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1. (WO2019044250) 粒子検出センサ
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国際公開番号: WO/2019/044250 国際出願番号: PCT/JP2018/027221
国際公開日: 07.03.2019 国際出願日: 20.07.2018
IPC:
G01N 15/02 (2006.01) ,G01N 15/14 (2006.01) ,G01N 21/03 (2006.01) ,G01N 21/47 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
15
粒子の特徴の調査;多孔性材料の透過率,気孔量または表面積の調査
02
粒度または粒度分布の調査
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
15
粒子の特徴の調査;多孔性材料の透過率,気孔量または表面積の調査
10
個別の粒子の調査
14
電気光学的調査
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
01
光学的調査を容易に行なうための配置または装置
03
キュベット構造
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
47
散乱,すなわち拡散反射
出願人:
パナソニックIPマネジメント株式会社 PANASONIC INTELLECTUAL PROPERTY MANAGEMENT CO., LTD. [JP/JP]; 大阪府大阪市中央区城見2丁目1番61号 1-61, Shiromi 2-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5406207, JP
発明者:
永谷 吉祥 NAGATANI Yoshiharu; --
中川 貴司 NAKAGAWA Takashi; --
川人 圭子 KAWAHITO Keiko; --
安池 則之 YASUIKE Noriyuki; --
代理人:
鎌田 健司 KAMATA Kenji; JP
前田 浩夫 MAEDA Hiroo; JP
優先権情報:
2017-16448629.08.2017JP
発明の名称: (EN) PARTICLE DETECTION SENSOR
(FR) CAPTEUR DE DÉTECTION DE PARTICULES
(JA) 粒子検出センサ
要約:
(EN) A particle detection sensor (1) that detects a plurality of particles contained in a subject to be measured is provided with: a light projection unit (20) that outputs light toward a detection region (DA); a light receiving unit (30) which, in the cases where a particle to be detected, i.e., at least one of the particles, passes through the detection region (DA), receives light scattered by the particle; a housing (10), which houses the light projection unit (20) and the light receiving unit (30), and which has the detection region (DA) inside; and a signal processing circuit (50). The signal processing circuit (50) acquires the amount of intensity change of stray light over time, said stray light having been received by the light receiving unit (30) when the particles were not passing through the detection region (DA), then, on the basis of the acquired change amount over time, the signal processing circuit corrects the intensity of the scattering light thus received, and on the basis of corrected intensity of the scattering light thus received, classifies the particle into any one of the groups of a plurality of particle sizes, and identifies the number of detected particles, thereby calculating the mass concentration of the particles contained in the subject to be measured.
(FR) L'invention concerne un capteur de détection de particules (1) qui détecte une pluralité de particules contenues dans un sujet à mesurer, comprenant : une unité de projection de lumière (20) qui émet de la lumière vers une zone de détection (DA) ; une unité de réception de lumière (30) qui, dans les cas où une particule à détecter, c'est-à-dire au moins l'une des particules, passe à travers la zone de détection (DA), reçoit la lumière diffusée par la particule ; un boîtier (10), qui loge l'unité de projection de lumière (20) et l'unité de réception de lumière (30), et qui comprend la zone de détection (DA) en son sein ; et un circuit de traitement de signal (50). Le circuit de traitement de signal (50) acquiert la quantité de changement d'intensité de lumière parasite dans le temps, ladite lumière parasite ayant été reçue par l'unité de réception de lumière (30) lorsque les particules ne sont pas passées à travers la zone de détection (DA), puis, en fonction de la quantité de changement acquise dans le temps, le circuit de traitement de signal corrige l'intensité de la lumière de diffusion ainsi reçue, et en fonction de l'intensité corrigée de la lumière de diffusion ainsi reçue, classifie la particule dans l'un quelconque des groupes d'une pluralité de tailles de particules, et identifie le nombre de particules détectées, ce qui permet de calculer la concentration massique des particules contenues dans le sujet à mesurer.
(JA) 計測対象に含まれる複数の粒子を検出する粒子検出センサ(1)は、検出領域(DA)に向けて光を出射する投光部(20)と、複数の粒子の少なくとも1つである対象粒子が検出領域(DA)を通過した場合に、当該対象粒子による光の散乱光を受光する受光部(30)と、投光部(20)及び受光部(30)を収納し、内部に検出領域(DA)を有する筐体(10)と、信号処理回路(50)とを備え、信号処理回路(50)は、複数の粒子が検出領域(DA)を通過していない時に受光部(30)によって受光される迷光の受光強度の経時変化量を取得し、取得した経時変化量に基づいて、散乱光の受光強度を補正し、補正された散乱光の受光強度に基づいて、対象粒子を複数の粒子サイズのいずれかに分類し、かつ、検出された対象粒子の個数を特定することで、計測対象に含まれる粒子の質量濃度を算出する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)