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1. (WO2019067796) PATH RESOLVED OPTICAL SAMPLING ARCHITECTURES
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国際公開番号: WO/2019/067796 国際出願番号: PCT/US2018/053237
国際公開日: 04.04.2019 国際出願日: 27.09.2018
IPC:
G01N 21/49 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
47
散乱,すなわち拡散反射
49
物体内部または流体内部
出願人:
MASSETA TECHNOLOGIES LLC [US/US]; Corporation Trust Center 1209 Orange Street Wilmington, Delaware 19801, US
発明者:
代理人:
NGUYEN, Jean; US
優先権情報:
62/565,78929.09.2017US
発明の名称: (EN) PATH RESOLVED OPTICAL SAMPLING ARCHITECTURES
(FR) ARCHITECTURES D'ÉCHANTILLONNAGE OPTIQUE DE CHEMIN DE RÉSOLUTION
要約:
(EN) Described here are optical sampling architectures and methods for operation thereof. An optical sampling architecture can be capable of emitting a launch sheet light beam towards a launch region and receiving a detection sheet light beam from a detection region. The launchregion can have one dimension that is elongated relative to another dimension. The detection region can also have one dimension elongated relative to another dimension such that the system can selectively accept light having one or more properties (e.g., angle of incidence, beam size, beam shape, etc.). In some examples, the elongated dimension of the detection region can be greater than the elongated dimension of the launch region. In some examples, the system can include an outcoupler array and associated components for creating a launch sheet light beam having light rays with different in-plane launch positions and/or in-plane launch angles.
(FR) La présente invention a trait à des architectures d'échantillonnage optique et à des procédés de fonctionnement associés. Une architecture d'échantillonnage optique peut émettre un faisceau lumineux de feuille de lancement vers une région de lancement et recevoir un faisceau lumineux de feuille de détection en provenance d'une région de détection. La zone de lancement peut avoir une dimension qui est allongée par rapport à une autre dimension. La région de détection peut également avoir une dimension allongée par rapport à une autre dimension de telle sorte que le système puisse accepter de manière sélective de la lumière ayant une ou plusieurs propriétés (par exemple un angle d'incidence, une taille de faisceau, une forme de faisceau, etc.). Dans certains exemples, la dimension allongée de la région de détection peut être supérieure à la dimension allongée de la région de lancement. Dans certains exemples, ce système peut inclure un réseau de coupleurs de sortie et des composants associés permettant de créer un faisceau lumineux de feuille de lancement qui possède des rayons lumineux ayant différentes positions de lancement dans le plan et/ou différents angles de lancement dans le plan.
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 英語 (EN)
国際出願言語: 英語 (EN)