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1. (WO2020003384) 平坦度取得システムおよび実装機
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国際公開番号: WO/2020/003384 国際出願番号: PCT/JP2018/024223
国際公開日: 02.01.2020 国際出願日: 26.06.2018
IPC:
G01B 11/24 (2006.01) ,G01B 11/30 (2006.01) ,H05K 13/08 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11
光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
24
輪郭または曲率の測定用
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11
光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
30
表面の粗さまたは不規則性測定用
H 電気
05
他に分類されない電気技術
K
印刷回路;電気装置の箱体または構造的細部,電気部品の組立体の製造
13
電気部品の組立体の製造または調整に特に適した装置または方法
08
組立体の製造の監視
出願人:
株式会社FUJI FUJI CORPORATION [JP/JP]; 愛知県知立市山町茶碓山19番地 19, Chausuyama, Yama-machi, Chiryu-shi, Aichi 4728686, JP
発明者:
天野 雅史 AMANO, Masafumi; JP
横井 勇太 YOKOI, Yuta; JP
代理人:
特許業務法人中部国際特許事務所 CHUBU PATENT OFFICE; 愛知県名古屋市中村区名駅南1丁目24番30号 名古屋三井ビルディング本館 10階 Nagoya Mitsui-Bldg. Honkan 10th Floor, 24-30, Meiekiminami 1-chome, Nakamura-ku, Nagoya-shi, Aichi 4500003, JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) FLATNESS ACQUISITION SYSTEM AND MOUNTING MACHINE
(FR) SYSTÈME D'ACQUISITION DE PLANÉITÉ ET MACHINE DE MONTAGE
(JA) 平坦度取得システムおよび実装機
要約:
(EN) The present invention is an improvement of a flatness acquisition system, and addresses the problem of satisfactorily acquiring the flatness of an objective part of an object even when a portion of the objective part of the object is outside the depth of field of an imaging device. In this flatness acquisition system, the relative positions of an imaging device and an object holder for retaining the object, in a first direction parallel to an axis line of the imaging device, are changed when a first portion of the objective part of the object is imaged and when a second portion thereof is imaged. For example, when a portion of the objective part of the object is outside the depth of field of the imaging device, the relative positions of the object holder and the imaging device in the first direction can be changed so that the first portion including the portion of the objective part of the object is positioned within the depth of field. As a result, a captured image that is satisfactory even in the first portion can be acquired, and the flatness of the objective part can be satisfactorily acquired.
(FR) La présente invention est une amélioration d'un système d'acquisition de planéité, et aborde le problème de l'acquisition satisfaisante de la planéité d'une partie objectif d'un objet même lorsqu'une partie de la partie objectif de l'objet est à l'extérieur de la profondeur de champ d'un dispositif d'imagerie. Dans ledit système d'acquisition de planéité, les positions relatives d'un dispositif d'imagerie et d'un support d'objet permettant de retenir l'objet, dans une première direction parallèle à une ligne d'axe du dispositif d'imagerie, sont modifiées lorsqu'une première partie de la partie objectif de l'objet est imagée et lorsqu'une seconde partie de celle-ci est imagée. Par exemple, lorsqu'une partie de la partie objectif de l'objet est en dehors de la profondeur de champ du dispositif d'imagerie, les positions relatives du support d'objet et du dispositif d'imagerie dans la première direction peuvent être modifiées de sorte que la première partie comprenant la partie de la partie objectif de l'objet soit positionnée à l'intérieur de la profondeur de champ. Par conséquent, une image capturée qui est satisfaisante même dans la première partie peut être acquise, et la planéité de la partie objectif peut être acquise de manière satisfaisante.
(JA) 本開示の課題は、平坦度取得システムの改良であり、物体の対象部の一部が撮像装置の被写界深度から外れている場合であっても、物体の対象部の平坦度を良好に取得することである。本平坦度取得システムにおいては、物体を保持する物体保持具と撮像装置との間の、撮像装置の軸線と平行な方向である第1方向の相対位置が、物体の対象部の第1部分を撮像する場合と第2部分を撮像する場合とで変更させられる。例えば、物体の対象部の一部が撮像装置の被写界深度から外れている場合において、その一部を含む第1部分が被写界深度内に位置するように、物体保持部と撮像装置との第1方向における相対位置を変更させることができる。その結果、第1部分についても良好な撮像画像を取得することができ、対象部の平坦度を良好に取得することができる。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
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アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)