このアプリケーションの一部のコンテンツは現時点では利用できません。
このような状況が続く場合は、にお問い合わせくださいフィードバック & お問い合わせ
1. (WO2019064360) X線分光分析装置、及び該X線分光分析装置を用いた化学状態分析方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報    第三者情報を提供

国際公開番号: WO/2019/064360 国際出願番号: PCT/JP2017/034860
国際公開日: 04.04.2019 国際出願日: 27.09.2017
IPC:
G01N 23/207 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23
グループG01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20
放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;放射線の反射の利用によるもの
207
検出器を用いた回折手段によるもの,例.分析用結晶または被分析結晶を中心におき1個または複数個の移動可能な検出器を周辺に配するもの
出願人:
株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511, JP
発明者:
佐藤 賢治 SATO, Kenji; JP
代理人:
特許業務法人京都国際特許事務所 KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; 京都府京都市下京区東洞院通四条下ル元悪王子町37番地 豊元四条烏丸ビル Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091, JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) X-RAY SPECTROSCOPIC ANALYSIS DEVICE AND CHEMICAL STATE ANALYSIS DEVICE USING SAID X-RAY SPECTROSCOPIC ANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE SPECTROSCOPIQUE À RAYONS X ET DISPOSITIF D'ANALYSE D'ÉTAT CHIMIQUE UTILISANT LEDIT DISPOSITIF D'ANALYSE SPECTROSCOPIQUE À RAYONS X
(JA) X線分光分析装置、及び該X線分光分析装置を用いた化学状態分析方法
要約:
(EN) An X-ray spectroscopic analysis device (10) comprises: an excitation source (11) that irradiates a prescribed irradiation region (A) of a surface of a sample (S) with excitation rays for generating characteristic X-rays; a dispersive crystal (13) that is provided facing the irradiation region (A) and comprises a flat plate; a slit (12) that is provided between the irradiation region (A) and the dispersive crystal (13), and is parallel to the irradiation region (A) and a prescribed crystal plane of the dispersive crystal (13); an X-ray linear sensor (14) in which line-shaped detection elements (141) that are long in a direction parallel to the slit (12) are provided so as to line up in a direction perpendicular to the slit (12); and an energy calibration unit (16) that measures two characteristic X-rays with known energies by irradiating a surface of a standard sample with the excitation rays from the excitation source (11), said standard sample generating said two characteristic X-rays by being irradiated with the excitation rays, and on the basis of the energies of the two measured characteristic X-rays, calibrates the energies of characteristic X-rays detected by each of the detection elements (141) of the X-ray linear sensor (14). The energies of characteristic X-rays emitted by a sample for measurement can thus be calculated more accurately.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'analyse spectroscopique à rayons X (10) comprenant : une source d'excitation (11) qui irradie une région d'irradiation prescrite (A) d'une surface d'un échantillon (S) avec des rayons d'excitation pour produire des rayons X caractéristiques ; un cristal dispersif (13) qui est disposé en regard de la région d'irradiation (A) et comprend une plaque plate ; une fente (12) qui est disposée entre la région d'irradiation (A) et le cristal dispersif (13), et qui est parallèle à la région d'irradiation (A) et à un plan prescrit du cristal dispersif (13) ; un capteur linéaire de rayons X (14) dans lequel des éléments de détection en forme de ligne (141) qui sont longs dans une direction parallèle à la fente (12) sont disposés de façon à s'aligner dans une direction perpendiculaire à la fente (12) ; et une unité d'étalonnage d'énergie (16) qui mesure deux rayons X caractéristiques avec des énergies connues par irradiation d'une surface d'un échantillon standard avec les rayons d'excitation provenant de la source d'excitation (11), ledit échantillon standard produisant lesdits deux rayons X caractéristiques en étant irradié par les rayons d'excitation, et sur la base des énergies des deux rayons X caractéristiques mesurés, étalonne les énergies de rayons X caractéristiques détectées par chacun des éléments de détection (141) du capteur linéaire de rayons X (14). Les énergies des rayons X caractéristiques émis par un échantillon en vue de leur mesure peuvent ainsi être calculées de manière plus précise.
(JA) X線分光分析装置(10)は、試料(S)表面の所定の照射領域(A)に、特性X線を発生させるための励起線を照射する励起源(11)と、照射領域(A)に面して設けられた、平板から成る分光結晶(13)と、照射領域(A)と分光結晶(13)の間に設けられた、照射領域(A)及び分光結晶(13)の所定の結晶面に平行なスリット(12)と、スリット(12)に平行な方向に長さを有する線状の検出素子(141)がスリット(12)に垂直な方向に並ぶように設けられたX線リニアセンサ(14)と、前記励起線を照射することでエネルギーが既知である2つの特性X線を生成する標準試料の表面に、励起源(11)から該励起線を照射することによって該2つの特性X線を測定し、該測定した2つの特性X線のエネルギーに基づいて、X線リニアセンサ(14)の検出素子(141)の各々により検出される特性X線のエネルギーを較正するエネルギー較正部(16)とを備える。測定対象試料が放出する特性X線のエネルギーをより高精度に求めることができる。
front page image
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)