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1. (WO2019058768) レーザ脱離イオン化法及び質量分析方法
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国際公開番号: WO/2019/058768 国際出願番号: PCT/JP2018/028682
国際公開日: 28.03.2019 国際出願日: 31.07.2018
IPC:
G01N 27/62 (2006.01) ,H01J 49/16 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27
電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
62
ガスのイオン化の調査によるもの;放電の調査によるもの,例.陰極の放射
H 電気
01
基本的電気素子
J
電子管または放電ランプ
49
粒子分光器または粒子分離管
02
細部
10
イオン源;イオン銃
16
表面電離を利用するもの,例.電界放出,熱放出または光放出
出願人:
浜松ホトニクス株式会社 HAMAMATSU PHOTONICS K.K. [JP/JP]; 静岡県浜松市東区市野町1126番地の1 1126-1, Ichino-cho, Higashi-ku, Hamamatsu-shi, Shizuoka 4358558, JP
発明者:
小谷 政弘 KOTANI Masahiro; JP
大村 孝幸 OHMURA Takayuki; JP
代理人:
長谷川 芳樹 HASEGAWA Yoshiki; JP
黒木 義樹 KUROKI Yoshiki; JP
柴山 健一 SHIBAYAMA Kenichi; JP
優先権情報:
2017-18160521.09.2017JP
発明の名称: (EN) LASER DESORPTION/IONIZATION METHOD AND MASS SPECTROMETRY METHOD
(FR) PROCÉDÉ DE DÉSORPTION/D'IONISATION LASER ET PROCÉDÉ DE SPECTROMÉTRIE DE MASSE
(JA) レーザ脱離イオン化法及び質量分析方法
要約:
(EN) A laser desorption/ionization method comprising: a first step in which a sample support body (1) is prepared that comprises a substrate (2) having a plurality of through-holes formed therein and a conductive layer provided on a first surface (2a) of the substrate; a second step in which the sample support body is fixed to a mounting section in a state in which a frozen sample (S) is placed on a mounting surface (6a) of the mounting section (6) and a second surface (2b) is in contact with the frozen sample, in a below-freezing environment; a third step in which the sample is thawed and components of the thawed sample move to the first surface side through the plurality of through-holes, as a result of capillary action; and a fourth step in which the components that have moved to the first surface side are ionized, as a result of a laser light (L) being irradiated on to the first surface while voltage is being applied to the conductive layer.
(FR) La présente invention concerne un procédé de désorption/d'ionisation laser comprenant : une première étape au cours de laquelle est préparé un corps de support d'échantillon (1) qui comprend un substrat (2) à l'intérieur duquel une pluralité de trous traversants sont formés et une couche conductrice prévue sur une première surface (2a) du substrat ; une deuxième étape au cours de laquelle le corps de support d'échantillon est fixé à une section de montage dans un état dans lequel un échantillon congelé (S) est placé sur une surface de montage (6a) de la section de montage (6) et une seconde surface (2b) est en contact avec l'échantillon congelé, dans un environnement à température inférieure à la température de congélation ; une troisième étape au cours de laquelle l'échantillon est décongelé et les composants de l'échantillon décongelé se déplacent vers le côté première surface à travers la pluralité de trous traversants par action capillaire ; et une quatrième étape au cours de laquelle les composants qui se sont déplacés vers le côté première surface sont ionisés suite à l'exposition de la première surface à une lumière laser (L) tandis qu'une tension est appliquée à la couche conductrice.
(JA) レーザ脱離イオン化法は、複数の貫通孔が形成された基板(2)と、基板の第1表面(2a)に設けられた導電層と、を備える試料支持体(1)が用意される第1工程と、氷点下雰囲気中において、凍結した試料(S)が載置部(6)の載置面(6a)に載置され、凍結した試料に第2表面(2b)が接触した状態で、載置部に対して試料支持体が固定される第2工程と、試料が解凍され、解凍された試料の成分が毛細管現象によって複数の貫通孔を介して第1表面側に移動する第3工程と、導電層に電圧が印加されつつ第1表面に対してレーザ光(L)が照射されることにより、第1表面側に移動した成分がイオン化される第4工程と、を備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)