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1. (WO2020003917) 欠陥表示装置及び方法
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国際公開番号: WO/2020/003917 国際出願番号: PCT/JP2019/022148
国際公開日: 02.01.2020 国際出願日: 04.06.2019
IPC:
G01N 23/04 (2018.01) ,G01N 23/18 (2018.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23
グループG01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
02
放射線の材料透過によるもの
04
映像形成
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23
グループG01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
02
放射線の材料透過によるもの
06
吸収の測定
08
電気的検出手段の利用
18
きずまたは介在物の存在の調査
出願人:
富士フイルム株式会社 FUJIFILM CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西麻布2丁目26番30号 26-30, Nishiazabu 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1068620, JP
発明者:
金子 康彦 KANEKO, Yasuhiko; JP
代理人:
松浦 憲三 MATSUURA, Kenzo; JP
優先権情報:
2018-12490329.06.2018JP
発明の名称: (EN) DEFECT DISPLAY DEVICE AND METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'AFFICHAGE DE DÉFAUT
(JA) 欠陥表示装置及び方法
要約:
(EN) Provided are a defect display device and a method that make it possible to, for a radiation transmission image of an industrial product (inspection subject) such as a casting, execute display for assisting with the determination of the severity of a defect of an industrial product without interfering with the reading of the radiation transmission image. This defect display device is provided with: an image acquisition unit that acquires a radiation transmission image captured by causing radiation rays to pass through an inspection subject; a defect information acquisition unit that acquires defect information indicating a defect of the inspection subject detected from the radiation transmission image; a display unit that displays the radiation transmission image on a screen; an input unit that accepts instruction input from a user; and a display control unit that, on the basis of the defect information, generates an outline corresponding to the distribution of a plurality of defects among the defects of the inspection subject, displays the outline on the screen, and changes the display of the outline in accordance with an outline generation condition received by the input unit.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'affichage de défaut et un procédé qui permettent, pour une image de transmission de rayonnement d'un produit industriel (sujet d'inspection) tel qu'un moulage, d'exécuter un affichage pour aider à la détermination de la gravité d'un défaut d'un produit industriel sans interférer avec la lecture de l'image de transmission de rayonnement. Ce dispositif d'affichage de défaut est pourvu : d'une unité d'acquisition d'image, qui acquiert une image de transmission de rayonnement, prise lorsque des rayons de rayonnement sont amenés à traverser un sujet d'inspection; une unité d'acquisition d'informations de défaut, qui acquiert des informations de défaut indiquant un défaut du sujet d'inspection détecté à partir de l'image de transmission de rayonnement; une unité d'affichage, qui affiche l'image de transmission de rayonnement sur un écran; une unité d'entrée, qui accepte une entrée d'instruction provenant d'un utilisateur; et une unité de commande d'affichage qui, en fonction des informations de défaut, génère un contour correspondant à la distribution d'une pluralité de défauts parmi les défauts du sujet d'inspection, affiche le contour sur l'écran et change l'affichage du contour en fonction d'une condition de production de contour reçue par l'unité d'entrée.
(JA) 鋳造品等の工業製品(被検体)の放射線透過画像において、工業製品の重症度の判定を支援するための表示を、放射線透過画像の読影を妨げることなく行うことが可能な欠陥表示装置及び方法を提供する。欠陥表示装置は、被検体に放射線を透過させて撮像した放射線透過画像を取得する画像取得部と、放射線透過画像から検出された被検体の欠陥を示す欠陥情報を取得する欠陥情報取得部と、放射線透過画像を画面に表示させる表示部と、ユーザからの指示入力を受け付ける入力部と、欠陥情報に基づいて、被検体の欠陥のうち複数の欠陥の分布に対応する輪郭線を生成して画面に表示させ、入力部により受け付けた輪郭線の生成条件に応じて輪郭線の表示を変化させる表示制御部とを備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)