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1. (WO2019048504) MICROSCOPE HAVING COLLISION PROTECTION
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国際公開番号: WO/2019/048504 国際出願番号: PCT/EP2018/073910
国際公開日: 14.03.2019 国際出願日: 05.09.2018
IPC:
G02B 21/02 (2006.01) ,G02B 21/24 (2006.01) ,G02B 21/26 (2006.01)
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
02
対物レンズ
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
24
架台構造
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
24
架台構造
26
載物台;その調節装置
出願人:
LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH [DE/DE]; Ernst-Leitz-Str. 17-37 35578 Wetzlar, DE
発明者:
HITZLER, Sebastian; DE
代理人:
GRUNERT, Marcus; KUDLEK & GRUNERT PATENTANWÄLTE Postfach 33 04 29 80064 München, DE
優先権情報:
10 2017 120 651.507.09.2017DE
発明の名称: (DE) MIKROSKOP MIT KOLLISIONSSCHUTZ
(EN) MICROSCOPE HAVING COLLISION PROTECTION
(FR) MICROSCOPE DOTÉ D’UNE PROTECTION ANTI-COLLISION
要約:
(DE) Die Erfindung betrifft ein Mikroskop mit einem Stativ (20), an dem ein Mikroskoptisch (40) zum Tragen eines Präparats (41) und ein Objektiv (30) angeordnet sind, und mit einem Positioniersystem (21) zur Einstellung eines Abstandes zwischen dem Mikroskoptisch (40) und dem Objektiv (30) und/oder zur Einstellung einer X-Y-Position des Mikroskoptisches, wobei das Mikroskop (10) einen Kraft- oder Drucksensor (32, 42) aufweist, der derart angeordnet und eingerichtet ist, dass eine Kraftübertragung von dem Mikroskoptisch (40) auf das Objektiv (30) oder umgekehrt erkannt wird.
(EN) The invention relates to a microscope, comprising a stand (20), on which a microscope stage (40) for supporting a preparation (41) and an objective (30) are arranged, and comprising a positioning system (21) for setting a distance between the microscope stage (40) and the objective (30) and/or for setting an X-Y-position of the microscope stage, the microscope (10) having a force or pressure sensor (32, 42), which is arranged and designed in such a way that a transmission of force from the microscope stage (40) to the objective (30) or vice versa is detected.
(FR) L’invention concerne un microscope comprenant : un pied (20) sur lequel sont montés une table de microscope (40) destiné à porter une préparation (41), et un objectif (30); un système de positionnement (21) servant à régler la distance entre la table de microscope (40) et l’objectif (30) et/ou à régler la position X-Y de la table de microscope (40), le microscope (10) présentant un capteur de force ou de pression (32, 42) qui est disposé et conçu de telle sorte qu'une transmission de force de la table de microscope (40) à l'objectif (30) ou inversement est détectée.
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: ドイツ語 (DE)
国際出願言語: ドイツ語 (DE)