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1. (WO2019049272) イオン源及びイオン分析装置
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国際公開番号: WO/2019/049272 国際出願番号: PCT/JP2017/032300
国際公開日: 14.03.2019 国際出願日: 07.09.2017
IPC:
G01N 27/62 (2006.01) ,H01J 49/04 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27
電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
62
ガスのイオン化の調査によるもの;放電の調査によるもの,例.陰極の放射
H 電気
01
基本的電気素子
J
電子管または放電ランプ
49
粒子分光器または粒子分離管
02
細部
04
分析材料導入取り出しのための装置,例.真空封止;電子光学的またはイオン光学的構成体の外部調節装置
出願人:
株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511, JP
発明者:
中野 智仁 NAKANO, Tomohito; JP
代理人:
特許業務法人京都国際特許事務所 KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; 京都府京都市下京区東洞院通四条下ル元悪王子町37番地 豊元四条烏丸ビル Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091, JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) ION SOURCE AND ION ANALYSIS DEVICE
(FR) SOURCE D’IONS ET DISPOSITIF D’ANALYSE D’IONS
(JA) イオン源及びイオン分析装置
要約:
(EN) In the present invention, a screw receiving part (41) that an adjustment screw (42) is screwed into and a shaft support (46) are provided on the outside of an ionization chamber (21) wall surface (21a) at positions having an ionization probe (22) therebetween. One end of an arm (45) that includes a flat bar part is pivotally supported by the shaft support (46), and the other end of the arm (45) is connected to a connection part (48) that is attached to the adjustment screw (42). Additionally, a central part of the arm (45) is connected to a protruding part (47) provided in a probe body (220). At the locations of the connections, protruding parts (48a, 47) are capable of moving within elongated holes (45a, 45b). If the arm (45) rotates around a shaft body (46a) as a result of the operation of the adjustment screw (42), the probe body (220) is moved smoothly in the axial direction via the protruding part (47) and long hole (45b). As a result, it is possible to accurately adjust the position of the ionization probe (22) in the axial direction.
(FR) Dans la présente invention, une partie de réception de vis (41) dans laquelle une vis de réglage (42) est vissée et un support d’arbre (46) sont disposés sur l’extérieur d’une surface de paroi (21a) de chambre d’ionisation (21) à des positions comportant une sonde d’ionisation (22) entre celles-ci. Une extrémité d’un bras (45) qui comprend une partie de barre plate est soutenue de façon pivotante par le support d’arbre (46), et l’autre extrémité du bras (45) est raccordée à une partie de raccordement (48) qui est fixée à la vis de réglage (42). En outre, une partie centrale du bras (45) est raccordée à une partie saillante (47) disposée dans un corps de sonde (220). Aux emplacements des raccordements, des parties saillantes (48a, 47) peuvent se déplacer dans des trous allongés (45a, 45b). Si le bras (45) tourne autour d’un corps d’arbre (46a) en conséquence du fonctionnement de la vis de réglage (42), le corps de sonde (220) est déplacé de façon régulière dans la direction axiale par l’intermédiaire de la partie saillante (47) et du trou allongé (45b). Par conséquent, il est possible d’ajuster avec précision la position de la sonde d’ionisation (22) dans la direction axiale.
(JA) 調整ねじ(42)が螺入されるねじ受け部(41)と軸台(46)とを、イオン化室(21)の壁面(21a)外側でイオン化プローブ(22)を挟んだ位置に設ける。平板棒状部を含むアーム(45)の一端を軸台(46)に軸支し、該アーム(45)の他端を調整ねじ(42)に取り付けた連結部(48)に連結する。さらに、アーム(45)の中間部分をプローブ本体(220)に設けた突起部(47)に連結する。それら連結箇所では、突起部(48a、47)が長孔(45a、45b)中の移動可能である。調整ねじ(42)の操作によりアーム(45)が軸体(46a)を中心に回動すると、突起部(47)及び長孔(45b)を介してプローブ本体(220)は軸方向に円滑に移動する。これにより、イオン化プローブ(22)の軸方向の正確な位置調整が可能となる。 
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)