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1. (WO2019044424) 撮影制御装置、方法およびプログラム
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国際公開番号: WO/2019/044424 国際出願番号: PCT/JP2018/029607
国際公開日: 07.03.2019 国際出願日: 07.08.2018
IPC:
G02B 21/00 (2006.01) ,G01N 21/27 (2006.01) ,G01N 21/45 (2006.01) ,G02B 7/28 (2006.01) ,G02B 21/26 (2006.01) ,G02B 21/36 (2006.01)
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25
色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
27
光電検出器を用いるもの
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
41
屈折率;位相に影響を与える性質,例.光路長
45
干渉法によるもの;シュリーレン法によるもの
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
7
光学要素用のマウント,調節手段,または光密結合
28
焦点調節信号の自動発生用のシステム
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
24
架台構造
26
載物台;その調節装置
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
36
写真撮影用または投影用に構成されたもの
出願人:
富士フイルム株式会社 FUJIFILM CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西麻布2丁目26番30号 26-30, Nishiazabu 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1068620, JP
発明者:
涌井 隆史 WAKUI Takashi; JP
代理人:
中島 順子 NAKASHIMA Junko; JP
米倉 潤造 YONEKURA Junzo; JP
村上 泰規 MURAKAMI Yasunori; JP
優先権情報:
2017-16396129.08.2017JP
発明の名称: (EN) IMAGING CONTROL DEVICE, METHOD, AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF, PROCÉDÉ ET PROGRAMME DE COMMANDE D'IMAGERIE
(JA) 撮影制御装置、方法およびプログラム
要約:
(EN) An imaging control device, method, and program that make it possible to accelerate autofocus control and to perform more accurate and highly reliable evaluations. According to the present invention, an autofocus control unit 21 performs autofocus control on the basis of a vertical-direction first position for a container at a target observation position, the first position having been detected by a displacement sensor that precedes the target observation position in a main scanning direction. On the basis of the first position and of a vertical-direction second position for the container at the target observation position, the second position having been detected by a displacement sensor that succeeds the target observation position in the main scanning direction, a processing control unit 23 controls processing that is for observation of the target observation position.
(FR) La présente invention concerne un dispositif, un procédé et un programme de commande d'imagerie qui permettent d'accélérer la commande de mise au point automatique et d'effectuer des évaluations plus précises et hautement fiables. Dans le cadre de la présente invention, une unité de commande de mise au point automatique (21) réalise une commande de mise au point automatique sur la base d'une première position de direction verticale d'un conteneur au niveau d'une position d'observation cible, la première position ayant été détectée par un capteur de déplacement qui précède la position d'observation cible dans une direction de balayage principale. Sur la base de la première position et d'une seconde position de direction verticale du conteneur au niveau de la position d'observation cible, la seconde position ayant été détectée par un capteur de déplacement qui se trouve après la position d'observation cible dans la direction de balayage principale, une unité de commande de traitement (23) commande le traitement à appliquer pour l'observation de la position d'observation cible.
(JA) 撮影制御装置、方法およびプログラムにおいて、オートフォーカス制御を高速化することができ、より正確かつ、信頼性の高い評価を行うことができるようにする。オートフォーカス制御部21が、主走査方向において対象観察位置に先行する変位センサによって検出された、対象観察位置における容器の鉛直方向の第1の位置に基づいて、オートフォーカス制御を行う。処理制御部23が、第1の位置、および主走査方向において対象観察位置に後続する変位センサによって検出された対象観察位置における容器の鉛直方向の第2の位置に基づいて、対象観察位置に対する観察のための処理を制御する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)