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1. (WO2019039551) メタマテリアル構造体および屈折率センサ
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国際公開番号: WO/2019/039551 国際出願番号: PCT/JP2018/031180
国際公開日: 28.02.2019 国際出願日: 23.08.2018
IPC:
G01N 21/41 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
41
屈折率;位相に影響を与える性質,例.光路長
出願人:
国立大学法人東北大学 TOHOKU UNIVERSITY [JP/JP]; 宮城県仙台市青葉区片平二丁目1番1号 2-1-1, Katahira, Aoba-ku, Sendai-shi, Miyagi 9808577, JP
発明者:
金森 義明 KANAMORI Yoshiaki; JP
羽根 一博 HANE Kazuhiro; JP
清水 友己 SHIMIZU Tomoki; JP
代理人:
須田 篤 SUDA Atsushi; JP
楠 修二 KUSUNOKI Shuji; JP
優先権情報:
2017-15984523.08.2017JP
発明の名称: (EN) METAMATERIAL STRUCTURE AND REFRACTIVE INDEX SENSOR
(FR) STRUCTURE DE MÉTAMATÉRIAU ET CAPTEUR D'INDICE DE RÉFRACTION
(JA) メタマテリアル構造体および屈折率センサ
要約:
(EN) [Problem] To provide a metamaterial structure and a refractive index sensor with which it is possible to perform precise measurement inexpensively. [Solution] A metamaterial structure 11 includes a microstructure 11a on the same level as the wavelength of incident light or less than or equal to the wavelength of incident light, and exhibits a wavelength selective optical response as a result of a strengthening, under resonance conditions, of optical coupling between the incident light and a surface plasmon mode which depends on the microstructure 11a. The microstructure 11a comprises a unit structure arranged with two-dimensional periodicity and rotational symmetry, and is polarization independent. A refractive index sensor 10 includes the metamaterial structure 11.
(FR) Le problème décrit par la présente invention est de fournir une structure de métamatériau et un capteur d'indice de réfraction avec lesquels il est possible d'effectuer une mesure précise à peu de frais. La solution selon l'invention porte sur une structure de métamatériau 11 qui comprend une microstructure 11a sur le même niveau que la longueur d'onde de la lumière incidente ou inférieure ou égale à la longueur d'onde de la lumière incidente, et présente une réponse optique sélective en longueur d'onde suite à un renforcement, dans des conditions de résonance, d'un couplage optique entre la lumière incidente et un mode de plasmon de surface qui dépend de la microstructure 11a. La microstructure 11a comprend une structure unitaire agencée avec une périodicité bidimensionnelle et une symétrie rotationnelle, et est indépendante de la polarisation. Un capteur d'indice de réfraction 10 comprend la structure de métamatériau 11.
(JA) 【課題】安価で且つ精密な測定を行うことができるメタマテリアル構造体および屈折率センサを提供する。 【解決手段】メタマテリアル構造体11は、入射光の波長と同程度又は入射光の波長以下の微細構造11aを有し、入射光と微細構造11aに依存した表面プラズモンモードとの光結合が共振条件で強くなることにより、波長選択的な光応答を示す。微細構造11aは、回転対称に二次元周期配列された単位構造から成り、偏光無依存である。屈折率センサ10は、メタマテリアル構造体11を有する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)