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1. (WO2019054346) 検査装置
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国際公開番号: WO/2019/054346 国際出願番号: PCT/JP2018/033537
国際公開日: 21.03.2019 国際出願日: 11.09.2018
IPC:
G02F 1/13 (2006.01) ,G01M 11/00 (2006.01) ,G09F 9/00 (2006.01)
G 物理学
02
光学
F
光の強度,色,位相,偏光または方向の制御,例.スイッチング,ゲーテイング,変調または復調のための装置または配置の媒体の光学的性質の変化により,光学的作用が変化する装置または配置;そのための技法または手順;周波数変換;非線形光学;光学的論理素子;光学的アナログ/デジタル変換器
1
独立の光源から到達する光の強度,色,位相,偏光または方向の制御のための装置または配置,例.スィッチング,ゲーテイングまたは変調;非線形光学
01
強度,位相,偏光または色の制御のためのもの
13
液晶に基づいたもの,例.単一の液晶表示セル
G 物理学
01
測定;試験
M
機械または構造物の静的または動的つり合い試験;他に分類されない構造物または装置の試験
11
光学装置の試験;他に分類されない光学的方法による構造物の試験
G 物理学
09
教育;暗号方法;表示;広告;シール
F
表示;広告;サイン;ラベルまたはネームプレート;シール
9
情報が個別素子の選択または組合わせによって支持体上に形成される可変情報用の指示装置
出願人:
日本電産サンキョー株式会社 NIDEC SANKYO CORPORATION [JP/JP]; 長野県諏訪郡下諏訪町5329番地 5329, Shimosuwa-machi, Suwa-gun, Nagano 3938511, JP
発明者:
赤羽 賢俊 AKAHANE, Masatoshi; JP
吉田 昇悟 YOSHIDA, Shogo; JP
優先権情報:
2017-17671814.09.2017JP
発明の名称: (EN) INSPECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION
(JA) 検査装置
要約:
(EN) In this inspection device, a power supply part that supplies power to an object of inspection comprises: a plurality of contact probes 28 that contact a terminal of the object of inspection; a probe holding part 29 that holds the plurality of contact probes 28; a rotation mechanism that makes the probe holding part 29 rotate, the axial direction of the rotation being the vertical direction; and a movement mechanism that makes the probe holding part 29 move in the vertical direction, the front-rear direction, and the right-left direction. The probe holding part 29 is fixed to an output shaft of a speed reducer 38 that constitutes a portion of the rotation mechanism. The probe holding part 29 has formed therein a plurality of calibration holes 29b, 29c that position the probe holding part 29 in a rotational direction that is centered on the output shaft of the speed reducer 38 and are for calibrating the movement mechanism. As a result of this configuration, the plurality of contact probes can be moved with precision over the object of inspection as mounted on a mounting part.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'inspection, selon lequel une partie d'alimentation électrique qui fournit de l'énergie à un objet d'inspection comprend : une pluralité de sondes de contact (28) qui entrent en contact avec une borne de l'objet d'inspection ; une partie de maintien de sonde (29) qui maintient la pluralité de sondes de contact (28) ; un mécanisme de rotation qui amène la partie de maintien de sonde (29) à tourner, la direction axiale de la rotation étant la direction verticale ; et un mécanisme de déplacement qui amène la partie de maintien de sonde (29) à se déplacer dans la direction verticale, la direction avant-arrière, et la direction droite-gauche. La partie de maintien de sonde (29) est fixée à un arbre de sortie d'un réducteur de vitesse (38) qui constitue une partie du mécanisme de rotation. La partie de maintien de sonde a une pluralité de trous d'étalonnage (29b, 29c) qui positionnent la partie de maintien de sonde (29) dans une direction de rotation qui est centrée sur l'arbre de sortie du réducteur de vitesse (38) et sont destinés à étalonner le mécanisme de déplacement. Grâce à cette configuration, la pluralité de sondes de contact peut être déplacée avec précision sur l'objet d'inspection tel qu'il est monté sur une partie de montage.
(JA) この検査装置では、検査対象物に電力を供給する電力供給部は、検査対象物の端子に接触する複数のコンタクトプローブ28と、複数のコンタクトプローブ28を保持するプローブ保持部29と、上下方向を回動の軸方向としてプローブ保持部29を回動させる回動機構と、上下方向、前後方向および左右方向にプローブ保持部29を移動させる移動機構とを備えている。プローブ保持部29は、回動機構の一部を構成する減速機38の出力軸に固定されている。プローブ保持部29には、減速機38の出力軸を回動中心とする回動方向でプローブ保持部29を位置合わせするとともに、移動機構を校正するための複数の校正用穴29b、29cが形成されている。これにより、載置部に載置される検査対象物に対して、複数のコンタクトプローブを精度良く移動させることが可能になる。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)