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1. (WO2019064374) 表示パネルの製造方法、表示パネルの製造装置
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国際公開番号: WO/2019/064374 国際出願番号: PCT/JP2017/034939
国際公開日: 04.04.2019 国際出願日: 27.09.2017
IPC:
G09F 9/00 (2006.01)
G 物理学
09
教育;暗号方法;表示;広告;シール
F
表示;広告;サイン;ラベルまたはネームプレート;シール
9
情報が個別素子の選択または組合わせによって支持体上に形成される可変情報用の指示装置
出願人:
シャープ株式会社 SHARP KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 大阪府堺市堺区匠町1番地 1, Takumi-cho, Sakai-ku, Sakai City, Osaka 5908522, JP
発明者:
崎川 浩二 SAKIKAWA, Kohji; --
二星 学 NIBOSHI, Manabu; --
代理人:
特許業務法人HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK; 大阪府大阪市北区天神橋2丁目北2番6号 大和南森町ビル Daiwa Minamimorimachi Building, 2-6, Tenjinbashi 2-chome Kita, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300041, JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) METHOD FOR MANUFACTURING DISPLAY PANEL AND DEVICE FOR MANUFACTURING DISPLAY PANEL
(FR) PROCÉDÉ DE FABRICATION DE PANNEAU D'AFFICHAGE ET DISPOSITIF DE FABRICATION DE PANNEAU D'AFFICHAGE
(JA) 表示パネルの製造方法、表示パネルの製造装置
要約:
(EN) The purpose of the present invention is to manufacture display panels to be manufactured in a manufacturing step of the same lot by further reducing an inspection step while reducing luminance unevenness between the display panels. There is provided a method for manufacturing a display panel, the method being provided with: an inspection mother board manufacturing step for manufacturing an inspection mother board (4) which includes a plurality of inspection elements (30); a manufacturing mother board manufacturing step for manufacturing a plurality of manufacture mother boards (6) that include a plurality of display panels (8) provided with light-emitting elements (12); a measuring step for measuring the distribution of light-emission intensity from the plurality of inspection elements (30); a calculation step for calculating a correction value of a light-emission voltage for each of the display panels (8) according to the distribution; and a correcting step for correcting the light-emission voltages of the light-emitting elements (12) in each of the display panels (8) on the basis of the correction value.
(FR) La présente invention a pour but de fabriquer des panneaux d'affichage devant être fabriqués dans une étape de fabrication du même lot en réduisant davantage une étape d'inspection tout en réduisant l’irrégularité de luminance entre les panneaux d'affichage. L'invention concerne un procédé de fabrication d'un panneau d'affichage, le procédé comportant : une étape de fabrication de carte mère d'inspection pour fabriquer une carte mère d'inspection (4) qui comprend une pluralité d'éléments d'inspection (30) ; une étape de fabrication de carte mère de fabrication pour fabriquer une pluralité de cartes mères de fabrication (6) qui comprennent une pluralité de panneaux d'affichage (8) pourvus d'éléments électroluminescents (12) ; une étape de mesure pour mesurer la distribution d'intensité d'émission de lumière à partir de la pluralité d'éléments d'inspection (30) ; une étape de calcul pour calculer une valeur de correction d'une tension d'émission de lumière pour chacun des panneaux d'affichage (8) en fonction de la distribution ; et une étape de correction pour corriger les tensions d'émission de lumière des éléments électroluminescents (12) dans chacun des panneaux d'affichage (8) sur la base de la valeur de correction.
(JA) 同一ロットの製造工程中に製造される表示パネルを、当該表示パネル間の輝度ムラを低減しつつ、検査工程をより短縮して製造することを目的として、複数の検査素子(30)を含む検査用マザー基板(4)を製造する検査用マザー基板製造工程と、発光素子(12)を備えた複数の表示パネル(8)を含む複数の製造用マザー基板(6)を製造する製造用マザー基板製造工程と、前記複数の検査素子(30)からの発光強度の分布を測定する測定工程と、前記分布に応じて、前記表示パネル(8)ごとの発光電圧の補正値を算出する算出工程と、前記補正値に基づき、それぞれの前記表示パネル(8)の前記発光素子(12)の発光電圧を補正する補正工程とを備えた表示パネルの製造方法を提供する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)