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1. (WO2019048727) ELECTRICAL TOMOGRAPHY FOR VERTICAL PROFILING
国際事務局に記録されている最新の書誌情報第三者情報を提供

国際公開番号: WO/2019/048727 国際出願番号: PCT/FI2017/050628
国際公開日: 14.03.2019 国際出願日: 06.09.2017
IPC:
G01N 27/07 (2006.01) ,G01N 27/22 (2006.01) ,G01N 33/28 (2006.01) ,G01R 27/26 (2006.01) ,G01R 27/22 (2006.01) ,G01N 33/02 (2006.01) ,G01N 33/34 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27
電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
02
インピーダンスの調査によるもの
04
抵抗の調査によるもの
06
液体の
07
測定用ベッセルの構造;そのための電極
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27
電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
02
インピーダンスの調査によるもの
22
容量の調査によるもの
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
33
グループ1/00から31/00に包含されない,特有な方法による材料の調査または分析
26
油類,粘性液体;塗料;インキ
28
油類
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
27
抵抗,リアクタンス,インピーダンスまたはそれらから派生する電気的特性を測定する装置
02
実数または複素抵抗,リアクタンス,インピーダンス,またはそれらから誘導される二端子特性,例.時定数,を測定するもの
26
インダクタンスまたはキャパシタンスの測定;Qの測定,例.共振法によるもの;損失係数の測定;誘電率の測定
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
27
抵抗,リアクタンス,インピーダンスまたはそれらから派生する電気的特性を測定する装置
02
実数または複素抵抗,リアクタンス,インピーダンス,またはそれらから誘導される二端子特性,例.時定数,を測定するもの
22
流体の抵抗測定
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
33
グループ1/00から31/00に包含されない,特有な方法による材料の調査または分析
02
食品
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
33
グループ1/00から31/00に包含されない,特有な方法による材料の調査または分析
34
出願人:
ROCSOLE LTD [FI/FI]; Kauppakatu 20 70100 Kuopio, FI
発明者:
LAAKKONEN, Pasi; FI
LEHIKOINEN, Anssi; FI
MONONEN, Mika; FI
VOUTILAINEN, Arto; FI
代理人:
PAPULA OY; P.O. Box 981 00101 Helsinki, FI
優先権情報:
発明の名称: (EN) ELECTRICAL TOMOGRAPHY FOR VERTICAL PROFILING
(FR) TOMOGRAPHIE ÉLECTRIQUE DE PROFILAGE VERTICAL
要約:
(EN) An apparatus (600) for determining, by electrical tomography, vertical profile of an electrical property of interest of material(s) in a target volume (618) comprises a measurement probe (610) to be positioned at a plurality of different measurement levels (650) in a target volume and comprising a plurality of measurement elements (111) each having an interface surface (112). Each interface surface has a size, shape, and rotational position. A measurement path (114) is formed between two interface surfaces as dependent on the sizes, shapes, and rotational positions of the two interface surfaces, and the distance between the two interface surfaces. The locations, rotational positions, shapes, and sizes of the interface surfaces are selected to provide at least two different measurement paths differing from each other in one or more of said sizes of, shapes of, rotational positions of, and distances between the associated interface surfaces.
(FR) L'invention concerne un appareil (600) permettant de déterminer, par tomographie électrique, un profil vertical d'une propriété électrique d'intérêt d'un ou plusieurs matériaux dans un volume cible (618) comprenant une sonde de mesure (610) à positionner à une pluralité de niveaux de mesure différents (650) dans un volume cible et comprenant une pluralité d'éléments de mesure (111) possédant chacun une surface d'interface (112). Chaque surface d'interface présente une dimension, une forme et une position de rotation. Un trajet de mesure (114) est formé entre deux surfaces d'interface en fonction des dimensions, des formes et des positions de rotation des deux surfaces d'interface et de la distance entre les deux surfaces d'interface. Les emplacements, les positions de rotation, les formes et les dimensions des surfaces d'interface sont sélectionnés afin de fournir au moins deux trajets de mesure différents différant l'un de l'autre par rapport auxdites tailles, formes, positions de rotation et/ou distances entre les surfaces d'interface associées.
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 英語 (EN)
国際出願言語: 英語 (EN)