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1. (WO2019039581) 試料観察方法、試料観察装置、及び顕微鏡
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国際公開番号: WO/2019/039581 国際出願番号: PCT/JP2018/031302
国際公開日: 28.02.2019 国際出願日: 24.08.2018
予備審査請求日: 26.04.2019
IPC:
G02B 21/00 (2006.01)
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
出願人:
大学共同利用機関法人情報・システム研究機構 INTER-UNIVERSITY RESEARCH INSTITUTE CORPORATION RESEARCH ORGANIZATION OF INFORMATION AND SYSTEMS [JP/JP]; 東京都立川市緑町10番3号 10-3 Midori-cho, Tachikawa-shi, Tokyo 1900014, JP
発明者:
島野 美保子 SHIMANO, Mihoko; JP
備瀬 竜馬 BISE, Ryoma; JP
鄭 銀強 ZHENG, Yinqiang; JP
佐藤 いまり SATO, Imari; JP
代理人:
岡田 賢治 OKADA, Kenji; JP
今下勝博 IMASHITA, Katsuhiro; JP
優先権情報:
2017-16263525.08.2017JP
発明の名称: (EN) SAMPLE OBSERVATION METHOD, SAMPLE OBSERVATION DEVICE, AND MICROSCOPE
(FR) PROCÉDÉ D'OBSERVATION D'ÉCHANTILLON, DISPOSITIF D'OBSERVATION D'ÉCHANTILLON ET MICROSCOPE
(JA) 試料観察方法、試料観察装置、及び顕微鏡
要約:
(EN) [Problem] The purpose of the present invention is to provide a transmission-type sample observation method and a transmission-type microscope that enable spatial spectrum analysis and clarification of an image of a sample even when the microscope has an adjustable-focal-point optical system. [Solution] In a sample observation method and sample observation device according to the present invention: observations are made in certain camera-side pixels; a large-region component (B) and a large-region component (C) that are present when an observation point is positioned in a dark-illumination part are removed from a direct component (A), the large-region component (B), and the large-region component (C) that are present when the observation point is positioned in a bright-illumination part, the direct component (A) being formed from observation-point light that is single-scattered from the observation point when focus has been achieved, the large-region component (B) being formed from light that is single-scattered from a non-focused point, and the large-region component (C) being formed from multiple-scattered light; and the direct component (A) is thereby extracted by using the difference between a focused state that can be used as pattern illumination of the bright- and dark-illumination parts and a non-focused state in which the pattern illumination is uniform.
(FR) Le but de la présente invention est de fournir un procédé d'observation d'échantillon de type transmission et un microscope de type transmission qui permettent une analyse spectrale spatiale et une clarification d'une image d'un échantillon même lorsque le microscope a un système optique à foyer réglable. Dans le procédé d'observation d'échantillon et le dispositif d'observation d'échantillon selon la présente invention : des observations sont effectuées dans certains pixels côté caméra; une composante de grande région (B) et une composante de grande région (C) qui sont présentes lorsqu'un point d'observation est positionné dans une partie d'éclairage sombre sont retirées d'une composante directe (A), de la composante de grande région (B) et de la composante de grande région (C) qui sont présentes lorsque le point d'observation est positionné dans une partie d'éclairage clair, la composante directe (A) étant formée à partir d'une lumière de point d'observation qui est à diffusion unique à partir du point d'observation lorsque la focalisation a été atteinte, la composante de grande région (B) étant formée à partir de la lumière qui est à diffusion unique à partir d'un point non focalisé, et la composante de grande région (C) étant formée à partir d'une lumière à diffusion multiple; et la composante directe (A) est ainsi extraite à l'aide de la différence entre un état focalisé qui peut être utilisé comme éclairage de motif des parties d'éclairage clair et sombre et un état non focalisé dans lequel l'éclairage de motif est uniforme.
(JA) 【課題】焦点調節可能な光学系を有する場合であっても、試料の画像の鮮明化や空間スペクトル解析を可能とする透過型試料観察方法及び透過型顕微鏡を提供することを目的とする。 【解決手段】本発明に係る試料観察方法及び試料観察装置は、カメラ側のあるピクセルにおいて観測される、照明の明部に観測点を位置させたときの、合焦での観測点からの観測点単一散乱光による直接成分(A)、非合焦点からの他点単一散乱光による大域成分(B)、及び多重散乱光による大域成分(C)から、照明の暗部に観測点を位置させたときの、大域成分(B)及び大域成分(C)を除去することで、明部と暗部のパターン照明として使用できる合焦状態と前記パターン照明が均一になる非合焦状態との間の差異を利用して直接成分(A)を取り出すこととした。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)