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1. (WO2020004068) 検査装置、検査システム、検査方法、検査プログラム及び記録媒体
国際事務局に記録されている最新の書誌情報第三者情報を提供

国際公開番号: WO/2020/004068 国際出願番号: PCT/JP2019/023558
国際公開日: 02.01.2020 国際出願日: 13.06.2019
IPC:
G01N 23/04 (2018.01) ,G01N 23/18 (2018.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23
グループG01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
02
放射線の材料透過によるもの
04
映像形成
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23
グループG01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
02
放射線の材料透過によるもの
06
吸収の測定
08
電気的検出手段の利用
18
きずまたは介在物の存在の調査
出願人:
株式会社イシダ ISHIDA CO., LTD. [JP/JP]; 京都府京都市左京区聖護院山王町44番地 44 Sanno-cho, Shogoin, Sakyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6068392, JP
発明者:
廣瀬 修 HIROSE Osamu; JP
代理人:
長谷川 芳樹 HASEGAWA Yoshiki; JP
黒木 義樹 KUROKI Yoshiki; JP
柴山 健一 SHIBAYAMA Kenichi; JP
優先権情報:
2018-12425829.06.2018JP
発明の名称: (EN) INSPECTION DEVICE, INSPECTION SYSTEM, INSPECTION METHOD, INSPECTION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION, SYSTÈME D'INSPECTION, PROCÉDÉ D'INSPECTION, PROGRAMME D'INSPECTION ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT
(JA) 検査装置、検査システム、検査方法、検査プログラム及び記録媒体
要約:
(EN) Provided is an X-ray inspection device 10 comprising: an X-ray irradiation unit 15 that irradiates an article A with X-rays; an X-ray detection unit 16 that detects X-rays transmitted through the article A; a processing unit 21 that carries out pixel number reduction processing on a transparent image G1 that is created from the detection result of the X-ray detection unit 16 and creates a reduced image G2; an acquisition unit 22 that acquires a processing result of performing processing by a learned model generated by machine learning on the reduced image G2 that is generated by the processing unit 21; and an inspection unit 23 that inspects the article A on the basis of the processing result that is acquired by the acquisition unit 22.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'inspection à rayons X (10) comprenant : une unité d'émission de rayons X (15) qui émet des rayons X en direction d'un article A ; une unité de détection de rayons X (16) qui détecte les rayons X transmis à travers l'article A ; une unité de traitement (21) qui effectue un traitement de réduction du nombre de pixels sur une image transparente (G1) qui est créée à partir du résultat de détection de l'unité de détection de rayons X (16) et crée une image réduite (G2) ; une unité d'acquisition (22) qui acquiert un résultat de traitement d'exécution d'un traitement par un modèle entraîné généré par apprentissage automatique sur l'image réduite (G2) qui est générée par l'unité de traitement (21) ; et une unité d'inspection (23) qui inspecte l'article A sur la base du résultat de traitement qui est acquis par l'unité d'acquisition (22).
(JA) X線検査装置10は、物品AにX線を照射するX線照射部15と、物品Aを透過したX線を検出するX線検出部16と、X線検出部16の検出結果から作成された透過画像G1に対して画素数の縮小処理を施して、縮小画像G2を作成する処理部21と、処理部21によって作成された縮小画像G2に対して、機械学習によって生成された学習済モデルによる処理を行った処理結果を取得する取得部22と、取得部22によって取得された処理結果に基づいて、物品Aの検査を行う検査部23と、を備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)