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1. (WO2019064824) X線分析用信号処理装置及びX線分析用信号処理装置の調整方法
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国際公開番号: WO/2019/064824 国際出願番号: PCT/JP2018/026307
国際公開日: 04.04.2019 国際出願日: 12.07.2018
IPC:
G01N 23/2252 (2018.01) ,G01T 1/17 (2006.01) ,G01T 1/36 (2006.01)
[IPC code unknown for G01N 23/2252]
G 物理学
01
測定;試験
T
原子核放射線またはX線の測定
1
X線,ガンマ線,微粒子線または宇宙線の測定
16
放射線強度の測定
17
特殊な型式の検出器に適合しない回路構成
G 物理学
01
測定;試験
T
原子核放射線またはX線の測定
1
X線,ガンマ線,微粒子線または宇宙線の測定
36
X線または核放射線のスペクトル分布の測定
出願人:
株式会社リガク RIGAKU CORPORATION [JP/JP]; 東京都昭島市松原町3丁目9番12号 3-9-12, Matsubara-cho, Akishima-shi, Tokyo 1968666, JP
発明者:
多田 勉 TADA, Tsutomu; JP
迫 幸雄 SAKO, Yukio; JP
代理人:
特許業務法人はるか国際特許事務所 HARUKA PATENT & TRADEMARK ATTORNEYS; 東京都千代田区六番町3 六番町SKビル5階 Rokubancho SK Bldg. 5th Floor, 3, Rokubancho, Chiyoda-ku, Tokyo 1020085, JP
優先権情報:
2017-19020129.09.2017JP
発明の名称: (EN) SIGNAL PROCESSING DEVICE FOR X-RAY ANALYSIS AND ADJUSTMENT METHOD OF SIGNAL PROCESSING DEVICE FOR X-RAY ANALYSIS
(FR) DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE SIGNAL POUR ANALYSE DE RAYONS X ET PROCÉDÉ DE RÉGLAGE DE DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE SIGNAL POUR ANALYSE DE RAYONS X
(JA) X線分析用信号処理装置及びX線分析用信号処理装置の調整方法
要約:
(EN) Provided are a signal processing device for X-ray analysis and an adjustment method of a signal processing device for X-ray analysis which are capable of correcting a time constant with high accuracy, and simply and swiftly performing an adjustment operation for the correction. The signal processing device for X-ray analysis (100) is characterized by including: a differentiation circuit (106) which converts a signal output from an X-ray detector (102) into a differentiation wave, which is an analog signal, by using a first time constant; an AD converter (108) which converts the differentiation wave that is the analog signal into a differentiation wave that is a digital signal; a waveform shaping digital filter (116) which shapes the differentiation wave, which is the digital signal, by using a second time constant; and a histogram generation unit (119) which acquires feature values of the shaped waveform and generates a histogram which represents an acquisition frequency for each of the feature values on the basis of the peak values of at least two areas of the shaped waveform.
(FR) L'invention concerne un dispositif de traitement de signal pour une analyse de rayons X et un procédé de réglage d'un dispositif de traitement de signal pour une analyse de rayons X permettant de corriger une constante temporelle avec une précision élevée, et de réaliser simplement et rapidement une opération de réglage pour la correction. Le dispositif de traitement de signal d'analyse de rayons X (100) comprend : un circuit de différenciation (106) qui convertit un signal émis par un détecteur de rayons X (102) en une onde de différenciation, qui constitue un signal analogique, à l'aide d'une première constante temporelle ; un convertisseur A/N (108) qui convertit l'onde de différenciation constituant le signal analogique en une onde de différenciation qui constitue un signal numérique ; un filtre numérique de façonnage de forme d'onde (116) qui façonne l'onde de différenciation, constituant le signal numérique, à l'aide d'une seconde constante temporelle ; et une unité de génération d'histogramme (119) qui acquiert des valeurs de caractéristique de la forme d'onde façonnée et génère un histogramme qui représente une fréquence d'acquisition pour chacune des valeurs de caractéristique en fonction des valeurs de pic d'au moins deux zones de la forme d'onde façonnée.
(JA) 時定数の補正を高精度に行えるとともに、当該補正するための調整作業が簡易かつ迅速にできるX線分析用信号処理装置及びX線分析用信号処理装置の調整方法を提供する。X線分析用信号処理装置(100)であって、X線検出器(102)から出力された信号を、第1時定数を用いてアナログ信号である微分波に変換する微分回路(106)と、前記アナログ信号である微分波をデジタル信号である微分波に変換するAD変換器(108)と、第2時定数を用いて、前記デジタル信号である微分波を整形する波形整形デジタルフィルタ(116)と、整形された波形の少なくとも2か所の領域の波高値に基づいて、前記整形された波形の特徴値を取得し、前記特徴値毎の取得頻度を表すヒストグラムを生成するヒストグラム生成部(119)と、を有することを特徴とする。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)