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1. (WO2020003491) 支持部材配置支援装置、印刷機、印刷システム、支持部材配置支援方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報第三者情報を提供

国際公開番号: WO/2020/003491 国際出願番号: PCT/JP2018/024796
国際公開日: 02.01.2020 国際出願日: 29.06.2018
IPC:
H05K 3/34 (2006.01) ,H05K 13/04 (2006.01)
H 電気
05
他に分類されない電気技術
K
印刷回路;電気装置の箱体または構造的細部,電気部品の組立体の製造
3
印刷回路を製造するための装置または方法
30
電気部品,例.抵抗器,を印刷回路に取り付けること
32
印刷回路に対する電気部品または電線の電気的接続
34
ハンダ付けによるもの
H 電気
05
他に分類されない電気技術
K
印刷回路;電気装置の箱体または構造的細部,電気部品の組立体の製造
13
電気部品の組立体の製造または調整に特に適した装置または方法
04
部品の取り付け
出願人:
ヤマハ発動機株式会社 YAMAHA HATSUDOKI KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 静岡県磐田市新貝2500番地 2500, Shingai, Iwata-shi, Shizuoka 4388501, JP
発明者:
藤本 猛志 FUJIMOTO, Takeshi; JP
代理人:
振角 正一 FURIKADO, Shoichi; JP
大西 一正 OHNISHI, Kazumasa; JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) SUPPORT MEMBER PLACEMENT ASSISTANCE DEVICE, PRINTER, PRINTING SYSTEM, AND SUPPORT MEMBER PLACEMENT ASSISTANCE METHOD
(FR) DISPOSITIF D'AIDE AU PLACEMENT D'ÉLÉMENT DE SUPPORT, IMPRIMANTE, SYSTÈME D'IMPRESSION ET PROCÉDÉ D'AIDE AU PLACEMENT D'ÉLÉMENT DE SUPPORT
(JA) 支持部材配置支援装置、印刷機、印刷システム、支持部材配置支援方法
要約:
(EN) Inspection-related information I related to print inspection for inspecting the quality of a solder D printed on a substrate B is acquired. Also, the placement mode of a backup pin P that supports the substrate B is calculated according to the inspection-related information I. As a result, when placing the backup pin P that supports the substrate B, it is possible to lighten the burden on the worker examining the placement mode of the backup pin P.
(FR) Selon la présente invention, des informations relatives à l'inspection (I) relatives à l'inspection d'impression pour inspecter la qualité d'une soudure (D) imprimée sur un substrat (B) sont acquises. En outre, le mode de placement d'une broche de secours (P) qui soutient le substrat (B) est calculé en fonction des informations d'inspection (I). En conséquence, lors de la mise en place de la broche de secours (P) qui soutient le substrat (B), il est possible d'alléger la charge sur le travailleur examinant le mode de placement de la broche de secours (P).
(JA) 基板Bに印刷された半田Dの良否を検査する印刷検査に関連する検査関連情報Iが取得される。そして、基板Bを支持するバックアップピンPの配置態様が、検査関連情報Iに応じて算出される。その結果、基板Bを支持するバックアップピンPを配置するに際して、バックアップピンPの配置態様を検討する作業者の負担を軽減することが可能となっている。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)