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1. (WO2019044487) 測距装置、及び、測距方法
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国際公開番号: WO/2019/044487 国際出願番号: PCT/JP2018/030253
国際公開日: 07.03.2019 国際出願日: 14.08.2018
IPC:
G01S 7/497 (2006.01) ,G01S 17/10 (2006.01) ,G01S 17/89 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
S
無線による方位測定;無線による航行;電波の使用による距離または速度の決定;電波の反射または再輻射を用いる位置測定または存在探知;その他の波を用いる類似の装置
7
グループ13/00,15/00,17/00による方式の細部
48
グループ17/00による方式のもの
497
監視または校正用の手段
G 物理学
01
測定;試験
S
無線による方位測定;無線による航行;電波の使用による距離または速度の決定;電波の反射または再輻射を用いる位置測定または存在探知;その他の波を用いる類似の装置
17
電波以外の電磁波の反射または再放射を使用する方式,例.ライダー方式
02
電波以外の電磁波の反射を使用する方式
06
対象物の位置データを決定する方式
08
距離のみを測定するためのもの
10
断続パルス変調波を送信するもの
G 物理学
01
測定;試験
S
無線による方位測定;無線による航行;電波の使用による距離または速度の決定;電波の反射または再輻射を用いる位置測定または存在探知;その他の波を用いる類似の装置
17
電波以外の電磁波の反射または再放射を使用する方式,例.ライダー方式
88
特定の応用に特に適合したライダー方式
89
マッピングまたはイメージング用のもの
出願人:
ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION [JP/JP]; 神奈川県厚木市旭町四丁目14番1号 4-14-1, Asahi-cho, Atsugi-shi, Kanagawa 2430014, JP
発明者:
天川 慶太郎 AMAGAWA Keitarou; JP
森山 祐介 MORIYAMA Yusuke; JP
代理人:
西川 孝 NISHIKAWA Takashi; JP
稲本 義雄 INAMOTO Yoshio; JP
優先権情報:
2017-16330428.08.2017JP
発明の名称: (EN) DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE DISTANCE ET PROCÉDÉ DE MESURE DE DISTANCE
(JA) 測距装置、及び、測距方法
要約:
(EN) The present invention pertains to a distance measuring device and a distance measuring method configured to enable distances to be measured with increased precision. A control unit: controls a light emission operation by supplying, to a light-emitting unit, a light emission timing signal for controlling a light emission operation that emits radiation light; and controls a light reception operation by supplying, to a light-receiving unit, a light reception timing signal for controlling a light reception operation that receives reflection light. A measurement unit uses the light emission timing signal and the light reception timing signal to measure the lag time between a light emission timing at which the light-emitting unit emits the radiation light and a light reception timing at which the light-receiving unit receives the reflection light. The present invention can be applied to distance measurement in a ToF scheme, for example.
(FR) La présente invention concerne un dispositif de mesure de distance et un procédé de mesure de distance conçus pour mesurer des distances avec une précision accrue. Une unité de commande : commande une opération d'émission de lumière en fournissant, à une unité d'émission de lumière, un signal de synchronisation d'émission de lumière permettant de commander une opération d'émission de lumière émettant une lumière de rayonnement; et commande une opération de réception de lumière en fournissant à une unité de réception de lumière un signal de synchronisation de réception de lumière permettant de commander une opération de réception de lumière recevant une lumière de réflexion. Une unité de mesure utilise le signal de synchronisation d'émission de lumière et le signal de synchronisation de réception de lumière pour mesurer le temps de retard entre un temps d'émission de lumière auquel l'unité d'émission de lumière émet la lumière de rayonnement et un temps de réception de lumière auquel l'unité de réception de lumière reçoit la lumière de réflexion. La présente invention peut être appliquée par exemple à une mesure de distance dans un système ToF.
(JA) 本技術は、測距の精度の向上を図ることができるようにする測距装置、及び、測距方法に関する。 制御部は、発光部に、照射光を発光する発光動作を制御するための発光タイミング信号を供給することにより、発光動作を制御するとともに、受光部に、反射光を受光する受光動作を制御するための受光タイミング信号を供給することにより、受光動作を制御する。計測部は、発光タイミング信号と、受光タイミング信号とを用いて、発光部が照射光を発光する発光タイミングと、受光部が反射光を受光する受光タイミングとのずれ時間を計測する。本技術は、例えば、ToF方式で測距を行う場合に適用できる。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)