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1. (WO2019061815) ARRAY SUBSTRATE AND TEST STRUCTURE FOR THE ARRAY SUBSTRATE
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国際公開番号: WO/2019/061815 国際出願番号: PCT/CN2017/114601
国際公開日: 04.04.2019 国際出願日: 05.12.2017
IPC:
G02F 1/13 (2006.01)
G 物理学
02
光学
F
光の強度,色,位相,偏光または方向の制御,例.スイッチング,ゲーテイング,変調または復調のための装置または配置の媒体の光学的性質の変化により,光学的作用が変化する装置または配置;そのための技法または手順;周波数変換;非線形光学;光学的論理素子;光学的アナログ/デジタル変換器
1
独立の光源から到達する光の強度,色,位相,偏光または方向の制御のための装置または配置,例.スィッチング,ゲーテイングまたは変調;非線形光学
01
強度,位相,偏光または色の制御のためのもの
13
液晶に基づいたもの,例.単一の液晶表示セル
出願人:
武汉华星光电技术有限公司 WUHAN CHINA STAR OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD [CN/CN]; 中国湖北省武汉市 武汉东湖开发区高新大道666号生物城C5栋 Building C5, Biolake of Optics Valley No. 666 Gaoxin Avenue Wuhan East Lake High-tech Development Zone Wuhan, Hubei 430070, CN
発明者:
黄耀立 HUANG, Yao-Li; CN
贺兴龙 HE, Xinglong; CN
代理人:
广州三环专利商标代理有限公司 SCIHEAD IP LAW FIRM; 中国广东省广州市 越秀区先烈中路80号汇华商贸大厦1508室 Room 1508, Huihua Commercial & Trade Building No. 80, XianLie Zhong Road, Yuexiu District Guangzhou, Guangdong 510070, CN
優先権情報:
201710879966.026.09.2017CN
発明の名称: (EN) ARRAY SUBSTRATE AND TEST STRUCTURE FOR THE ARRAY SUBSTRATE
(FR) SUBSTRAT MATRICIEL ET STRUCTURE D'ESSAI POUR LE SUBSTRAT MATRICIEL
(ZH) 阵列基板及阵列基板测试结构
要約:
(EN) An array substrate (10). The array substrate (10) comprises a display area (100), and a non-display area (200). A plurality of test signal receiving pins (230), a plurality of press-fitting pins (240) and a plurality of transmission lines (220) are provided in the non-display area (200); and the test signal receiving pins (230) and the press-fitting pins (240) are arranged into one row. The array substrate reduces the width of the non-display area (200) of an electronic device and the design of a narrow frame of the electronic device is facilitated.
(FR) L'invention concerne un substrat matriciel (10). Le substrat matriciel (10) comprend une zone d'affichage (100) et une zone de non-affichage (200). Une pluralité de broches de réception de signal d'essai (230), une pluralité de broches d'ajustement par pression (240) et une pluralité de lignes de transmission (220) sont disposées dans la zone de non-affichage (200); et les broches de réception de signal d'essai (230) et les broches d'ajustement par pression (240) sont agencées en une rangée. Le substrat matriciel réduit la largeur de la zone de non-affichage (200) d'un dispositif électronique et la conception d'un cadre étroit du dispositif électronique est facilitée.
(ZH) 一种阵列基板(10),所述阵列基板(10)包括显示区(100)及非显示区(200),非显示区(200)设置有多个测试信号接收引脚(230)、多个压合引脚(240)以及多个传输线(220),测试信号接收引脚(230)与压合引脚(240)排列成一排。该阵列基板降低了电子装置非显示区(200)的宽度,便于电子装置的窄边框设计。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 中国語 (ZH)
国際出願言語: 中国語 (ZH)