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1. (WO2019065174) 時間計測デバイスおよび時間計測装置
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国際公開番号: WO/2019/065174 国際出願番号: PCT/JP2018/033381
国際公開日: 04.04.2019 国際出願日: 10.09.2018
IPC:
G01S 7/486 (2006.01) ,G01S 17/89 (2006.01) ,H01L 31/10 (2006.01) ,H01L 31/107 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
S
無線による方位測定;無線による航行;電波の使用による距離または速度の決定;電波の反射または再輻射を用いる位置測定または存在探知;その他の波を用いる類似の装置
7
グループ13/00,15/00,17/00による方式の細部
48
グループ17/00による方式のもの
483
パルス方式の細部
486
受信機
G 物理学
01
測定;試験
S
無線による方位測定;無線による航行;電波の使用による距離または速度の決定;電波の反射または再輻射を用いる位置測定または存在探知;その他の波を用いる類似の装置
17
電波以外の電磁波の反射または再放射を使用する方式,例.ライダー方式
88
特定の応用に特に適合したライダー方式
89
マッピングまたはイメージング用のもの
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
31
赤外線,可視光,短波長の電磁波,または粒子線輻射に感応する半導体装置で,これらの輻射線エネルギーを電気的エネルギーに変換するかこれらの輻射線によって電気的エネルギーを制御かのどちらかに特に適用されるもの;それらの装置またはその部品の製造または処理に特に適用される方法または装置;それらの細部
08
輻射線が装置内を流れる電流を制御するもの,例.光―抵抗器(フォト―レジスター)
10
少なくとも1つの電位障壁または表面障壁に特徴のあるもの,例.フォトトランジスタ
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
31
赤外線,可視光,短波長の電磁波,または粒子線輻射に感応する半導体装置で,これらの輻射線エネルギーを電気的エネルギーに変換するかこれらの輻射線によって電気的エネルギーを制御かのどちらかに特に適用されるもの;それらの装置またはその部品の製造または処理に特に適用される方法または装置;それらの細部
08
輻射線が装置内を流れる電流を制御するもの,例.光―抵抗器(フォト―レジスター)
10
少なくとも1つの電位障壁または表面障壁に特徴のあるもの,例.フォトトランジスタ
101
赤外線,可視光線または紫外線の放射に感応する装置
102
唯一の電位障壁または表面障壁に特徴のあるもの
107
電位障壁がアバランシェモードで作用するもの,例.アバランシェフォトダイオード
出願人:
ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION [JP/JP]; 神奈川県厚木市旭町四丁目14番1号 4-14-1, Asahicho, Atsugi-shi, Kanagawa 2430014, JP
発明者:
長谷川 浩一 HASEGAWA, Koichi; JP
代理人:
特許業務法人つばさ国際特許事務所 TSUBASA PATENT PROFESSIONAL CORPORATION; 東京都新宿区新宿1丁目15番9号さわだビル3階 3F, Sawada Building, 15-9, Shinjuku 1-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600022, JP
優先権情報:
2017-19030429.09.2017JP
発明の名称: (EN) TIME MEASUREMENT DEVICE AND TIME MEASUREMENT APPARATUS
(FR) DISPOSITIF DE MESURE TEMPORELLE ET APPAREIL DE MESURE TEMPORELLE
(JA) 時間計測デバイスおよび時間計測装置
要約:
(EN) The purpose of the present invention is to provide a time measurement device which can easily lay out a circuit. The time measurement device (20) of the present invention is provided with: a plurality of pixels (30) which are provided side by side in a first direction and each of which includes a single photon avalanche diode (SPAD) formed on a first semiconductor substrate, and generate a first logic signal (S35) according to a detection timing in the single photo avalanche diode (SPAD); and a time measurement unit (24) which is formed on a second semiconductor substrate affixed to the first semiconductor substrate and measures a detection timing in each of the plurality of pixels (30). Among the plurality of pixels (30), each of pixels other than a first pixel which is disposed on one end in the first direction generates an output signal on the basis of an output signal of one pixel other than said each pixel and the first logic signal (S35) generated in said each pixel. The time measurement unit (24) measures the detection timing in each of the plurality of pixels (30) on the basis of an output signal of a second pixel disposed on the other end in the first direction among the plurality of pixels (30). The time measurement device (20) of the present invention can be applied to, for example, a distance measurement device.
(FR) Le but de la présente invention est de fournir un dispositif de mesure temporelle permettant de configurer facilement un circuit. Le dispositif de mesure temporelle (20) de la présente invention comprend : une pluralité de pixels (30) situés côte à côte dans une première direction, chaque pixel comprenant une photodiode à avalanche à photon unique (SPAD) formée sur un premier substrat semi-conducteur, et générant un premier signal logique (S35) en fonction d'une synchronisation de détection dans la photodiode à avalanche à photon unique (SPAD); et une unité de mesure temporelle (24) formée sur un second substrat semi-conducteur fixé au premier substrat semi-conducteur et mesurant une synchronisation de détection dans chaque pixel de la pluralité de pixels (30). Parmi la pluralité de pixels (30), chacun des pixels autres qu'un premier pixel qui est disposé sur une extrémité dans la première direction génère un signal de sortie en fonction d'un signal de sortie d'un pixel autre que chacun desdits pixels et que le premier signal logique (S35) généré dans chacun desdits pixels. L'unité de mesure temporelle (24) mesure la synchronisation de détection dans chaque pixel de la pluralité de pixels (30) en fonction d'un signal de sortie d'un second pixel disposé sur l'autre extrémité dans la première direction parmi la pluralité de pixels (30). Le dispositif de mesure temporelle de la présente invention peut s'appliquer, par exemple, à un dispositif de télémétrie.
(JA) 本発明は、回路のレイアウトをしやすい時間計測デバイスを提供することを目的とする。 本発明の時間計測デバイス(20)は、第1の方向に並設され、それぞれが、第1の半導体基板に形成されたシングルフォトンアバランシェダイオード(SPAD)を含み、シングルフォトンアバランシェダイオード(SPAD)における検出タイミングに応じた第1の論理信号(S35)を生成する複数の画素(30)と、第1の半導体基板に貼り合わせられた第2の半導体基板に形成され、複数の画素(30)のそれぞれにおける検出タイミングを計測する時間計測部(24)とを備える。上記複数の画素(30)のうちの第1の方向の一端に配置された第1の画素以外の各画素は、その画素以外の一の画素の出力信号と、その画素において生成された第1の論理信号(S35)とに基づいて、出力信号を生成し、時間計測部(24)は、複数の画素(30)のうちの第1の方向の他端に配置された第2の画素の出力信号に基づいて、複数の画素(30)のそれぞれにおける検出タイミングを計測する。 本発明の時間計測デバイス(20)は、例えば、距離計測デバイスに応用できる。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)