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1. (WO2019058857) 試料支持体
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国際公開番号: WO/2019/058857 国際出願番号: PCT/JP2018/031036
国際公開日: 28.03.2019 国際出願日: 22.08.2018
IPC:
G01N 27/62 (2006.01) ,H01J 49/04 (2006.01) ,H01J 49/10 (2006.01) ,H01J 49/16 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27
電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
62
ガスのイオン化の調査によるもの;放電の調査によるもの,例.陰極の放射
H 電気
01
基本的電気素子
J
電子管または放電ランプ
49
粒子分光器または粒子分離管
02
細部
04
分析材料導入取り出しのための装置,例.真空封止;電子光学的またはイオン光学的構成体の外部調節装置
H 電気
01
基本的電気素子
J
電子管または放電ランプ
49
粒子分光器または粒子分離管
02
細部
10
イオン源;イオン銃
H 電気
01
基本的電気素子
J
電子管または放電ランプ
49
粒子分光器または粒子分離管
02
細部
10
イオン源;イオン銃
16
表面電離を利用するもの,例.電界放出,熱放出または光放出
出願人:
浜松ホトニクス株式会社 HAMAMATSU PHOTONICS K.K. [JP/JP]; 静岡県浜松市東区市野町1126番地の1 1126-1, Ichino-cho, Higashi-ku, Hamamatsu-shi, Shizuoka 4358558, JP
発明者:
大村 孝幸 OHMURA Takayuki; JP
小谷 政弘 KOTANI Masahiro; JP
代理人:
長谷川 芳樹 HASEGAWA Yoshiki; JP
黒木 義樹 KUROKI Yoshiki; JP
柴山 健一 SHIBAYAMA Kenichi; JP
優先権情報:
2017-18159721.09.2017JP
発明の名称: (EN) SAMPLE SUPPORT BODY
(FR) CORPS DE SUPPORT D'ÉCHANTILLON
(JA) 試料支持体
要約:
(EN) A sample support body (1A) comprising a substrate (2), an ionization substrate (3), a support section (5), and a frame (7). The ionization substrate (3) has a plurality of measurement regions (R) for dropping a sample, on a second surface (3b). A plurality of through-holes (3c) that open on to a first surface (3a) and the second surface (3b) are formed in at least each measurement region (R) of the ionization substrate (3). A conductive layer (4) is provided in a peripheral section of the through-holes (3c) in at least the second surface (3b). The frame (7) has wall sections (7b) provided upon the peripheral section of each measurement region (R) in the second surface (3b), so as to partition the plurality of measurement regions (R) when viewed from the direction in which the substrate (2) and the ionization substrate (3) are facing each other.
(FR) L'invention concerne un corps de support d'échantillon (1A) comprenant un substrat (2), un substrat d'ionisation (3), une section de support (5) et un cadre (7). Le substrat d'ionisation (3) possède une pluralité de zones de mesure (R) permettant de déposer un échantillon, sur une seconde surface (3b). Une pluralité de trous traversants (3c) qui s'ouvrent sur une première surface (3a) et sur la seconde surface (3b) sont formés dans au moins chaque zone de mesure (R) du substrat d'ionisation (3). Une couche conductrice (4) est disposée dans une section périphérique des trous traversants (3c) au moins dans la seconde surface (3b). Le cadre (7) possède des sections de paroi (7b) situées sur la section périphérique de chaque zone de mesure (R) dans la seconde surface (3b), de façon à diviser la pluralité de zones de mesure (R) lorsqu'elles sont vues depuis la direction dans laquelle le substrat (2) et le substrat d'ionisation (3) se font face.
(JA) 試料支持体(1A)は、基板(2)と、イオン化基板(3)と、支持部(5)と、フレーム(7)と、を備える。イオン化基板(3)は、第2表面(3b)において試料を滴下するための複数の測定領域(R)を有する。イオン化基板(3)の少なくとも各測定領域(R)には、第1表面(3a)及び第2表面(3b)に開口する複数の貫通孔(3c)が形成されている。少なくとも第2表面(3b)における貫通孔(3c)の周縁部には、導電層(4)が設けられている。フレーム(7)は、基板(2)とイオン化基板(3)とが対向する方向から見て、複数の測定領域(R)を区切るように、第2表面(3b)における各測定領域(R)の周縁部上に設けられた壁部(7b)を有する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)