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1. (WO2019044555) 余寿命評価方法及び保守管理方法
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国際公開番号: WO/2019/044555 国際出願番号: PCT/JP2018/030609
国際公開日: 07.03.2019 国際出願日: 20.08.2018
IPC:
G01M 99/00 (2011.01) ,G01N 17/00 (2006.01) ,G01N 29/06 (2006.01) ,G01N 29/26 (2006.01) ,G01N 29/30 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
M
機械または構造物の静的または動的つり合い試験;他に分類されない構造物または装置の試験
99
このサブクラスの他のグループに分類されない主題事項
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
17
天候,腐蝕または光に対する耐久性の調査
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
29
超音波,音波または亜音波の使用による材料の調査または分析;超音波または音波を物体内に伝播させることによる物体内部の可視化
04
固体の分析
06
内部の可視化,例.音波顕微鏡検査
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
29
超音波,音波または亜音波の使用による材料の調査または分析;超音波または音波を物体内に伝播させることによる物体内部の可視化
22
細部
26
方向付けまたは走査のための構成
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
29
超音波,音波または亜音波の使用による材料の調査または分析;超音波または音波を物体内に伝播させることによる物体内部の可視化
22
細部
30
較正または比較のための構成,例.基準体を使用するもの
出願人:
三菱日立パワーシステムズ株式会社 MITSUBISHI HITACHI POWER SYSTEMS, LTD. [JP/JP]; 神奈川県横浜市西区みなとみらい三丁目3番1号 3-1, Minatomirai 3-Chome, Nishi-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2208401, JP
発明者:
本田 雅幹 HONDA, Masaki; JP
西尾 敏昭 NISHIO, Toshiaki; JP
駒井 伸好 KOMAI, Nobuyoshi; JP
時吉 巧 TOKIYOSHI, Takumi; JP
藤田 正昭 FUJITA, Masaaki; JP
富永 公彦 TOMINAGA, Kimihiko; JP
大山 博之 OHYAMA, Hiroyuki; JP
坂田 文稔 SAKATA, Fumitoshi; JP
豊嶋 耕一 TESHIMA, Koichi; JP
村上 英治 MURAKAMI, Eiji; JP
山口 明範 YAMAGUCHI, Akinori; JP
代理人:
誠真IP特許業務法人 SEISHIN IP PATENT FIRM, P.C.; 東京都港区三田三丁目13番16号 三田43MTビル13階 Mita 43MT Building 13th Floor, 13-16, Mita 3-Chome, Minato-ku, Tokyo 1080073, JP
優先権情報:
2017-16626730.08.2017JP
発明の名称: (EN) REMAINING LIFE EVALUATION METHOD AND MAINTENANCE MANAGEMENT METHOD
(FR) PROCÉDÉ D'ÉVALUATION DE DURÉE DE VIE RESTANTE ET PROCÉDÉ DE GESTION DE MAINTENANCE
(JA) 余寿命評価方法及び保守管理方法
要約:
(EN) A remaining life evaluation method according to at least one embodiment of the present invention is characterized: by comprising a step for finding the size and position of a crack in an evaluation target object by comparing a flaw signal obtained from a flaw in the evaluation target object with a crack determination threshold value, and a step for inputting the size and the position of the crack into a remaining life evaluation model to calculate the remaining life of the evaluation target object; and in that the crack determination threshold value is set so that at least a crack in a pseudo crack state in which a localized creep life consumption rate is from X% to 90% (where 50 < X < 90 is satisfied) can be determined.
(FR) Au moins un mode de réalisation de la présente invention concerne un procédé d'évaluation de durée de vie restante comprenant une étape consistant à trouver la taille et la position d'une fissure dans un objet cible d'évaluation par la comparaison d'un signal de défaut obtenu à partir d'un défaut dans l'objet cible d'évaluation avec une valeur de seuil de détermination de fissure, et une étape consistant à entrer la taille et la position de la fissure dans un modèle d'évaluation de durée de vie restante afin de calculer la durée de vie restante de l'objet cible d'évaluation; la valeur de seuil de détermination de fissure est définie de telle sorte qu'au moins une fissure dans un état de pseudo-fissure dans laquelle un taux de consommation de durée de vie de fluage localisé est compris entre X % et 90 % (avec 50
(JA) 本発明の少なくとも一実施形態に係る余寿命評価方法は、評価対象物の探傷により得られる探傷信号を亀裂判別用閾値と対比することで、前記評価対象物における亀裂の大きさ及び位置を求めるステップと、前記亀裂の前記大きさ及び前記位置を余寿命評価モデルに入力し、前記評価対象物の余寿命を求めるステップと、を備え、前記亀裂判別用閾値は、少なくとも、局部的なクリープ寿命消費率がX%以上90%以下(但し、50<X<90を満たす。)の疑似亀裂状態の亀裂を判別可能に設定された ことを特徴とする。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)