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1. (WO2019064810) 外観検査装置及び外観検査方法
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国際公開番号: WO/2019/064810 国際出願番号: PCT/JP2018/026003
国際公開日: 04.04.2019 国際出願日: 10.07.2018
IPC:
G01N 21/95 (2006.01) ,G01N 21/84 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84
特殊な応用に特に適合したシステム
88
きず,欠陥,または汚れの存在の調査
95
調査対象物の材質や形に特徴付けられるもの
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84
特殊な応用に特に適合したシステム
出願人:
日本電産株式会社 NIDEC CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市南区久世殿城町338番地 338 Kuzetonoshiro-cho, Minami-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6018205, JP
発明者:
山田 栄二 YAMADA, Eiji; JP
優先権情報:
2017-18885328.09.2017JP
発明の名称: (EN) APPEARANCE INSPECTION DEVICE AND APPEARANCE INSPECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF D’INSPECTION D’APPARENCE ET PROCÉDÉ D’INSPECTION D’APPARENCE
(JA) 外観検査装置及び外観検査方法
要約:
(EN) [Problem] The present invention addresses the problem of improving accuracy of detecting abnormality of the surface of a workpiece. [Solution] An appearance inspection device 500 for inspecting appearance of a workpiece W includes: a first illuminating unit 110 that irradiates the workpiece W with light; a first image pickup unit 120 that picks up an image of the workpiece W being irradiated with the light by means of the first illuminating unit 110; a first detection unit 130 that detects a first failure from an image P1 picked up by means of the first image pickup unit 120; a second illuminating unit 210 that irradiates the workpiece W with light; a second image pickup unit 220 that picks up an image of the workpiece W being irradiated with the light by means of the second illuminating unit 210; and a second detection unit 230 that detects a second failure from the image picked up by means of the second image pickup unit 220. The first illuminating unit 110 uses coaxial epi-illumination, and the second illuminating unit 210 uses coaxial epi-illumination and dome illumination.
(FR) La présente invention vise à améliorer la précision de détection d'une anomalie de la surface d'une pièce à travailler. L'invention concerne par conséquent un dispositif d'inspection d'apparence (500) pour inspecter l'apparence d'une pièce à travailler (W) qui comprend : une première unité d'éclairage (110) qui expose la pièce à travailler (W) à une lumière ; une première unité de capture d'image (120) qui capture une image de la pièce à travailler W étant exposée à la lumière au moyen de la première unité d'éclairage (110) ; une première unité de détection (130) qui détecte une première défaillance à partir d'une image (P1) capturée au moyen de la première unité de capture d'image (120) ; une seconde unité d'éclairage(210) qui expose la pièce à travailler à une lumière ; une seconde unité de capture d'image (220) qui capture une image de la pièce à travailler (W) étant exposée à la lumière au moyen de la seconde unité d'éclairage (210) ; et une seconde unité de détection (230) qui détecte une seconde défaillance à partir de l'image capturée au moyen de la seconde unité de capture d'image (220). La première unité d'éclairage (110) utilise l'épi-éclairage coaxial, et la seconde unité d'éclairage (210) utilise un épi-éclairage coaxial et un éclairage en dôme.
(JA) 【課題】ワークの表面における異常を検出する精度を向上させる。【解決手段】ワークWの外観を検査する外観検査装置500であって、ワークWの外観を検査する外観検査装置500であって、ワークWに光を照射する第1照明部110と、第1照明部110によって照射されたワークWを撮像する第1撮像部120と、第1撮像部120が撮像した画像P1から第1不良を検出する第1検出部130と、ワークWに光を照射する第2照明部210と、第2照明部210によって照射されたワークWを撮像する第2撮像部220と、第2撮像部220が撮像した画像から第2不良を検出する第2検出部230と、を含み、第1照明部110は、同軸落射照明を用い、第2照明部210は、同軸落射照明及びドーム照明を用いる。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)