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1. (WO2019045435) LIGHT EMITTING DIODE APPARATUS AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
国際事務局に記録されている最新の書誌情報    第三者情報を提供

国際公開番号: WO/2019/045435 国際出願番号: PCT/KR2018/009954
国際公開日: 07.03.2019 国際出願日: 29.08.2018
IPC:
H01L 33/00 (2010.01) ,H01L 33/36 (2010.01) ,H01L 33/10 (2010.01) ,H01L 33/62 (2010.01)
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
33
光の放出に特に適用される少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有する半導体装置;それらの装置またはその部品の製造,あるいは処理に特に適用される方法または装置;それらの装置の細部
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
33
光の放出に特に適用される少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有する半導体装置;それらの装置またはその部品の製造,あるいは処理に特に適用される方法または装置;それらの装置の細部
36
電極に特徴があるもの
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
33
光の放出に特に適用される少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有する半導体装置;それらの装置またはその部品の製造,あるいは処理に特に適用される方法または装置;それらの装置の細部
02
半導体素子本体に特徴のあるもの
10
反射構造を有するもの,例.半導体ブラッグ反射鏡
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
33
光の放出に特に適用される少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有する半導体装置;それらの装置またはその部品の製造,あるいは処理に特に適用される方法または装置;それらの装置の細部
48
半導体素子本体のパッケージに特徴のあるもの
62
半導体素子本体へまたは半導体本体から電流を流す部品,例.リードフレーム,ワイヤボンドまたはハンダ
出願人:
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. [KR/KR]; 129, Samsung-ro, Yeongtong-gu Suwon-si Gyeonggi-do 16677, KR
発明者:
KIM, Jae-seok; KR
KANG, Jin-hee; KR
KANG, Ji-hoon; KR
代理人:
KIM, Tae-hun; KR
JEONG, Hong-sik; KR
優先権情報:
10-2017-011208601.09.2017KR
発明の名称: (EN) LIGHT EMITTING DIODE APPARATUS AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
(FR) APPAREIL À DIODES ÉLECTROLUMINESCENTES ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
要約:
(EN) A method of manufacturing a light emitting diode is provided. The method includes forming a semiconductor layer on a substrate, forming a mask layer including a plurality of grooves on the semiconductor layer, forming a plurality of nanostructures in the plurality of grooves, respectively, forming an etched region by etching an outer region of the semiconductor layer and an inner region of the semiconductor layer different from the outer region, forming a first electrode on the etched region of the semiconductor layer, forming an insulation layer on the first electrode, and forming a second electrode on the insulation layer and the plurality of nanostructures.
(FR) L'invention concerne un procédé de fabrication de diode électroluminescente. Le procédé consiste à : former une couche semi-conductrice sur un substrat, former une couche de masque comprenant une pluralité de rainures sur la couche semi-conductrice, former une pluralité de nanostructures dans la pluralité de rainures, respectivement, former une région gravée par gravure d'une région externe de la couche semi-conductrice et d'une région interne de la couche semi-conductrice différente de la région externe, former une première électrode sur la région gravée de la couche semi-conductrice, former une couche d'isolation sur la première électrode, et former une seconde électrode sur la couche d'isolation et la pluralité de nanostructures.
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 英語 (EN)
国際出願言語: 英語 (EN)