国際・国内特許データベース検索
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1. (WO2020012276) 半導体装置
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国際公開番号: WO/2020/012276 国際出願番号: PCT/IB2019/055369
国際公開日: 16.01.2020 国際出願日: 26.06.2019
IPC:
H01L 29/786 (2006.01) ,G02F 1/1368 (2006.01) ,H01L 21/28 (2006.01) ,H01L 21/308 (2006.01) ,H01L 21/336 (2006.01) ,H01L 27/32 (2006.01) ,H01L 29/423 (2006.01) ,H01L 29/49 (2006.01) ,H01L 51/50 (2006.01) ,H05B 33/14 (2006.01)
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
29
整流,増幅,発振またはスイッチングに特に適用される半導体装置であり,少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有するもの;少なくとも1つの電位障壁または表面障壁,例.PN接合空乏層またはキャリア集中層,を有するコンデンサーまたは抵抗器;半導体本体または電極の細部整流,増幅,発振またはスイッチングに特に適用される半導体装置であり,少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有するもの;少なくとも1つの電位障壁または表面障壁,例.PN接合空乏層またはキャリア集中層,を有するコンデンサーまたは抵抗器;半導体本体または電極の細部(31/00~47/00,51/05が優先;半導体本体または電極以外の細部23/00;1つの共通基板内または上に形成された複数の固体構成部品からなる装置27/00
66
半導体装置の型
68
整流,増幅またはスイッチされる電流を流さない電極に電流のみまたは電位のみを与えることにより制御できるもの
76
ユニポーラ装置
772
電界効果トランジスタ
78
絶縁ゲートによって生じる電界効果を有するもの
786
薄膜トランジスタ
G 物理学
02
光学
F
光の強度,色,位相,偏光または方向の制御,例.スイッチング,ゲーテイング,変調または復調のための装置または配置の媒体の光学的性質の変化により,光学的作用が変化する装置または配置;そのための技法または手順;周波数変換;非線形光学;光学的論理素子;光学的アナログ/デジタル変換器
1
独立の光源から到達する光の強度,色,位相,偏光または方向の制御のための装置または配置,例.スィッチング,ゲーテイングまたは変調;非線形光学
01
強度,位相,偏光または色の制御のためのもの
13
液晶に基づいたもの,例.単一の液晶表示セル
133
構造配置;液晶セルの作動;回路配置
136
半導体の層または基板と構造上組み合された液晶セル,例.集積回路の一部を構成するセル
1362
アクティブマトリックスセル
1368
スイッチング素子が三端子の素子であるもの
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
21
半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置
02
半導体装置またはその部品の製造または処理
04
少なくとも一つの電位障壁または表面障壁,例.PN接合,空乏層,キャリア集中層,を有する装置
18
不純物,例.ドーピング材料,を含むまたは含まない周期律表第IV族の元素またはA↓I↓I↓IB↓V化合物から成る半導体本体を有する装置
28
21/20~21/268に分類されない方法または装置を用いる半導体本体上への電極の製造
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
21
半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置
02
半導体装置またはその部品の製造または処理
04
少なくとも一つの電位障壁または表面障壁,例.PN接合,空乏層,キャリア集中層,を有する装置
18
不純物,例.ドーピング材料,を含むまたは含まない周期律表第IV族の元素またはA↓I↓I↓IB↓V化合物から成る半導体本体を有する装置
30
21/20~21/26に分類されない方法または装置を用いる半導体本体の処理
302
表面の物理的性質または形状を変換するため,例.エッチング,ポリシング,切断
306
化学的または電気的処理,例.電解エッチング
308
マスクを用いるもの
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
21
半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置
02
半導体装置またはその部品の製造または処理
04
少なくとも一つの電位障壁または表面障壁,例.PN接合,空乏層,キャリア集中層,を有する装置
18
不純物,例.ドーピング材料,を含むまたは含まない周期律表第IV族の元素またはA↓I↓I↓IB↓V化合物から成る半導体本体を有する装置
334
ユニポーラ型の装置の製造のための多段階工程
335
電界効果トランジスタ
336
絶縁ゲートを有するもの
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
27
1つの共通基板内または上に形成された複数の半導体構成部品または他の固体構成部品からなる装置
28
能動部分として有機材料を用い,または能動部分として有機材料と他の材料との組み合わせを用いる構成部品を含むもの
32
光放出に特に適用される構成部品を有するもの,例.有機発光ダイオードを使用したフラットパネル・ディスプレイ
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
29
整流,増幅,発振またはスイッチングに特に適用される半導体装置であり,少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有するもの;少なくとも1つの電位障壁または表面障壁,例.PN接合空乏層またはキャリア集中層,を有するコンデンサーまたは抵抗器;半導体本体または電極の細部整流,増幅,発振またはスイッチングに特に適用される半導体装置であり,少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有するもの;少なくとも1つの電位障壁または表面障壁,例.PN接合空乏層またはキャリア集中層,を有するコンデンサーまたは抵抗器;半導体本体または電極の細部(31/00~47/00,51/05が優先;半導体本体または電極以外の細部23/00;1つの共通基板内または上に形成された複数の固体構成部品からなる装置27/00
40
電極
41
その形状,相対的大きさまたは配置に特徴のあるもの
423
整流,増幅またはスイッチされる電流を流さないもの
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
29
整流,増幅,発振またはスイッチングに特に適用される半導体装置であり,少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有するもの;少なくとも1つの電位障壁または表面障壁,例.PN接合空乏層またはキャリア集中層,を有するコンデンサーまたは抵抗器;半導体本体または電極の細部整流,増幅,発振またはスイッチングに特に適用される半導体装置であり,少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有するもの;少なくとも1つの電位障壁または表面障壁,例.PN接合空乏層またはキャリア集中層,を有するコンデンサーまたは抵抗器;半導体本体または電極の細部(31/00~47/00,51/05が優先;半導体本体または電極以外の細部23/00;1つの共通基板内または上に形成された複数の固体構成部品からなる装置27/00
40
電極
43
構成材料に特徴のあるもの
49
金属-絶縁半導体電極
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
51
能動部分として有機材料を用い,または能動部分として有機材料と他の材料との組み合わせを用いる固体装置;このような装置またはその部品の製造または処理に特に適用される方法または装置
50
光放出に特に適用されるもの,例.有機発光ダイオード(OLED)または高分子発光ダイオード(PLED)
H 電気
05
他に分類されない電気技術
B
電気加熱;他に分類されない電気照明
33
エレクトロルミネッセンス光源
12
実質的に2次元放射面をもつ光源
14
エレクトロルミネッセンス材料の配置あるいは化学的または物理的組成によって特徴づけられたもの
出願人:
株式会社半導体エネルギー研究所 SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD. [JP/JP]; 神奈川県厚木市長谷398 398, Hase, Atsugi-shi, Kanagawa 2430036, JP
発明者:
佐藤来 SATO, Rai; JP
神長正美 JINTYOU, Masami; null
土橋正佳 DOBASHI, Masayoshi; --
白石孝 SHIRAISHI, Takashi; --
優先権情報:
2018-12988109.07.2018JP
2018-14172027.07.2018JP
発明の名称: (EN) SEMICONDUCTOR DEVICE
(FR) DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR
(JA) 半導体装置
要約:
(EN) Provided is a transistor for which shape defects do not occur easily. Provided is the transistor having excellent electrical characteristics. Provided is a semiconductor device having excellent electrical characteristics. A semiconductor device having a transistor, wherein the transistor has a semiconductor layer, a first insulative layer, a metal oxide layer, a functional layer, and a conductive layer, the first insulative layer is positioned on the semiconductor layer, the metal oxide layer is positioned on the first insulative layer, the functional layer is positioned on the metal oxide layer, the conductive layer is positioned on the functional layer, the semiconductor layer, the first insulative layer, the metal oxide layer, the functional layer, and the conductive layer have mutually overlapping regions, in the channel length direction of the transistor, the end parts of the first insulative layer, the metal oxide layer, the functional layer, and the conductive layer are positioned further to the inside than the end part of the semiconductor layer, and with the functional layer, the etching rate for an etchant having one or more of a phosphoric acid, an acetic acid, a nitric acid, a hydrochloric acid, or a sulfuric acid is slower than the etching rate of the conductive layer.
(FR) L'invention concerne un transistor pour lequel des défauts de forme ne se produisent pas facilement. Le transistor décrit présente d'excellentes caractéristiques électriques. L'invention concerne également un dispositif à semi-conducteur présentant d'excellentes caractéristiques électriques. Le dispositif à semi-conducteur comprend un transistor ; le transistor comprend une couche semi-conductrice, une première couche isolante, une couche d'oxyde métallique, une couche fonctionnelle et une couche conductrice, la première couche isolante est positionnée sur la couche semi-conductrice, la couche d'oxyde métallique est positionnée sur la première couche isolante, la couche fonctionnelle est positionnée sur la couche d'oxyde métallique, la couche conductrice est positionnée sur la couche fonctionnelle, la couche semi-conductrice, la première couche isolante, la couche d'oxyde métallique, la couche fonctionnelle et la couche conductrice présentent des régions se chevauchant, dans la direction de la longueur du canal du transistor, les parties d'extrémité de la première couche isolante, de la couche d'oxyde métallique, de la couche fonctionnelle et de la couche conductrice sont positionnées davantage vers l'intérieur que la partie d'extrémité de la couche semi-conductrice, et en ce qui concerne la couche fonctionnelle, la vitesse de gravure par un agent de gravure comprenant un ou plusieurs acides parmi l'acide phosphorique, l'acide acétique, l'acide nitrique, l'acide chlorhydrique et l'acide sulfurique est plus lente que la vitesse de gravure de la couche conductrice.
(JA) 形状不良の起こりにくいトランジスタを提供する。電気特性の良好なトランジスタを提供する。電気特性の良好な半導体装置を提供する。トランジスタを有し、トランジスタは、半導体層と、第1の絶縁層と、金属酸化物層と、機能層と、 導電層と、を有し、第1の絶縁層は、半導体層上に位置し、金属酸化物層は、第1の絶縁層上に位置し、機能層は、金属酸化物層上に位置し、導電層は、機能層上に位置し、半導体層、第1の絶縁層、 金属酸化物層、機能層及び導電層は、 互いに重なる領域を有し、トランジスタのチャネル長方向において、 第1の絶縁層、 金属酸化物層、 機能層及び導電層の端部は、半導体層の端部よりも内側に位置し、機能層は、リン酸、酢酸、硝酸、塩酸又は硫酸の一以上を有するエッチャントにおけるエッチング速度が、導電層のエッチング速度より遅い半導体装置とする。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)