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1. WO2019064632 - X線撮像装置およびX線撮像素子の画像処理方法

公開番号 WO/2019/064632
公開日 04.04.2019
国際出願番号 PCT/JP2018/008420
国際出願日 05.03.2018
IPC
G01T 1/24 2006.1
G物理学
01測定;試験
T原子核放射線またはX線の測定
1X線,ガンマ線,微粒子線または宇宙線の測定
16放射線強度の測定
24半導体検出器をもつもの
G01N 23/223 2006.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
22材料からの二次放射の測定によるもの
223X線またはガンマ線を試料に照射して蛍光X線を測定するもの
G01T 1/36 2006.1
G物理学
01測定;試験
T原子核放射線またはX線の測定
1X線,ガンマ線,微粒子線または宇宙線の測定
36X線または核放射線のスペクトル分布の測定
CPC
G01N 23/223
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
22by measuring secondary emission from the material
223by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
G01T 1/24
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
1Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
16Measuring radiation intensity
24with semiconductor detectors
G01T 1/36
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
1Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
36Measuring spectral distribution of X-rays or of nuclear radiation ; spectrometry
出願人
  • 国立研究開発法人物質・材料研究機構 NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE [JP]/[JP]
発明者
  • 桜井 健次 SAKURAI, Kenji
  • 趙 文洋 ZHAO, Wenyang
代理人
  • 相川 俊彦 AIKAWA, Toshihiko
優先権情報
2017-18736128.09.2017JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) X-RAY IMAGING DEVICE AND IMAGE PROCESSING METHOD FOR X-RAY IMAGING ELEMENT
(FR) DISPOSITIF D'IMAGERIE PAR RAYONS X ET PROCÉDÉ DE TRAITEMENT D'IMAGE POUR ÉLÉMENT D'IMAGERIE PAR RAYONS X
(JA) X線撮像装置およびX線撮像素子の画像処理方法
要約
(EN) Provided is an X-ray imaging device in which a CCD imaging element, CMOS imaging element, or semiconductor pixel radiation detector designed for visible light wavelength use is suitable for use as an imaging element of a large-area X-ray spectrometer. The X-ray imaging element for receiving energy rays including X-ray photons from an object to be analyzed has unit light-receiving elements in a two-dimensional layout. The unit light-receiving elements have a two-dimensional region for causing charge sharing by receiving the X-ray photons. An X-ray image generation circuit, with which light reception signals from the X-ray imaging element are read for each of the unit light-receiving elements, compares the light reception signals read from each of the unit light-receiving elements with a first threshold value serving as a criterion for recognition as an effective photon event and a second threshold value serving as a criterion for recognition as noise, and uses the signals that clear the first and second threshold values as effective X-ray photon events to generate an X-ray image.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'imagerie par rayons X dans lequel un élément d'imagerie à dispositif de couplage de charge (CCD), un élément d'imagerie à semi-conducteur complémentaire à l'oxyde de métal (CMOS), ou un détecteur de rayonnement à pixels semi-conducteurs conçu pour une utilisation dans la longueur d'onde de la lumière visible est approprié pour être utilisé en tant qu'élément d'imagerie d'un spectromètre à rayons X de grande surface. L'élément d'imagerie par rayons X pour recevoir des rayons énergétiques comprenant des photons de rayons X provenant d'un objet à analyser comprend des éléments de réception de lumière unitaires dans une configuration bidimensionnelle. Les éléments de réception de lumière unitaires ont une région bidimensionnelle permettant un partage de charge par réception des photons de rayons X. Un circuit de génération d'image en rayons X, avec lequel des signaux de réception de lumière provenant de l'élément d'imagerie par rayons X sont lus pour chacun des éléments de réception de lumière unitaires, compare les signaux de réception de lumière lus provenant de chacun des éléments de réception de lumière unitaires avec une première valeur seuil servant de critère de reconnaissance comme un événement de photon effectif et une seconde valeur seuil servant de critère de reconnaissance comme un bruit, et utilise les signaux qui effacent les première et seconde valeurs seuil comme événements de photons de rayons X efficaces pour générer une image de rayons X.
(JA) 可視光波長用に設計されたCCD撮像素子、CMOS撮像素子または半導体ピクセル放射線検出器を大面積X線分光器の撮像素子として利用するのに適したX線撮像装置を提供する。分析対象物からのX線光子を含むエネルギー線を受光するX線撮像素子であって、当該X線撮像素子は二次元配置の単位受光素子を有すると共に、当該単位受光素子は当該X線光子の受光による電荷共有を生ずる二次元的領域を有する前記X線撮像素子と、このX線撮像素子からの受光信号を各単位受光素子毎に読み込むX線画像生成回路であって、前記各単位受光素子毎に読み込まれた受光信号と、有効な光子事象と認識する基準となる第1のしきい値及びノイズと認識する基準となる第2のしきい値とを比較して、第1及び第2のしきい値を通過したものを有効なX線光子事象として、X線画像を生成する。
関連特許文献
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