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1. (WO2019065057) 分析装置
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国際公開番号: WO/2019/065057 国際出願番号: PCT/JP2018/031943
国際公開日: 04.04.2019 国際出願日: 29.08.2018
IPC:
G01N 21/64 (2006.01) ,G01N 21/05 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
62
調査される材料が励起され,それにより光を発しまたは入射光の波長に変化を生ずるシステム
63
光学的励起
64
蛍光;燐光
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
01
光学的調査を容易に行なうための配置または装置
03
キュベット構造
05
フロースルーキュベット
出願人:
株式会社日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西新橋一丁目24番14号 24-14, Nishi-Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP
発明者:
穴沢 隆 ANAZAWA Takashi; JP
山崎 基博 YAMAZAKI Motohiro; JP
中澤 太朗 NAKAZAWA Taro; JP
藤岡 満 FUJIOKA Michiru; JP
代理人:
特許業務法人磯野国際特許商標事務所 ISONO INTERNATIONAL PATENT OFFICE, P.C.; 東京都港区虎ノ門一丁目1番18号 ヒューリック虎ノ門ビル Hulic Toranomon Building, 1-18, Toranomon 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1050001, JP
優先権情報:
2017-19170529.09.2017JP
発明の名称: (EN) ANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE
(JA) 分析装置
要約:
(EN) In order to avoid crosstalk between formed images using a simple method, the present invention is characterized by having an optical system (P) through which light emitted from a plurality of light-emitting points passes, and a measuring unit for measuring light which has been formed into images by the optical system (P), wherein among the light-emitting points, the middle point between any two light-emitting points is offset from a center (CA) of the optical system (P). More specifically, this analysis device is characterized in that the center (CA) of the optical system (P) exists outside of light-emitting point groups which are aggregates of a plurality of light-emitting points E. With this configuration, a main image (M) and a ghost image (G) are separated from each other, and thus it is possible to avoid crosstalk caused by ghosting and to correctly analyze light emissions from the plurality of light-emitting points (E).
(FR) Afin d'éviter une diaphonie entre des images formées à l'aide d'un procédé simple, la présente invention comprend un système optique (P) à travers lequel passe la lumière émise par une pluralité de points d'émission de lumière, et une unité de mesure permettant de mesurer la lumière ayant été formée en images par le système optique (P). Parmi les points d'émission de lumière, le point médian entre deux points d'émission de lumière quelconques est décalé par rapport à un centre (CA) du système optique (P). Plus particulièrement, ledit dispositif d'analyse est caractérisé en ce que le centre (CA) du système optique (P) est situé à l'extérieur de groupes de points d'émission de lumière constituant des agrégats d'une pluralité de points d'émission de lumière E. Grâce à cette configuration, une image principale (M) et une image fantôme (G) sont séparées l'une de l'autre, ce qui permet d'éviter une diaphonie provoquée par un fantôme et d'analyser correctement les émissions de lumière provenant de la pluralité de points d'émission de lumière (E).
(JA) 簡易な手法で結像画像間のクロストークを回避するため、複数の発光点から発せられた光が通過する光学系(P)と、光学系(P)によって結像された光を計測する計測部と、を有し、発光点のうち、任意の2つの発光点の中点が、光学系(P)の中心(CA)からずれていることを特徴とする。より具体的には、複数の発光点Eの集合体である発光点群の外側に光学系(P)の中心(CA)が存在することを特徴とする。以上の構成により、メイン像(M)と、ゴースト像(G)が分離されるため、ゴーストによるクロストークを回避することができ、複数の発光点(E)からの発光を正しく分析することができる。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)