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1. (WO2019049234) 平面検出器の歪み量算出方法
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国際公開番号: WO/2019/049234 国際出願番号: PCT/JP2017/032085
国際公開日: 14.03.2019 国際出願日: 06.09.2017
IPC:
G01B 15/00 (2006.01) ,A61B 6/00 (2006.01) ,G01T 7/00 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
15
波動性または粒子性放射線の使用によって特徴づけられた測定装置
A 生活必需品
61
医学または獣医学;衛生学
B
診断;手術;個人識別
6
放射線診断用機器,例.放射線治療と結合している装置
G 物理学
01
測定;試験
T
原子核放射線またはX線の測定
7
放射線測定装置の細部
出願人:
株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511, JP
発明者:
大原 博志 OOHARA, Hiroshi; JP
佐藤 真 SATO, Makoto; JP
代理人:
吉本 力 YOSHIMOTO, Tsutomu; JP
新宅 将人 SHINTAKU, Masato; JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) METHOD FOR CALCULATING DISTORTION AMOUNT IN PLANE SURFACE DETECTOR
(FR) PROCÉDÉ DE CALCUL DE QUANTITÉ DE DISTORSION DANS UN DÉTECTEUR DE SURFACE PLANE
(JA) 平面検出器の歪み量算出方法
要約:
(EN) When calculating a distortion amount in a detection surface 31 of a plane surface detector 3 of X-ray equipment 1, a user first disposes a calibration phantom 10 between a light source 2 and the plane surface detector 3. Then, the attitude of the calibration phantom 10 is changed from an initial state, X-rays are emitted from the light source 2 before and after the attitude change, and a plurality of projection images are generated. Further, on the basis of the respective coordinates of sphere images in the generated projection images, the distortion amount in the detection surface 31 of the plane surface detector 3 is calculated. This configuration enables dispensing with work for measuring in advance the positions of a plurality of spheres in the calibration phantom 10, work for checking in advance the dimensions of the plurality of spheres in the calibration phantom 10, and the like, so that the burden of work can be reduced.
(FR) Lors du calcul d'une quantité de distorsion dans une surface de détection (31) d'un détecteur de surface plane (3) d'un équipement à rayons X (1), un utilisateur dispose d'abord un fantôme d'étalonnage (10) entre une source de lumière (2) et le détecteur de surface plane (3). Ensuite, l'attitude du fantôme d'étalonnage (10) est changée par rapport à un état initial, des rayons X sont émis depuis la source de lumière (2) avant et après le changement d'attitude, et une pluralité d'images de projection sont générées. En outre, en fonction des coordonnées respectives d'images sphériques dans les images de projection générées, la quantité de distorsion dans la surface de détection (31) du détecteur de surface plane (3) est calculée. Cette configuration permet l'élimination d'un travail de mesure à l'avance des positions d'une pluralité de sphères dans le fantôme d'étalonnage (10), d'un travail de vérification à l'avance des dimensions de la pluralité de sphères dans le fantôme d'étalonnage (10), et analogues, de façon à réduire la charge de travail.
(JA) X線撮影装置1の平面検出器3の検出面31の歪み量を算出する場合には、まず、ユーザは、光源2と平面検出器3との間に校正ファントム10が配置される。そして、校正ファントム10の姿勢が初期状態から変化させられ、その変化の前後で光源2からX線が出射されて、複数の投影像が生成される。また、生成された複数の投影像における球体の像の座標に基づいて、平面検出器3の検出面31の歪み量が算出される。そのため、校正ファントム10における複数の球体の位置を事前に計測する作業や、校正ファントム10における複数の球体の寸法を事前に確認する作業などを省くことができ、作業負担を軽減できる。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)