願人:
オムロン株式会社 OMRON CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市下京区塩小路通堀川東入南不動堂町801番地 801, Minamifudodo-cho, Horikawahigashiiru, Shiokoji-dori, Shimogyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6008530, JP
発明者:
付 星斗 FU, Xingdou; JP
苗 林 MIAO, Lin; JP
代理人:
稲葉 良幸 INABA, Yoshiyuki; JP
大貫 敏史 ONUKI, Toshifumi; JP
優先権情報:
2018-13007709.07.2018JP
発明の名称: (EN) THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT DEVICE AND METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE TRIDIMENSIONNELLE
(JA) 3次元測定装置及び方法
要約:
(EN) The present invention improves the accuracy with which the three-dimensional shape of an object to be measured is measured, while preventing a reduction in operability and processing efficiency. The three-dimensional measurement device comprises: a light projection and imaging part comprising at least a first unit, which has a first light projection part that projects a first pattern light onto the object being measured and has a first imaging part that captures an image of the object being measured from a first imaging direction, and a second unit, which has a second light projection part that projects a second pattern light onto the object being measured and has a second imaging part that captures an image of the object being measured from a second imaging direction; and a calculation part that calculates the three-dimensional position of a target pixel on the basis of a prescribed pattern that has been stored and a prescribed pattern in a captured image of the object being measured. The light projection and imaging part individually projects each of the first pattern light and the second pattern light onto the object being measured, and uses the first imaging part and the second imaging part to capture images of the object being measured onto which the pattern light was projected.
(FR) La présente invention améliore la précision avec laquelle la forme tridimensionnelle d'un objet à mesurer est mesurée, tout en empêchant une réduction de l'exploitabilité et de l'efficacité de traitement. Le dispositif de mesure tridimensionnelle comprend : une partie de projection de lumière et d'imagerie comprenant au moins une première unité, qui a une première partie de projection de lumière qui projette une première lumière de motif sur l'objet mesuré et a une première partie d'imagerie qui capture une image de l'objet qui est mesuré à partir d'une première direction d'imagerie, et une seconde unité, qui a une seconde partie de projection de lumière qui projette une seconde lumière de motif sur l'objet qui est mesuré et a une seconde partie d'imagerie qui capture une image de l'objet qui est mesuré à partir d'une seconde direction d'imagerie ; et une partie de calcul qui calcule la position tridimensionnelle d'un pixel cible sur la base d'un motif prescrit qui a été stocké et d'un motif prescrit dans une image capturée de l'objet qui est mesuré. La partie de projection de lumière et d'imagerie projette individuellement chacune de la première lumière de motif et de la seconde lumière de motif sur l'objet qui est mesuré, et utilise la première partie d'imagerie et la seconde partie d'imagerie pour capturer des images de l'objet qui est mesuré sur lequel la lumière de motif a été projetée.
(JA) 測定対象物の3次元形状の測定精度を向上させつつ、操作性及び処理効率の低下を防止する。3次元測定装置は、第1パターン光を測定対象物に投影する第1投光部、及び、測定対象物を第1撮像方向から撮像する第1撮像部を有する第1ユニットと、第2パターン光を測定対象物に投影する第2投光部、及び、測定対象物を第2撮像方向から撮像する第2撮像部を有する第2ユニットとを、少なくとも備える投光撮像部と、測定対象物の撮像画像における所定のパターンと、記憶された所定のパターンとに基づいて、対象画素の3次元位置を算出する算出部とを備える。そして、投光撮像部は、測定対象物に対し、第1パターン光及び第2パターン光をそれぞれ個別に投影し、各パターン光がそれぞれ投影された測定対象物を、第1撮像部及び第2撮像部で撮像する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)