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1. (WO2019046326) READ VOLTAGE CALIBRATION BASED ON HOST IO OPERATIONS
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国際公開番号: WO/2019/046326 国際出願番号: PCT/US2018/048383
国際公開日: 07.03.2019 国際出願日: 28.08.2018
IPC:
G11C 16/26 (2006.01) ,G11C 16/30 (2006.01)
G 物理学
11
情報記憶
C
静的記憶
16
消去可能でプログラム可能なリードオンリメモリ
02
電気的にプログラム可能なもの
06
周辺回路,例.メモリへの書込み用
26
センス回路または読出し回路;データ出力回路
G 物理学
11
情報記憶
C
静的記憶
16
消去可能でプログラム可能なリードオンリメモリ
02
電気的にプログラム可能なもの
06
周辺回路,例.メモリへの書込み用
30
電力供給回路
出願人:
RATNAM, Sampath [IN/US]; US
TANPAIROJ, Kulachet [US/US]; US
MICRON TECHNOLOGY, INC. [US/US]; 8000 So. Federal Way Boise, Idaho 83716-9632, US
発明者:
RATNAM, Sampath; US
TANPAIROJ, Kulachet; US
MALSHE, Ashutosh; US
MUCHHERLA, Kishore Kumar; US
SINGIDI, Harish Reddy; US
FEELEY, Peter Sean; US
LUO, Ting; US
優先権情報:
15/689,74729.08.2017US
発明の名称: (EN) READ VOLTAGE CALIBRATION BASED ON HOST IO OPERATIONS
(FR) ÉTALONNAGE DE TENSION DE LECTURE SUR LA BASE D'OPÉRATIONS ES HÔTES
要約:
(EN) Devices and techniques for read voltage calibration of a flash-based storage system based on host IO operations are disclosed. In an example, a memory device includes a NAND memory array having groups of multiple blocks of memory cells, and a memory controller to optimize voltage calibration for reads of the memory array. In an example, the optimization technique includes monitoring read operations occurring to a respective block, identifying a condition to trigger a read level calibration based on the read operations, and performing the read level calibration for the respective block or a memory component that includes the respective block. In a further example, the calibration is performed based on a threshold voltage to read the respective block, which may be considered when the threshold voltage to read the respective block is evaluated within a sampling operation performed by the read level calibration.
(FR) L'invention concerne des dispositifs et des techniques pour l'étalonnage de tension de lecture d'un système de stockage basé sur flash sur la base d'opérations ES hôtes. Dans un exemple, un dispositif de mémoire comprend un réseau de mémoire NON-ET comportant des groupes de multiples blocs de cellules de mémoire, et un dispositif de commande de mémoire afin d'optimiser l'étalonnage de tension pour des lectures du réseau de mémoire. Dans un exemple, la technique d'optimisation comprend la surveillance d'opérations de lecture se produisant dans un bloc respectif, l'identification d'une condition pour déclencher un étalonnage de niveau de lecture sur la base des opérations de lecture, et la réalisation de l'étalonnage de niveau de lecture pour le bloc respectif ou un composant de mémoire qui comprend le bloc respectif. Dans un autre exemple, l'étalonnage est effectué sur la base d'une tension de seuil afin de lire le bloc respectif, ce qui peut être pris en compte lorsque la tension de seuil pour lire le bloc respectif est évaluée dans une opération d'échantillonnage effectuée par l'étalonnage de niveau de lecture.
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 英語 (EN)
国際出願言語: 英語 (EN)