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1. (WO2019039329) 光検査装置、及び異常検出方法
Document

明 細 書

発明の名称 光検査装置、及び異常検出方法

技術分野

0001  

背景技術

0002  

先行技術文献

特許文献

0003  

発明の概要

発明が解決しようとする課題

0004   0005  

課題を解決するための手段

0006   0007   0008   0009   0010   0011   0012   0013   0014   0015   0016   0017   0018   0019   0020   0021   0022   0023   0024   0025   0026   0027   0028   0029   0030   0031   0032   0033  

発明の効果

0034  

図面の簡単な説明

0035  

発明を実施するための形態

0036   0037   0038   0039   0040   0041   0042   0043   0044   0045   0046   0047   0048   0049   0050   0051   0052   0053   0054   0055   0056   0057   0058   0059   0060   0061   0062   0063   0064   0065   0066   0067   0068   0069   0070   0071   0072   0073   0074   0075   0076   0077   0078   0079   0080   0081   0082   0083   0084   0085   0086   0087   0088   0089   0090   0091   0092   0093   0094   0095   0096   0097   0098   0099   0100   0101   0102   0103   0104   0105   0106   0107   0108   0109   0110   0111   0112   0113   0114   0115   0116   0117   0118   0119   0120   0121   0122   0123   0124   0125   0126   0127   0128   0129   0130   0131   0132   0133   0134   0135   0136   0137   0138   0139   0140   0141   0142   0143   0144   0145   0146   0147   0148   0149   0150   0151   0152   0153   0154   0155   0156   0157   0158   0159   0160   0161   0162   0163   0164   0165   0166  

産業上の利用可能性

0167  

符号の説明

0168  

請求の範囲

1   2   3   4   5   6   7   8   9   10   11   12   13   14   15   16   17   18   19   20   21   22   23   24   25   26  

図面

1   2   3   4   5   6   7   8   9   10   11   12   13   14   15   16   17   18   19  

明 細 書

発明の名称 : 光検査装置、及び異常検出方法

技術分野

[0001]
 本開示は、光検査装置、及び光検査装置における異常検出方法に関する。

背景技術

[0002]
 特許文献1には、魚等の切り身に寄生虫等の異物が含まれているか否かを検査するために、励起光照射部から紫外線等の励起光を切り身に照射し、異物から発生した蛍光を蛍光検出部によって検出する検出装置が記載されている。

先行技術文献

特許文献

[0003]
特許文献1 : 特開平1-311253号公報

発明の概要

発明が解決しようとする課題

[0004]
 特許文献1に記載された検出装置において、蛍光検出部は、励起光照射部から照射された励起光ではなく、異物から発生した蛍光を検出している。例えばランプ切れ等の異常が励起光照射部に生じた場合、蛍光検出部の検出信号は蛍光が検出されない状態のままとなる。このため、蛍光検出部の検出信号を見ても、蛍光を発生させる異物が検査領域内に存在しないのか、励起光照射部に異常が生じているのかを検出することができない。
[0005]
 そこで、本開示は、励起光照射部及び蛍光検出部の少なくともいずれかの異常の有無を検出可能な光検査装置、及び異常検出方法を説明する。

課題を解決するための手段

[0006]
 本開示に係る光検査装置は、被検査物を検査領域に搬送する搬送部と、被検査物に付着した異物に蛍光を発生させるための励起光を検査領域に照射する励起光照射部と、検査領域内に設置され、励起光によって蛍光を発生させる光変換部と、検査領域において、励起光によって異物が発生させた蛍光と励起光によって光変換部が発生させた蛍光とを検出し、検出した蛍光の検出信号を出力する蛍光検出部と、光変換部が発生させた蛍光の検出信号に基づいて、励起光照射部及び蛍光検出部の少なくともいずれかの異常の有無を検出する処理部と、を備える。
[0007]
 この光検査装置において、光変換部は、検査領域内に励起光が照射されている場合に蛍光を発生させる。このため、蛍光検出部は、検査領域内に搬送された被検査物に異物が付着しているか否かにかかわらず、光変換部が発生させた蛍光を検出することができる。ここで、励起光照射部及び蛍光検出部の少なくともいずれかに異常が生じた場合、光変換部が発生させた蛍光の検出信号にも異常が生じる。従って、処理部は、光変換部が発生させた蛍光の検出信号に基づいて、励起光照射部及び蛍光検出部の少なくともいずれかの異常の有無を検出することができる。
[0008]
 光検査装置において、処理部は、光変換部が発生させた蛍光の検出信号の有無に基づいて、励起光照射部及び蛍光検出部の少なくともいずれかの異常の有無を検出してもよい。光変換部が発生させた蛍光の検出信号が無い場合とは、励起光が照射されていないために光変換部が蛍光を発生させていない場合又は光変換部が蛍光を発生させているものの発生させた蛍光が検出されていない場合である。このため、処理部は、光変換部が発生させた蛍光の検出信号の有無を判定するだけで、励起光照射部及び蛍光検出部の少なくともいずれかの異常の有無を容易に検出できる。
[0009]
 光検査装置において、検査領域は、第1領域と、第1領域とは異なる第2領域とを含み、光変換部は、第1領域内に設置され、搬送部は、被検査物を第2領域に搬送してもよい。この場合、処理部は、異物が発生させた蛍光の検出信号と、光変換部が発生させた蛍光の検出信号とを容易に識別できる。
[0010]
 光検査装置は、搬送部における被検査物の搬送を制御する搬送制御部を更に備え、搬送制御部は、処理部によって励起光照射部及び蛍光検出部の少なくともいずれかに異常が有りと検出された場合、搬送部における被検査物の搬送を停止させてもよい。これにより、光検査装置は、搬送部によって被検査物が次々と搬送される場合であっても、励起光照射部等の異常によって異物の検出が正しくできない状態のまま検査領域に被検査物が搬送され続けることを防止できる。
[0011]
 光検査装置において、光検査装置は、検査領域を覆う筐体を更に備え、光変換部は、筐体に固定されていてもよい。この場合、光変換部は、筐体を用いて検査領域内に容易に設置され得る。
[0012]
 光検査装置において、筐体は、搬送部に対して離間可能に設けられていてもよい。この場合、例えば、作業者が搬送部の清掃作業等を行うときに筐体を搬送部から離間させることが可能となる。これにより、作業者は、搬送部の掃除作業等を容易に行うことができる。
[0013]
 光検査装置において処理部は、蛍光検出部から出力される検出信号の出力強度を更に調整し、検出信号は、検査領域内の前記蛍光の検出強度を含み、処理部は、検出信号における蛍光の検出強度と、予め定められた基準強度とに基づいて、検出信号の出力強度を調整してもよい。ここで、検出信号における蛍光の検出強度は、励起光照射部及び蛍光検出部の性能の変化によって変化する。このため、検出信号における蛍光の検出強度に基づいて検出信号の出力強度を調整することにより、処理部は、励起光照射部及び蛍光検出部の性能の変化に応じて検出信号の出力強度を調整できる。このように、光検査装置は、励起光照射部及び蛍光検出部の性能の変化に応じて、蛍光検出部から出力される検出信号の出力強度を調整することができる。
[0014]
 光検査装置において、検出信号は、検査領域内の各位置での蛍光の検出強度を含み、処理部は、検出信号における光変換部の設置位置での蛍光の検出強度と、予め定められた基準強度とに基づいて、検出信号の出力強度を調整してもよい。光変換部の設置位置での蛍光の検出強度を用いることにより、検出信号の出力強度の調整の際に用いる蛍光の検出強度に、異物が発生させた蛍光の影響が含まれることが抑制される。これにより、処理部は、検出信号の出力強度を精度よく調整できる。
[0015]
 光検査装置において、予め定められた基準強度は、蛍光検出部によって過去に検出された光変換部の設置位置での蛍光の検出強度であってもよい。この場合、処理部は、励起光照射部及び蛍光検出部の性能が変化する前の蛍光の検出強度を用いて、検出信号の出力強度を調整できる。
[0016]
 光検査装置において、処理部は、搬送部が被検査物の搬送を開始する前に検出信号の出力強度を調整してもよい。この場合、被検査物の検査を開始する前に、検出信号の出力強度が調整される。
[0017]
 光検査装置は、励起光照射部における励起光照射領域内に設置されると共に励起光を検出し、検出した励起光の検出信号を出力する励起光検出部を更に備え、処理部は、蛍光検出部から出力された検出信号であり異物が発生させた蛍光の検出信号に基づいて被検査物の画像を生成してもよい。この光検査装置では、励起光照射部における励起光照射領域内に設置されると共に励起光を検出し、検出した励起光の検出信号を出力する励起光検出部を備えている。このため、例えば、励起光検出部の検出信号に基づいて、励起光照射部の異常の有無を取得したり、励起光検出部が検出する検出強度に基づいて、励起光照射部の状態を取得したりすることが可能になる。これにより、励起光照射部の異常の有無を適切に把握でき、また、励起光照射部の状態に合わせた調整が適切に行えるようになる。この結果、異物の検出精度を維持することができる。
[0018]
 処理部は、励起光検出部が出力する検出信号に基づいて、励起光照射部の異常の有無を検出してもよい。この光検査装置では、被検査物に付着した異物からの蛍光を蛍光検出部が取得している状態でなくとも、励起光検出部が励起光照射部から照射された励起光を検出することができる。従って、処理部は、励起光検出部が出力する検出信号に基づいて、励起光照射部の異常の有無を検出することができる。
[0019]
 処理部は、励起光検出部が出力する検出信号の有無に基づいて、励起光照射部の異常の有無を検出してもよい。励起光検出部が出力する検出信号が無い場合とは、励起光が照射されていないために励起光検出部が励起光を検出していない場合である。このため、処理部は、励起光検出部が出力する検出信号の有無を判定するだけで、励起光照射部の異常の有無を容易に検出できる。
[0020]
 光検査装置は、搬送部における被検査物の搬送を制御する搬送制御部を更に備え、搬送制御部は、処理部によって励起光照射部に異常が有りと検出された場合、搬送部における被検査物の搬送を停止させてもよい。この場合、光検査装置は、搬送部によって被検査物が次々と搬送される場合であっても、異物の検出が正しくできない状態のまま検査領域に被検査物が搬送され続けることを防止できる。
[0021]
 処理部は、励起光検出部が出力する検出信号の検出強度と、予め定められた基準強度と、に基づいて、蛍光検出部における出力強度を調整してもよい。この光検査装置によれば、励起光照射部の照射出力が減衰した場合であっても、その減衰に応じて蛍光検出部の出力強度を高めることができる。このため、異物の検出精度の低下を抑制することができる。
[0022]
 処理部は、励起光検出部が出力する検出信号の検出強度と基準強度とに基づいて検出強度の低下量を取得し、低下量に基づいて蛍光検出部における出力強度を調整してもよい。この場合、検出強度の低下量に応じて蛍光検出部の出力強度が適切に調整されるので、異物の検出精度の低下を抑制することができる。
[0023]
 光検査装置は、搬送部によって搬送される被検査物が通過可能に搬送部の上方に配置される台座部と、台座部の上部に配置され、少なくとも蛍光検出部を収容する保護ケースと、上方から見た平面視において台座部を外側から覆う保護部と、を更に備えてもよい。この光検査装置は、鉛直方向上方から見た平面視において台座部を外側から覆う保護部を備える。これにより、保護ケースと台座部との接合部が保護部によって外側から覆われるので、保護ケースの外部から保護ケースの内部に光が侵入することを防止できる。従って、微弱な蛍光も識別できるようになり、検出精度を高めることができる。
[0024]
 保護部は、上方から見た平面視において台座部の外側に配置され、保護部の下端は、台座部の上端よりも低い位置に位置していてもよい。この構成の光検査装置では、保護ケースの外部から保護ケースの内部に光が直線的に入ることを防止できるので、保護ケースの内部の遮光性を更に高めることができる。
[0025]
 保護部は、台座部を囲むように枠状に配置されていてもよい。この構成の光検査装置では、保護ケースと台座部との接合部の全てを覆うように保護部が配置されるので、保護ケース内部の遮光性を更に高めることができる。
[0026]
 保護部は、保護ケースに形成されてもよい。この構成の光検査装置では、保護ケースと台座部との接合時に、保護部となる保護部材を所定の位置に別途配置するような手間を省略できるので、接合時の作業性が向上する。
[0027]
 保護ケースは、開口部を有する箱状の本体部と、開口部の周囲から張り出した鍔部と、を有しており、保護部は、鍔部に形成されてもよい。この構成の光検査装置では、鍔部の張り出した長さの分、保護ケースの外部と保護ケースの内部との間の光の侵入経路を長くすることができる。これにより、保護ケース内部の遮光性を更に高めることができる。また、保護ケースと台座部との間に配置されるシール部材を配置する場合には、鍔部の張り出した長さの分、シール部材の幅(張り出し方向における長さ)を大きくすることができるので、保護ケース内部の密閉性を更に高めることができる。
[0028]
 鍔部の上面は、張り出し方向に向かって、下方に傾斜していてもよい。これにより、保護ケースに水がかかった場合でも、鍔部に水が滞留することが抑制され、部材の劣化が抑制できる。
[0029]
 台座部は、保護ケースの開口部よりも面積が小さな窓部を有し、蛍光検出部は、窓部を介して、異物から発せられる蛍光を検出してもよい。この構成の光検査装置では、接合部以外からの光の侵入を抑制できるので、保護ケース内部の遮光性を更に高めることができる。
[0030]
 光検査装置は、蛍光の波長帯以外の波長帯の光を減衰させるフィルタを更に備え、蛍光検出部は、当該蛍光検出部の光取込部に入射した蛍光を検出し、フィルタは、光取込部に対向する位置に設けられていてもよい。この場合、蛍光以外の光が蛍光検出部の光取込部に入射することが抑制される。これにより、光検査装置は、蛍光検出部の検出精度を向上させることが可能となる。
[0031]
 光検査装置において、搬送部における被検査物が載置される載置面には、励起光の反射防止処理が施されていてもよい。これにより、被検査物周辺の載置面で反射された励起光の反射光が蛍光検出部に入射する割合を減少させることができる。
[0032]
 本開示に係る異常検出方法は、検査領域に搬送された被検査物に励起光を照射して被検査物に付着する異物を検出すると共に、励起光によって蛍光を発生させる光変換部が検査領域内に設置された光検査装置における異常検出方法であって、異物及び光変換部に蛍光を発生させるための励起光を検査領域に照射させる制御信号を励起光照射部に入力する照射ステップと、検査領域において、励起光照射部が照射した励起光によって光変換部が発生させた蛍光を蛍光検出部が検出する蛍光検出ステップと、蛍光検出ステップで検出された光変換部が発生させた蛍光に基づいて、励起光照射部及び蛍光検出部の少なくともいずれかの異常の有無を処理部が検出する異常検出ステップと、を含む。
[0033]
 この光検査装置には、検査領域内に光変換部が設置されている。光変換部は、照射ステップにおいて励起光照射部が励起光を検査領域内に照射している場合に蛍光を発生させる。このため、蛍光検出ステップにおいて蛍光検出部は、検査領域内に搬送された被検査物に異物が付着しているか否かにかかわらず、光変換部が発生させた蛍光を検出することができる。ここで、励起光照射部及び蛍光検出部の少なくともいずれかに異常が生じた場合、光変換部が発生させた蛍光の検出信号にも異常が生じる。従って、異常検出ステップにおいて処理部は、光変換部が発生させた蛍光の検出信号に基づいて、励起光照射部及び蛍光検出部の少なくともいずれかの異常の有無を検出することができる。

発明の効果

[0034]
 本開示によれば、励起光照射部及び蛍光検出部の少なくともいずれかの異常の有無を検出できる。

図面の簡単な説明

[0035]
[図1] 第1実施形態の光検査装置の構成図である。
[図2] 図1の光検査装置の筐体を、搬入口側から見た側面図である。
[図3] 搬送部上に筐体が配置された状態の光検査装置全体を示した斜視図である。
[図4] 搬送部から筐体が離間された状態の光検査装置全体を示した斜視図である。
[図5] 被検査物の搬送方向(X軸方向)に沿って見た場合の検査領域を示す概略図である。
[図6] 検出部からコンベアベルト側を見た場合の検査領域を示す概略図である。
[図7] 異常検出方法における処理の流れを示すフローチャートである。
[図8] 図1の接合部を拡大して示した断面図である。
[図9] 図1の保護ケースを下方から見た下面図である。
[図10] 第1実施形態の変形例に係る接合部を拡大して示した断面図である。
[図11] 第2実施形態の光検査装置の構成図である。
[図12] 蛍光の検出信号に基づいて生成された画像例を示す図である。
[図13] 検査領域内の各位置における蛍光の検出強度を示すグラフである。
[図14] 出力強度調整方法における処理の流れを示すフローチャートである。
[図15] 第3実施形態の光検査装置の構成図である。
[図16] 図15の光検査装置の筐体を、搬入口側から見た側面図である。
[図17] 搬送部から筐体が離間された状態の光検査装置全体を示した斜視図である。
[図18] 異常検出方法における処理の流れを示すフローチャートである。
[図19] 出力強度調整方法における処理の流れを示すフローチャートである。

発明を実施するための形態

[0036]
 以下、添付図面を参照して、実施形態について詳細に説明する。なお、図面の説明において同一又は相当要素には同一符号を付し、重複する説明は省略する。
[0037]
(第1実施形態)
 まず、第1実施形態について説明する。なお、以下では説明の便宜のために、図1~図6等に示されるように、搬送部3の搬送方向Aに沿う方向をX軸、搬送部3の幅方向(図1の紙面奥行方向)をY軸、搬送部3の搬送面31aに直交する方向をZ軸として設定した。X軸、Y軸、及びZ軸は互いに直交する。他の実施形態についても同様とする。
[0038]
 図1に示されるように、光検査装置1は、筐体2と、搬送部3と、励起光照射部4と、検出部5と、処理部6と、表示部7と、光変換部8と、脚部9(図3参照)と、を備える。光検査装置1は、被検査物Sに異物Fが含まれているか否かを検査するための装置である。被検査物Sは、主に、サバ、アジ、イカ、イワシ、サケ、サンマ、ホッケ等の魚介類の切り身であり、異物Fは、主に、アニサキス、ブリ線虫等の寄生虫である。
[0039]
 図1及び図2に示されるように、筐体2は、検査領域Rを覆い、外部の光(屋内の人工灯又は自然光等)から検査領域Rを遮蔽する。なお、検査領域Rは、筐体2の内部領域Lのうち、検出部5が蛍光を検出する3次元の領域である。筐体2は、台座部21と、保護ケース23と、を有する。
[0040]
 台座部21は、搬送部3によって搬送される被検査物Sが通過可能に搬送部3の上方に配置されている。台座部21には、内部領域Lに被検査物Sを搬入するための搬入口21a、及び内部領域Lから被検査物Sを搬出するための搬出口21bが形成されている。なお、筐体2内には、台座部21の搬入口21a及び搬出口21b等を介して外部の光が進入し得るが、内部領域Lは、台座部21及び保護ケース23によって外部の光から十分に遮蔽されている。つまり、筐体2は、後述する蛍光の検出が阻害されないように外部の光から内部領域L(検査領域R)を遮蔽するものであればよく、外部の光から内部領域Lを完全に遮蔽するものである必要はない。
[0041]
 保護ケース23は、台座部21の上部に接合(配置)され、励起光照射部4及び検出部5を収容する。保護ケース23は、ステンレススチール等の金属、又はプラスチック樹脂等の材料から形成されている。保護ケース23は、開口部24aを有する箱状の本体部24と、開口部24aの周囲から張り出した鍔部25と、を有する。台座部21と保護ケース23とは、例えば、鍔部25に形成された挿通孔にボルトB(図3参照)が挿通され、その挿通されたボルト(締結部)Bが台座部21に形成されたネジ孔に取り付けられることにより接合される。ボルトBは、保護ケース23の上方から締結作業又は締結解除作業が可能に設けられている。また、ボルトBは、ボルトBを挿通可能なカラー部材27Aを介してシール部材27を貫通している(図8参照)。
[0042]
 台座部21は、保護ケース23の開口部24aよりも面積が小さな窓部21cを有する。窓部21cには、PMMA(ポリメタクリル酸メチル)樹脂、プラスチック樹脂、又はガラス等からなる光透過性の透明部材21dが嵌め込まれている。これにより、搬送部3から本体部24の内部に粉塵又は水等が侵入することが防止される。窓部21cは、窓部21cを介して異物Fから発せられる蛍光を検出部5が検出することが阻害されないようなサイズ、かつ検査領域Rに励起光照射部4の励起光が照射可能なサイズに形成されている。なお、台座部21と保護ケース23との接合部Jについては、後段にて詳細に説明する。
[0043]
 搬送部3は、被検査物Sを検査領域Rに搬送する。搬送部3は、無端状のコンベアベルト31と、一対のローラ32と、支持部33と、駆動モータ34と、搬送制御部35と、を有する。
[0044]
 コンベアベルト31は、XY平面(互いに直交するX軸及びY軸を含む平面であって、例えば、水平面)に平行な搬送面(載置面)31aを有する。コンベアベルト31は、搬送面31aに載置された被検査物SをX軸に平行な搬送方向Aに沿って搬入口21aから搬出口21bまで搬送する。コンベアベルト31の表面(搬送面31aを構成する表面)には、後述する励起光の反射を抑制する反射防止処理が施されている。反射防止処理は、例えば、励起光に対して光吸収性を有する染料を用いた色付けである。そのようなコンベアベルト31の一例としては、カーボンを含有させた黒色ベルトが挙げられる。
[0045]
 一対のローラ32は、無端状のコンベアベルト31の内側に配置され、コンベアベルト31を支持する。駆動モータ34は、ローラ32を回転駆動する。駆動モータ34がローラ32を回転させることにより、一対のローラ32の周りをコンベアベルト31の搬送面31aが移動する。搬送制御部35は、駆動モータ34の駆動を制御する。支持部33は、ローラ32を着脱自在に支持する。支持部33は、脚部9によって支持される。
[0046]
 図3及び図4に示されるように、筐体2は、搬送部3に対して離間する方向に移動可能に設けられている。具体的には、台座部21が、搬送方向に延在する回転軸28を介して搬送部3の支持部33に支持され、台座部21及び保護ケース23が、搬送部3から離間する方向に移動可能に設けられる。台座部21が、搬送部3から離間する方向に移動した場合、台座部21に接合される保護ケース23も一体的に搬送部3から離間する方向に移動する。搬送部3上に筐体2が配置された状態にあるとき、台座部21と支持部33とは、固定部29によって互いに固定される。
[0047]
 脚部9は、筐体2及び搬送部3を支持する。
[0048]
 図1に示されるように、励起光照射部4は、被検査物Sに付着した異物Fに蛍光を発生させるための励起光を検査領域Rに照射する。具体的には、励起光照射部4は、検査領域Rのうち、光変換部8と、搬送された被検査物Sが通過する領域と、を含む領域内に励起光を照射する。励起光照射部4は、保護ケース23の内壁面に取り付けられており、搬送面31aの一方の側(X軸及びY軸に直交するZ軸に平行な方向における搬送面31aの一方の側であって、例えば、鉛直方向における搬送面31aの上側)から光変換部8及び被検査物Sに励起光を照射する。
[0049]
 励起光照射部4は、光源41と、集光部42と、第1光学フィルタ43と、を有している。光源41は、Y軸に平行な方向に沿って配列された複数の発光素子(例えば、発光ダイオード)を有している。光源41は、処理部6から入力された制御信号に基づいて、図示しない電源から電力の供給を受けて励起光を照射する。集光部42は、光学素子(例えば、シリンドリカルレンズ)であって、光源41から照射された励起光を、検査領域Rのうち、光変換部8と、搬送された被検査物Sが通過する領域と、を含む範囲に集光する。ここでは、集光部42は、光源41から照射された発散光を平行光に集光する。第1光学フィルタ43は、励起光を透過させる一方で、励起光の波長帯よりも長波長側の光を減衰させる。例えば、励起光が紫外域の波長帯を有する場合には、第1光学フィルタ43は、可視域の波長帯を有する光を減衰させる。
[0050]
 光変換部8は、検査領域R内に設置され、励起光照射部4が照射する励起光によって蛍光を発生させる。光変換部8は、図2及び図4に示されるように、台座部21の内壁面21eに固定されている。光変換部8は、蛍光部81と、固定部85と、を有している。固定部85の一方の端部は内壁面21eに固定され、他方の端部はコンベアベルト31に向けて延びている。蛍光部81は、固定部85における検出部5側の面に取り付けられている。蛍光部81は、励起光照射部4が照射する励起光によって蛍光を発生させる。本実施形態において、蛍光部81は、励起光によって蛍光を発生させる蛍光層と粘着層とによって構成され、固定部85に貼り付けられている。蛍光部81において蛍光を発生させる材料としては、例えば、青色系の蛍光を発生させるハロけい酸塩又はアルミン酸塩等が用いられる。
[0051]
 検出部5は、予め設定された検査領域R内で発生した蛍光を検出する。検出部5は、筐体2の内壁面に取り付けられており、搬送面31aの一方の側(X軸及びY軸に直交するZ軸に平行な方向における搬送面31aの一方の側であって、例えば、鉛直方向における搬送面31aの上側)から蛍光を検出する。
[0052]
 検出部5は、第2光学フィルタ51と、蛍光検出部52と、を有している。蛍光検出部52は、ラインセンサを構成している。蛍光検出部52は、Y軸に平行な方向(搬送面31aに垂直な方向から見た場合に、搬送方向Aと交差する交差方向)に沿って配列された複数の光検出素子を有している。この光検出素子は、例えばフォトダイオード等の受光素子であって、蛍光検出部52の光取込部52aに入射した蛍光を検出する。蛍光検出部52は、検査領域Rにおいて異物Fが発生させた蛍光と光変換部8が発生させた蛍光とを検出し、検出した蛍光の検出信号を出力する。
[0053]
 ここで、図5及び図6に示されるように、蛍光検出部52は、コンベアベルト31の幅方向(Y軸に平行な方向)に沿って広がる領域を検査領域Rとする。なお図5及び図6は、筐体2等が省略されて、要部のみ示されている。検査領域Rは、第1領域R1と、第2領域R2と、含んでいる。第1領域R1と第2領域R2とは、検出部5とコンベアベルト31の搬送面31aとが対向する方向に対して直交する方向に沿って並んでいる。本実施形態において、第1領域R1と第2領域R2とは、コンベアベルト31の幅方向(Y軸に平行な方向)に沿って並んでいる。光変換部8は、第1領域R1内に設置されている。搬送部3は、被検査物Sをコンベアベルト31によって第2領域R2に搬送する。すなわち、第1領域R1は、検出部5から光変換部8に向かう領域である。第2領域R2は、検出部5からコンベアベルト31に向かう領域である。なお、第1領域R1及び第2領域R2は、検出部5とコンベアベルト31の搬送面31aとが対向する方向に対して直交する方向(本実施形態ではコンベアベルト31の幅方向)に沿って並んでいれば、上方から見たとき(Z軸方向に沿って見たとき)に、第1領域R1と第2領域R2とが互いにオーバーラップする部分があってもよい。
[0054]
 蛍光検出部52が出力する蛍光の検出信号には、第1領域R1で蛍光が発生しているか否か(すなわち光変換部8によって蛍光が発生しているか否か)、及び、第2領域R2で蛍光が発生しているか否か(すなわち異物Fによって蛍光が発生しているか否か)の情報を含んでいる。
[0055]
 第2光学フィルタ51は、異物F及び光変換部8が発生させた蛍光を透過させる一方で、蛍光の波長帯以外の波長帯の光を減衰させる。本実施形態において第2光学フィルタ51は、蛍光の波長帯よりも短波長側の光を減衰させる。例えば、蛍光が可視域の波長帯を有する場合には、第2光学フィルタ51は、紫外域の波長帯を有する光を減衰させる。第2光学フィルタ51は、蛍光検出部52の光取込部52aに対向する位置に設けられている。蛍光検出部52の各光検出素子は、第2光学フィルタ51を透過した蛍光を検出する。
[0056]
 励起光照射部4が被検査物Sに照射する励起光は、異物F及び光変換部8に蛍光を発生させるための光であって、例えば、紫外域の波長帯を有する光である。励起光の照射によって異物F及び光変換部8が発生する蛍光は、励起光の波長とは異なる波長を有する光であって、例えば、可視域の波長帯を有する光である。なお、励起光の中心波長は、蛍光の中心波長に対してずれていればよい。つまり、励起光及び蛍光については、少なくとも互いの中心波長(ピーク波長)がずれていれば、互いの波長帯が完全にずれている必要はない。ただし、励起光の波長帯と蛍光の波長帯とは、完全にずれていてもよい。
[0057]
 処理部6は、検出部5から出力された蛍光の検出信号に基づいて画像を生成する。表示部7は、処理部6によって生成された画像を表示する。
[0058]
 また、処理部6は、使用者等による異物Fの検出の開始の指示に基づいて、励起光照射部4に制御信号を出力することによって光源41から励起光を照射させる。さらに、処理部6は、励起光照射部4及び蛍光検出部52の少なくともいずれかの異常の有無を検出する異常検出部としても機能する。処理部6は、励起光を照射させる電力が励起光照射部4に供給されている間、異常の有無を検出する。以下、処理部6における励起光照射部4等の異常の有無を検出する異常検出処理の詳細について説明する。
[0059]
 処理部6は、検出部5から出力された蛍光の検出信号のうち光変換部8が発生させた蛍光の検出信号に基づいて、励起光照射部4及び蛍光検出部52の少なくともいずれかの異常の有無を検出する。
[0060]
 ここで、光変換部8は、励起光照射部4から検査領域R内に励起光が照射されている場合に蛍光を発生させる。従って、励起光照射部4及び蛍光検出部52に異常が無い場合、蛍光検出部52は、励起光照射部4から照射された励起光によって光変換部8が発生させた蛍光を検出できる。しかしながら、励起光照射部4及び蛍光検出部52の少なくともいずれかに異常が生じた場合、蛍光検出部52は、光変換部8が発生させた蛍光を検出できない。また、励起光照射部4の取り付け角度にズレが生じて励起光が光変換部8に照射されていない場合、蛍光検出部52は、光変換部8が発生させた蛍光を検出できない。検出部5の取り付け角度にズレが生じて光変換部8が発生させた蛍光が蛍光検出部52の光取込部52aに入射していない場合、蛍光検出部52は、光変換部8が発生させた蛍光を検出できない。
[0061]
 このため、処理部6は、励起光を照射させる電力が光源41に供給されているか否かに関わらず、光変換部8が発生させた蛍光の検出信号が無い場合、すなわち、光変換部8の蛍光が検出できない場合、励起光照射部4及び蛍光検出部52の少なくともいずれかに異常が有りと検出する。処理部6は、異常が有りと検出した場合、異常が発生していることを示す警報表示等を表示部7に表示させてもよい。処理部6は、異常が有りと検出した場合、異常が発生していることを示す警報音等をスピーカ等から出力させたり、ランプを点灯させたりしてもよい。搬送部3の搬送制御部35は、処理部6によって異常が有りと検出された場合、駆動モータ34を停止させて、コンベアベルト31による被検査物Sの搬送を停止させる。処理部6は、上述した異常の有無の検出を、使用者等による異物Fの検出の開始の指示の後、異物Fの検出の終了の指示がされるまでの間、継続して繰り返し行う。
[0062]
 なお、処理部6は、例えば、CPU[Central Processing Unit]、ROM[Read Only Memory]、及びRAM[Random Access Memory]等を有する電子制御ユニットである。処理部6では、例えば、ROMに記憶されているプログラムをRAMにロードし、RAMにロードされたプログラムをCPUで実行することにより各種の機能が実現される。処理部6は、複数の電子制御ユニットから構成されていてもよい。
[0063]
 搬送制御部35は、処理部6と同様の構成を有する電子制御ユニットである。なお、処理部6と搬送制御部35とは、一つの電子制御ユニットとして構成されていてもよい。
[0064]
 次に、光検査装置1において励起光照射部4及び蛍光検出部52の少なくともいずれかの異常の有無を検出する異常検出方法の処理の流れについて、図7のフローチャートを用いて説明する。なお、図7に示される処理は、使用者等による異物Fの検出の開始の指示に基づいて開始され、使用者等による異物Fの検出の終了の指示に基づいて終了する。また、図7に示される処理は、処理がエンドに至った後、再びスタートから処理が開始される。
[0065]
 図7に示されるように、処理部6は、光源41によって励起光を検査領域Rに照射させために、励起光を照射させる制御信号を光源41に出力する(S101:照射ステップ)。蛍光検出部52は、検査領域Rにおいて励起光によって発生した蛍光を検出する(S102:蛍光検出ステップ)。処理部6は、蛍光検出部52で検出された光変換部8が発生させた蛍光の検出信号に基づいて、励起光照射部4及び蛍光検出部52の少なくともいずれかの異常の有無を検出する(S103:異常検出ステップ)。
[0066]
 次に、台座部21と保護ケース23との接合部Jについて、主に図8及び図9を用いて詳細に説明する。図8及び図9に示されるように、台座部21と保護ケース23とは、弾性を有するシール部材27を介して接合されている。接合される前の状態において、シール部材27は、例えば、シリコンゴム(ケイ素樹脂)等の弾性の材料から形成されており、そのZ軸方向厚みT1は、2mm~5mm程度、XY平面に沿う幅は10mm~50mm程度である。シール部材27は、鍔部25と台座部21との間に鍔部25の延在方向に沿って、枠状に配置されている。シール部材27は、カラー部材27Aを介してボルトBが上下方向に貫通されている。
[0067]
 Z軸方向上方から見た平面視においてシール部材27の外側には保護部26が配置されている。また、保護部26は、上方から見た平面視において台座部21の外側面21fを外側から覆う。保護部26は、保護ケース23の一部分として一体的に形成されている。更に詳細には、保護部26は、鍔部25に、Z軸方向下方に突出するように形成されている。保護部26は、枠状のシール部材27及び台座部21の外側面21fを囲むように枠状に形成されている。また、保護部26は、Z軸方向上方から見た平面視において台座部21の外側面21fよりもXY平面において外側に配置されており、保護部26の下端26aは、台座部21の上端21gよりも低い位置に位置している。なお、シール部材27は、両面テープ等で保護部26に接着(固定)されていてもよい。このように構成すれば、シール部材の位置を固定させると共に密着させることが可能となり、遮光性、防塵性及び防水性が更に高まる。
[0068]
 以上説明したように、光検査装置1において、光変換部8は、検査領域R内に励起光が照射されている場合に蛍光を発生させる。このため、検出部5は、検査領域R内に搬送された被検査物Sに異物が付着しているか否かにかかわらず、光変換部8が発生させた蛍光を検出することができる。ここで、励起光照射部4及び蛍光検出部52の少なくともいずれかに異常が生じた場合、光変換部8が発生させた蛍光の検出信号にも異常が生じる。従って、処理部6は、光変換部8が発生させた蛍光の検出信号に基づいて、励起光照射部4及び蛍光検出部52の少なくともいずれかの異常の有無を検出することができる。その結果、励起光照射部4及び蛍光検出部52に異常が発生した状態で被検査物Sの検査が行われることが抑制される。
[0069]
 処理部6は、光変換部8が発生させた蛍光の検出信号の有無に基づいて、励起光照射部4及び蛍光検出部52の少なくともいずれかの異常の有無を検出する。ここで、光変換部8が発生させた蛍光の検出信号が無い場合とは、励起光が照射されていないために光変換部8が蛍光を発生させていない場合又は光変換部8が蛍光を発生させているものの発生させた蛍光が検出されていない場合である。このため、処理部6は、光変換部8が発生させた蛍光の検出信号の有無を判定するだけで、励起光照射部4及び蛍光検出部52の少なくともいずれかの異常の有無を容易に検出できる。
[0070]
 光変換部8は、検査領域Rの第1領域R1に配置される。検査領域Rの第2領域R2には、被検査物Sが搬送される。このように、光変換部8と被検査物Sとは、検査領域R内の異なる領域に配置及び搬送される。この場合、処理部6は、異物Fが発生させた蛍光の検出信号と、光変換部8が発生させた蛍光の検出信号とを容易に識別できる。
[0071]
 搬送制御部35は、処理部6によって励起光照射部4等に異常が有りと判定された場合、搬送部3における被検査物Sの搬送を停止させる。これにより、光検査装置1は、搬送部3によって被検査物Sが次々と搬送される場合であっても、励起光照射部4等の異常によって異物Fの検出が正しくできない状態のまま検査領域Rに被検査物Sが搬送され続け、被検査物Sが次々と検査領域Rを通過していくことを防止できる。
[0072]
 光変換部8は、台座部21の内壁面21eに固定されている。この場合、光変換部8は、筐体2の台座部21を用いて検査領域R内に容易に設置され得る。また、光変換部8の蛍光部81は、固定部85に対して貼り付けによって取り付けられている。これにより、例えば、蛍光部81に汚れが付着した場合等であっても、作業者は、蛍光部81の交換作業を容易に行うことができる。
[0073]
 また、光変換部8は、励起光照射部4及び検出部5が固定される筐体2に固定されている。このように、励起光照射部4及び検出部5が固定される筐体2に対して光変換部8が固定されることにより、励起光照射部4に対する光変換部8の位置決め、及び、検出部5に対する光変換部8の位置決めを容易に行うことができる。例えば、励起光照射部4が第1部材に固定され、第1部材に対して移動可能な第2部材に光変換部8が固定されている場合、第1部材と第2部材の位置ズレも考慮して励起光照射部4及び光変換部8を固定する必要がある。本実施形態のように、励起光照射部4及び検出部5が固定される筐体2に対して光変換部8が固定されることにより、上述したような第1部材と第2部材の位置ズレを考慮する必要がなくなり、光変換部8の設置が容易となる。
[0074]
 筐体2は、搬送部3に対して離間可能に設けられている。この場合、例えば、作業者が搬送部3のコンベアベルト31の清掃作業等を行うときに筐体2をコンベアベルト31の搬送面31aから離間させることが可能となる。これにより、作業者は、搬送面31aの掃除作業等を容易に行うことができる。また、筐体2を搬送部3の搬送面31aから離間させた場合には、光変換部8も搬送面31aから離間する。このため、作業者が搬送部3の清掃作業を行うときに掃除作業用の噴水流が光変換部8に掛かることが抑制され、また、拭き掃除用のタオル等が触れることによって光変換部8に拭き擦れ等が生じることが抑制される。その結果、光変換部8が損耗することが抑制される。
[0075]
 また、励起光照射部4、検出部5及び光変換部8は、筐体2に固定されている。このため、搬送部3に対して筐体2を離間させた後、再び筐体2を搬送部3の支持部33に固定したときに、支持部33に対する筐体2の固定位置にズレが生じたとしても、励起光照射部4、検出部5及び光変換部8同士の位置関係は変化しない。このため、蛍光検出部52の検査領域Rから、光変換部8が外れることが抑制される。また、励起光照射部4の励起光の照射領域から、光変換部8が外れることが抑制される。
[0076]
 検出部5には、第2光学フィルタ51が設けられている。この場合、蛍光以外の光が蛍光検出部52の光取込部52a部に入射することが抑制される。これにより、光検査装置1は、蛍光検出部52の検出精度を向上させることが可能となる。
[0077]
 コンベアベルト31の搬送面31aには、励起光の反射防止処理が施されている。これにより、被検査物S周辺の搬送面31aで反射された励起光の反射光が蛍光検出部52に入射する割合を減少させることができる。
[0078]
 また、光検査装置1において、台座部21のXY平面における外側には、台座部21を覆うように保護部26が配置されている。このため、保護ケース23と台座部21との接合部Jから保護ケース23の内部領域Lに光が侵入することがより確実に防止される。これにより、光検査装置1は、微弱な蛍光も識別できるようになり、検出精度を高めることができる。
[0079]
 また、光検査装置1の保護部26は、図8に示されるように、Z軸方向から見た平面視において台座部21の外側面21fよりもXY平面における外側に配置されており、保護部26の下端26aは、台座部21の上端21gよりもZ軸方向において低い位置に位置している。すなわち、保護ケース23の一部と台座部21の一部とが鉛直方向(Z軸方向)において互いにオーバラップしている。このため、光検査装置1は、接合部Jから保護ケース23の内部領域Lに光が直線的に入ることを防止できるので、保護ケース23の内部領域Lの密閉性を更に高めることができる。
[0080]
 光検査装置1では、図8に示されるように、台座部21と保護ケース23とは、弾性を有するシール部材27を介して接合されるので、光の侵入だけでなく、水及び粉塵の侵入も抑制できる。このため、保護ケース23の内部領域Lの遮光性をさらに高めると共に、防水性及び防塵性も高めることができる。更にこの構成では、仮にシール部材27が経年変化によって劣化した場合であっても、保護部26の存在により、保護ケース23の内部領域Lへの水及び粉塵の侵入も抑制できる。
[0081]
 光検査装置1では、保護部26は、保護ケース23に一体的に形成されているので、保護ケース23と台座部21との接合時に、保護部26としての保護部材を所定の位置に別途配置するような手間を省略できる。これにより、接合時の作業性が向上する。
[0082]
 光検査装置1の保護ケース23は、図8に示されるように、本体部24における開口部24aの周囲から張り出す鍔部25が形成されている。これにより、鍔部25の張り出した長さの分、保護ケース23の外部領域と保護ケース23の内部領域Lとの間の光の侵入経路を長くすることができる。これにより、保護ケース23の内部領域Lの遮光性を更に高めることができる。更に、この構成では、鍔部25の張り出した長さL2の分、保護ケース23の外側領域と内部領域Lとの間に配置されるシール部材27の幅L1を大きくすることができるので、保護ケース23の内部領域Lの密閉性を更に高めることができる。
[0083]
 光検査装置1では、図9に示されるように、シール部材27は枠状に配置され、保護部26は枠状に配置されたシール部材27を囲むように枠状に配置されている。これにより、保護ケース23と台座部21との接合部Jから光が侵入する経路を全て遮るようにシール部材27が配置されるので、保護ケース23の内部領域Lの密閉性を更に高めることができる。また、この構成では、光の侵入だけでなく、水及び粉塵の侵入も抑制できる。このため、保護ケース23の内部領域Lの防水性及び防塵性も更に高めることができる。
[0084]
 光検査装置1は、図3及び図8に示されるように、保護ケース23と台座部21とを固定するボルトBの締結又は締結解除作業が、保護ケース23の上方から可能に設けられているので、作業者は、内部機材のメンテナンス又は部品交換等が容易に可能となる。また、そのボルトBは、ボルトBを挿通可能なカラー部材27Aを介してシール部材27を貫通しているので、シール部材27を所望の位置に確実に固定できる。また、ボルトBは、カラー部材27Aを介してシール部材27に貫通されるので、貫通時のシール部材27の損傷を防止できる。これにより、シール部材27の損傷箇所から光が保護ケース23の内部領域Lに侵入することを抑制できる。
[0085]
 光検査装置1では、励起光照射部4は保護ケース23に収容されているので、保護ケース23を、検出部5及び励起光照射部4が収容された一つのユニットとして扱うことができ作業性に優れる。また、励起光照射部4を保護ケース23に収容することで、励起光照射部4を粉塵又は水等からも保護できる。
[0086]
 光検査装置1では、台座部21に設けられた窓部21cの面積が、開口部24aの面積よりも小さいので、接合部J以外からの光の侵入を抑制できる。これにより、保護ケース23の内部領域Lの密閉性を更に高めることができる。
[0087]
 光検査装置1では、図4に示されるように、台座部21は、搬送部3に対して離間する方向に移動可能に設けられている。これにより、搬送部3の上方から台座部21と台座部21に一体的に接合された保護ケース23とを移動させることができるので、搬送部3の清掃を容易に行うことができる。また、搬送部3を清掃する際の噴流水等から、台座部21(更には、収容される励起光照射部4及び検出部5(蛍光検出部52))を離間させることができる。
[0088]
 以上、本開示の第1実施形態について説明したが、本開示は、上述した第1実施形態に限定されるものではない。例えば、第1実施形態において処理部6は、光変換部8が発生させた蛍光の検出信号が無い場合に、励起光照射部4等に異常が有りと検出したが、光変換部8が発生させた蛍光の検出信号が無い場合に限定されない。例えば、処理部6は、光変換部8が発生させた蛍光の検出信号に基づいて、検出信号の強度が予め定められた基準強度以下となった場合に、励起光照射部4及び蛍光検出部52の少なくともいずれかに異常が有りと検出してもよい。これにより、ゲイン(調整)が可能な範囲を超えて検出強度が下がった場合、又はゲイン(調整)によりS/N比が許容範囲を超えて低下してしまった場合等の検出精度が十分に得られない状態において、異物Fが適切に検出されずに被検査物Sが搬送されることが抑制される。
[0089]
 第1実施形態において、光変換部8は、台座部21の内壁面21eに固定されているが、検査領域R内に配置されていれば、保護ケース23の本体部24に固定されていてもよい。蛍光部81は、蛍光を発生させる材質を含む塗料が固定部85に塗布されることによって形成されていてもよい。
[0090]
 第1実施形態において光検査装置1には、台座部21の窓部21cに透明部材21dが嵌め込まれていたが、透明部材21dに代えて、第2光学フィルタ51と同様の機能を有するフィルタが嵌め込まれていてもよい。台座部21の窓部21cに嵌め込まれたフィルタは、蛍光検出部52の光取込部52aに対向している。このため、第2光学フィルタ51に代えて台座部21の窓部21cにフィルタを嵌め込んだ場合であっても、光検査装置1は、第2光学フィルタ51を設けた場合と同様の効果を奏する。
[0091]
 例えば、光変換部8は、コンベアベルト31の搬送面31aに配置されていてもよい。この場合、光変換部8は、搬送面31aの移動方向に沿って所定の間隔ごとに複数設置されていてもよい。これにより、処理部6は、上述した励起光照射部4等の異常の有無の検出に加え、光変換部8が発生させた蛍光の移動の有無に基づいて、コンベアベルト31が作動しているか否かを検出できる。また、処理部6は、所定の間隔ごとに配置された光変換部8の検出の周期に基づいて、コンベアベルト31における被検査物Sの搬送速度を検出できる。搬送面31aに光変換部8が設置されている場合、光変換部8が目印となり、使用者は、表示部7に表示された画像を見ることにより、異物Fを含む被検査物Sが光変換部8に対してどの位置に存在するかを容易に把握できる。
[0092]
 例えば、被検査物Sは、魚介類の切り身以外の食肉等であってもよく、異物Fは寄生虫以外の骨、鱗、内臓等であってもよい。また、励起光は、紫外域の波長帯を有する光に限定されず、異物Fに蛍光を発生させ得る波長を有する光であればよい。また、励起光照射部4は、搬送方向Aにおける検出部5の下流側に位置していたが、搬送方向Aにおける検出部5の上流側に位置していてもよい。また、処理部6は、生成した画像に基づいて、被検査物Sに異物Fが含まれているか否かを検査してもよい。この場合、被検査物Sにおける異物Fの有無等を(画像に対して)自動で特定することもできるし、作業者が目視により確認することもできる。
[0093]
 光変換部8における蛍光を発生させる材料として、青色系の蛍光を発生させる材料を例として挙げたが、例えば、りん酸塩又はゲルマン酸塩等の赤色系の蛍光を発生させる材料が用いられてもよい。光変換部8が赤色系の蛍光を発生させる場合、青色系の蛍光に比べて、励起光の波長帯と蛍光の波長帯とをより一層ずらすことができる。これにより、蛍光検出部52は、蛍光を精度よく検出できる。
[0094]
 光変換部8は、検査領域R内に2以上設置されていてもよい。この場合、処理部6は、すべての光変換部8が蛍光検出部52によって検出されているか否かに基づいて、検出部5の取り付け角度のズレの有無等を検出してもよい。
[0095]
 また、第2光学フィルタ51が蛍光よりも短波長側の波長域を減衰させる例を示したが、さらに蛍光よりも長波長側の波長帯域を減衰させるように構成されていてもよい。この場合、わずかに外部から入射した蛍光よりも長波長帯域の外光を減衰させることにより、蛍光以外の光を蛍光検出部52が誤検出することをさらに抑制することができる。
[0096]
 また、励起光を照射させる電力が光源41に供給されている間、処理部6が励起光照射部4等の異常の有無を検出したが、異常の有無の検出は、電力が光源41に供給されている間継続して行われることは必須ではなく、このタイミング以外のタイミング(例えば、搬出される一の被検査物Sと続く被検査物Sとの合間等、被検査物Sの検出漏れが生じない程度の定期的なタイミング)で行われてもよい。また、異常の有無の検出は、励起光を照射させるための制御信号が光源41に入力されている間に行われてもよい。この場合も、異常の有無の検出は、制御信号が光源41に入力されている間継続して行われることは必須ではない。また、光検査装置1の電源がオンとなったときに光源41に電力が自動的に供給される構成である場合、異常の有無の検出は、光源41に電力が供給されている間に行われてもよい。この場合も、異常の有無の検出は、電力が光源41に供給されている間継続して行われることは必須ではない。
[0097]
 検査領域Rが第1領域R1と第2領域R2とに別れておらず、被検査物Sが搬送される領域に光変換部8が設置されていてもよい。処理部6において異常が有りと検出された場合、搬送制御部35が搬送部3による被検査物Sの搬送を停止させたが、搬送を停止させることは必須ではない。光変換部8は、検査領域R内に配置されていれば、筐体2以外の部位に取り付けられていてもよい。筐体2は、搬送部3に対して離間可能な構成でなくてもよい。検出部5が第2光学フィルタ51を備えることは必須ではない。なお、第2光学フィルタ51(第1光学フィルタ43)は1枚で構成されていてもよく、複数枚が重ね合わせられることによって構成されていてもよい。
[0098]
 また、光検査装置1では、検査が可能な状態、すなわち、筐体2が搬送部3の上方に配置された状態において、鍔部25の上面26bが、張り出し方向に向かって水平方向に延びている例を挙げて説明したが、図8に示されるように、鍔部25の上面26cは、張り出し方向に向かって下方に傾斜していてもよい。この構成によれば、鍔部25の上面26cに水が溜まることを抑制でき、部材の劣化を抑制することができる。
[0099]
 上記第1実施形態又は第1実施形態の変形例の光検査装置1では、保護ケース23には開口部24aの周囲から張り出した鍔部25が形成されている例を挙げて説明したが、鍔部25が形成されていない保護ケース23を採用してもよい。例えば、図10に示されるように、保護部26Eは、保護ケース23の本体部24の下端に、Z軸方向下方に突出するように形成されてもよい。この場合も、Z軸方向から見てシール部材27の外側に保護部26Eを配置すれば、上記実施形態と同様の効果を得ることができる。また、当該変形例に係る光検査装置1の場合も、上記実施形態と同様に、保護部26の下端26aを、台座部21の上端21gよりも低い位置に位置させることは必須ではない。しかしながら、保護部26の下端26aを、台座部21の上端21gよりも低い位置に位置させることで、保護ケース23の内部領域Lの遮光性を更に高めることができる。
[0100]
 上記第1実施形態又は第1実施形態の変形例の光検査装置1では、保護部26,26Eは、保護ケース23に一体的に形成されている例を挙げて説明したが、保護ケース23と台座部21との接合時に、別部材としての保護部を所定の位置に配置する構成であってもよい。例えば、保護部は、台座部21に加えて、保護ケース23の端部を覆うように形成されていてもよい。具体的には、Z軸方向上方から見た平面視において、台座部21及び保護ケース23の接合部を含むように台座部21及び保護ケース23の外側面を覆う枠状部材を保護部として有する構成であってもよい。この場合であっても、上記第1実施形態又は第1実施形態の変形例に係る光検査装置1と同様の効果を得ることができる。ただし、保護部26,26Eは、保護ケース23に一体的に形成される方が、保護部を別途配置する手間を省略できるので、接合時の作業性が向上する。また、保護部26,26Eは、保護ケース23に一体的に形成される方が、その分、隙間(接合部)が少なくなるため、防塵及び防水性能を高めることができる。
[0101]
 上記第1実施形態又は第1実施形態の変形例の光検査装置1では、台座部と保護ケースとの間には、弾性を有するシール部材27が設けられている例を挙げて説明したが、シール部材27を設けなくてもよい。この場合であっても、保護ケース23の内部領域Lの遮光性を高めることができる。なお、シール部材27を設けない場合には、保護部26の下端26aと、台座部21の上端21gとのZ軸方向における距離、すなわち保護ケース23と台座部21との鉛直方向(Z軸方向)におけるオーバラップ距離を、上記実施形態又は変形例の光検査装置1の距離と比べて長く確保してもよい。すなわち、上記オーバラップ距離は、光が保護ケース23と台座部21との接合部Jから侵入しないように適宜設定される。
[0102]
(第2実施形態)
 次に、第2実施形態について説明する。以下の説明において、第1実施形態と同様の構成要素については同一符合を付して詳細な説明を省略する。本実施形態における光検査装置は、第1実施形態における光検査装置1のように励起光照射部4及び蛍光検出部52の少なくともいずれかの異常の有無を検出することに加え、さらに、蛍光検出部52から出力される検出信号の強度を調整する。以下、本実施形態における光検査装置の構成として、第1実施形態における光検査装置1との相違点を中心に説明する。
[0103]
 図11に示されるように、本実施形態における光検査装置1Aは、筐体2と、搬送部3と、励起光照射部4と、検出部5と、処理部6Aと、表示部(報知部)7と、光変換部8と、脚部9と、を備える。
[0104]
 処理部6Aは、第1実施形態における光検査装置1の処理部6のように励起光照射部4及び蛍光検出部52の少なくともいずれかの異常の有無を検出する。さらに、処理部6Aは、蛍光検出部52から出力される検出信号の強度を調整する。以下、処理部6Aが蛍光検出部52から出力される検出信号の強度を調整する構成について説明する。
[0105]
 処理部6Aは、検出部5から出力された蛍光の検出信号に基づいて画像を生成する。表示部7は、処理部6Aによって生成された画像を表示する。ここで、表示部7に表示される画像例について説明する。処理部6Aは、搬送面31aの移動に伴って蛍光検出部52によって逐次検出された蛍光の検出信号をつなぎ合わせることにより、連続した1枚の画像を生成する。表示部7には、現在から所定長さ(所定の搬送長さ)前までの画像が表示される。なお、蛍光検出部52で逐次検出された蛍光の検出信号をつなぎ合わせることによって連続した画像を生成する例を示したが、一回の検出(撮像)で一枚の画像が生成される構成であってもよい。
[0106]
 例えば、図12に示される例では、被検査物Sに異物Fが含まれていた場合の画像を示している。被検査物Sは、第2領域R2を通過するため、処理部6Aによって生成される画像においても第2領域R2に対応する位置に異物Fが表示される。また、光変換部8は、励起光照射部4から励起光が照射されている間、常に蛍光を発生させている。このため、蛍光検出部52は、常に光変換部8が発生させた蛍光を検出している。このため、図12に示されるように、光変換部8が設置された第1領域R1に対応する位置には、常に光変換部8が示されている。
[0107]
 また、処理部6Aは、使用者等による異物Fの検出の開始の指示に基づいて、励起光照射部4に制御信号を出力することによって光源41から励起光を照射させる。さらに、処理部6Aは、画像を生成する際に用いる検出部5から出力された蛍光の検出信号に対し、検出信号の出力強度を調整(ゲインを調整)する強度調整部としても機能する。処理部6Aは、検出信号の出力強度を調整した後、調整した検出信号に基づいて画像を生成する。これにより、処理部6Aは、光源41等の性能の変化によって蛍光の検出信号が弱くなっても、検出信号の出力強度、すなわち画像全体の明るさを調整できる。以下、処理部6Aにおける検出信号の出力強度を調整する処理の詳細について説明する。
[0108]
 まず、蛍光検出部52で検出された蛍光の検出信号の検出強度について説明する。なお、蛍光検出部52が出力する蛍光の検出信号には、コンベアベルト31の幅方向(Y軸に平行な方向)に沿った各位置での蛍光の検出強度が含まれている。図13に示されるように、被検査物Sに異物Fが含まれていない場合、光変換部8の設置位置における蛍光の検出強度のみが上昇する。図13に示されるグラフにおいて、横軸はY軸に平行な方向(コンベアベルト31の幅方向)であり、Y0からY1の部分が第2領域R2に対応し、Y1からY2の部分が第1領域R1に対応している。このため、光変換部8が設置された第1領域R1に対応する部分(Y1からY2の部分)の検出強度が上昇する。
[0109]
 ここで、励起光照射部4(光源41)及び蛍光検出部52の性能が一定である場合、光変換部8が設置された第1領域R1に対応する部分の検出強度も一定のまま変化しない。なお、第2領域R2に対応する部分の検出強度は、異物Fの有無に応じて変化する。
[0110]
 例えば、励起光照射部4(光源41)の性能が劣化して励起光の出力強度が低下した場合、光変換部8が設置された第1領域R1に対応する部分の検出強度も低下する。また、例えば、蛍光検出部52の性能が劣化して蛍光の検出性能が低下した場合、光変換部8が設置された第1領域R1に対応する部分の検出強度も低下する。このように、光変換部8が設置された第1領域R1に対応する部分の検出強度は、励起光照射部4及び蛍光検出部52の性能の変化に対応して変化する。
[0111]
 そこで、処理部6Aは、検出信号における光変換部8の設置位置(第1領域R1)での蛍光の検出強度と、予め定められた基準強度とに基づいて、検出信号の出力強度(検出信号の全体の強度)を調整する。なお、例えば、予め定められた基準強度は、蛍光検出部52によって過去に検出された光変換部8の設置位置での蛍光の検出強度である。過去の検出強度とは、光検査装置1Aの完成後、光検査装置1Aの使用開始時における検出強度であってもよい。すなわち、基準強度は、励起光照射部4及び蛍光検出部52の性能が変化する前に蛍光検出部52によって検出された蛍光の検出強度であればよい。基準強度は、処理部6Aに記憶されている。
[0112]
 具体的には、処理部6Aは、光変換部8の設置位置での蛍光の検出強度と、基準強度との差分を算出する。処理部6Aは、算出した差分が予め定められた基準差分値以上である場合に、光変換部8の設置位置での蛍光の検出強度が基準強度となるように、検出信号の出力強度(検出信号の全体の強度)を調整する。基準差分値は、予め処理部6Aに記憶されている。例えば、光変換部8の設置位置での蛍光の検出強度が基準強度よりも基準差分値以上低下した場合、処理部6Aは、検出信号の出力強度を強くする。光変換部8の設置位置での蛍光の検出強度が基準強度よりも基準差分値以上上昇した場合、処理部6Aは、検出信号の出力強度を弱くする。これにより、表示部7に表示される画像全体の明るさが調整される。その結果、異物Fから発生する蛍光を感度(検出強度)不足により、検出せずに被検査物Sを搬送してしまったり、感度過剰により、わずかに入射した外光の反射(ノイズ)等を異物Fとして誤検出してしまったりすることを抑制できる。
[0113]
 処理部6Aは、上述した検出信号の出力強度の調整を、搬送部3が被検査物Sの搬送を開始する前に行う。被検査物Sの搬送を開始する前とは、例えば、光検査装置1Aの電源がオンとなり、被検査物Sの搬送が開始される前であってもよい。すなわち、光検査装置1Aの電源がオンとなったときに検出信号の出力強度の調整が行われてもよい。また、光検査装置1Aの電源がオンとなったときに限定されず、使用者等の指示に基づいて、検出信号の出力強度の調整が行われてもよい。励起光照射部4及び蛍光検出部52の性能の変化は緩やかであるため、検出信号の出力強度の調整は、光検査装置1Aによる異物Fの検査中に常時実行される構成でなくてもよい。
[0114]
 処理部6Aは、光変換部8の設置位置での蛍光の検出強度が予め定められた報知強度を下回った場合に、検出強度が低下したことを示す警報表示等を表示部7に表示させる。なお、処理部6Aは、光変換部8の設置位置での蛍光の検出強度が予め定められた報知強度を下回った場合に、検出強度が低下したことを示す警報音等をスピーカ(報知部)等から出力させたり、ランプ(報知部)を点灯させたりしてもよい。搬送部3の搬送制御部35は、光変換部8の設置位置での蛍光の検出強度が予め定められた報知強度を下回ったことが処理部6Aによって検出された場合、駆動モータ34を停止させて、コンベアベルト31による被検査物Sの搬送を停止させてもよい。
[0115]
 なお、処理部6Aは、例えば、第1実施形態における処理部6と同様の電子制御ユニットである。
[0116]
 次に、光検査装置1Aにおいて実行される検出信号の出力強度を調整する出力強度調整方法の処理の流れについて、図14のフローチャートを用いて説明する。なお、図14に示される処理は、搬送部3が被検査物Sの搬送を開始する前に開始される。また、図14に示される処理は、処理がエンドに至った場合に終了する。
[0117]
 図14に示されるように、処理部6Aは、光源41によって励起光を検査領域Rに照射させために、励起光を照射させる制御信号を光源41に出力する。これにより、光源41から検査領域Rに励起光が照射される(S201:照射ステップ)。蛍光検出部52は、検査領域Rにおいて、励起光によって光変換部8が発生させた蛍光を検出する(S202:蛍光検出ステップ)。処理部6Aは、蛍光検出部52で検出された光変換部8が発生させた蛍光の検出強度と、基準強度とに基づいて、検出信号の出力強度の調整を行う(S203:強度調整ステップ)。
[0118]
 以上説明したように、光検査装置1Aにおいて、光変換部8は、検査領域R内に励起光が照射されている場合に蛍光を発生させる。このため、蛍光検出部52は、検査領域R内に搬送された被検査物Sに異物Fが付着しているか否かにかかわらず、光変換部8が発生させた蛍光を検出することができる。ここで、検出信号における蛍光の検出強度は、励起光照射部4(光源41)及び蛍光検出部52の性能の変化によって変化する。このため、検出信号における蛍光の検出強度に基づいて検出信号の出力強度を調整することにより、処理部6Aは、励起光照射部4及び蛍光検出部52の性能の変化に応じて検出信号の出力強度を調整できる。このように、光検査装置1Aは、励起光照射部4及び蛍光検出部52の性能の変化に応じて、蛍光検出部52から出力される検出信号の出力強度を調整することができる。
[0119]
 処理部6Aは、検出信号における光変換部の設置位置での蛍光の検出強度に基づいて、検出信号の出力強度を調整する。このように、光変換部8の設置位置(第1領域R1)での蛍光の検出強度を用いることにより、検出信号の出力強度の調整の際に用いる蛍光の検出強度に、異物Fが発生させた蛍光の影響が含まれることが抑制される。これにより、処理部6Aは、検出信号の出力強度を精度よく調整できる。
[0120]
 予め定められた基準強度として、蛍光検出部52によって過去に検出された光変換部8の設置位置での蛍光の検出強度が用いられる。この場合、処理部6Aは、励起光照射部4及び蛍光検出部52の性能が変化する前の蛍光の検出強度を用いて、検出信号の出力強度を調整できる。
[0121]
 処理部6Aは、光変換部8の設置位置での蛍光の検出強度が予め定められた報知強度を下回った場合に、警報表示等を表示部7に表示させる。この場合、光検査装置1Aの使用者等は、励起光照射部4等の性能が低下したことを把握できる。
[0122]
 検出部5には、第2光学フィルタ51が設けられている。この場合、蛍光以外の光が蛍光検出部52の光取込部52a部に入射することが抑制される。これにより、光検査装置1Aは、蛍光検出部52の検出精度を向上させることが可能となる。
[0123]
 光変換部8は、検査領域Rの第1領域R1に配置される。検査領域Rの第2領域R2には、被検査物Sが搬送される。この場合、被検査物Sに付着する異物Fが、光変換部8の設置位置での蛍光の検出強度に影響を与えることが抑制される。また、被検査物Sが光変換部8を覆ってしまうことが抑制されるため、被検査物Sが、光変換部8の設置位置での蛍光の検出強度に影響を与えることが抑制される。これにより、処理部6Aは、検出信号の出力強度の調整を精度よく行うことができる。また、光変換部8と被検査物Sとは、検査領域R内の異なる領域に配置及び搬送される。この場合、処理部6Aは、異物Fが発生させた蛍光の検出信号と、光変換部8が発生させた蛍光の検出信号とを容易に識別できる。
[0124]
 処理部6Aは、搬送部3が被検査物Sの搬送を開始する前に検出信号の出力強度を調整する。この場合、被検査物Sの検出を開始する前に、検出信号の出力強度が調整される。これにより、光検査装置1Aの使用者は、明るさが調整された画像を確認できる。
[0125]
 以上、本開示の第2実施形態について説明したが、本開示は、上述した第2実施形態に限定されるものではない。例えば、処理部6Aは、差分に代えて、光変換部8の設置位置での蛍光の検出強度と基準強度との比率を用いてもよい。この場合、処理部6Aは、光変換部8の設置位置での蛍光の検出強度と基準強度との比率を算出する。処理部6Aは、算出した比率が予め定められた基準比率範囲外である場合に、光変換部8の設置位置での蛍光の検出強度が基準強度となるように、検出信号の出力強度を調整する。
[0126]
 異物Fの画像を生成する処理部6Aが検出信号の出力強度の調整を行ったが、検出信号の出力強度の調整を処理部6Aが行うことに限定されない。例えば、蛍光検出部52に設けられた強度調整部が、光検出素子から出力された検出信号の出力強度の調整を行ってもよい。この場合の蛍光検出部52に設けられた強度調整部は、処理部6Aと同様の電子制御ユニットによって構成されていてもよい。すなわち、蛍光検出部52に設けられた強度調整部が検出信号の出力強度の調整を行う処理部として機能してもよい。
[0127]
 また、蛍光検出部52から出力された検出信号は、検査領域R内の各位置での蛍光の検出強度を含んでいなくてもよい。例えば、検出信号は、検査領域R内の蛍光の検出強度の最大値を含んでいてもよい。この場合、検査領域R内に異物Fが存在しないときには、検出信号に含まれる検出強度(検出強度の最大値)は光変換部8が発生させた蛍光の検出強度となる。このため、検査領域R内の各位置での蛍光の検出強度が検出信号に含まれていなくても、処理部6Aは、検出信号における検出強度と基準強度とに基づいて、検出信号の出力強度を調整してもよい。
[0128]
 また、蛍光検出部52によって過去に検出された光変換部8の設置位置での蛍光の検出強度を基準強度として用いたが、過去に検出された検出強度を基準強度として用いることに限定されない。基準強度は、他の基準等に基づいて予め定められた値であってもよい。例えば、予め定められた基準強度は、製造時に記憶されるデフォルトの信号値(装置に関わらず一定の値)等であってもよい。上述した検出信号の出力強度の調整は、搬送部3が被検査物Sの搬送を開始する前以外のタイミング(例えば、搬出される一の被検査物Sと続く被検査物Sとの合間等、被検査物Sの検出漏れが生じない程度の定期的なタイミング)で行われてもよい。例えば、光検査装置1Aが被検査物Sの検査中に、検出信号の出力強度の調整が行われてもよい。
[0129]
(第3実施形態)
 次に、第3実施形態について説明する。以下の説明において、第1実施形態と同様の構成要素については同一符合を付して詳細な説明を省略する。本実施形態における光検査装置は、第1実施形態における光検査装置1のように光変換部8を用いて励起光照射部4及び蛍光検出部52の少なくともいずれかの異常の有無を検出することに加え、さらに、励起光検出部80(図15等参照)を用いて蛍光検出部52の異常の有無及び蛍光検出部52における出力強度を調整する。以下、本実施形態における光検査装置の構成として、第1実施形態における光検査装置1との相違点を中心に説明する。
[0130]
 図15に示されるように、本実施形態における光検査装置1Bは、筐体2と、搬送部3と、励起光照射部4と、検出部5と、処理部6Bと、表示部7と、光変換部8と、脚部9と、励起光検出部80と、を備える。
[0131]
 励起光検出部80は、検査領域R内に設置され、励起光照射部4が照射する励起光を検出する。励起光検出部80の例は、紫外線センサである。励起光検出部80は、図16及び図17に示されるように、台座部21の内壁面21eに固定されている。すなわち、励起光検出部80は、光変換部8に隣接して設けられている。励起光検出部80は、その検知面が鉛直方向(Z軸方向)において搬送部3における搬送面31aと同じ位置か、又は、搬送面31aよりも低い位置となるように配置されている。励起光検出部80は、励起光照射部4によって照射された励起光を検出し、検出した励起光の検出信号を出力する。なお、励起光検出部80は、励起光照射部4の照射範囲(励起光照射領域)内であれば、蛍光検出部52の検査領域R外に配置されてもよい。このように配置すれば、励起光検出部80によって反射された励起光を蛍光検出部52が検出することによる異物の誤検知を防止することができる。
[0132]
 処理部6Bは、第1実施形態における光検査装置1の処理部6のように励起光照射部4及び蛍光検出部52の少なくともいずれかの異常の有無を検出する。さらに、処理部6Bは、励起光検出部80の検出信号に基づいて励起光照射部4の異常の有無を検出する異常検出機能と、励起光検出部80の検出信号に基づいて、画像を生成する際に用いる蛍光検出部52から出力された蛍光の検出信号に対して検出信号の出力強度を調整(ゲインを調整)する出力強度調整機能と、を有している。以下、励起光検出部80の検出信号に基づいて実現される異常検出機能及び出力強度調整機能について説明する。
[0133]
 まず、異常検出機能について説明する。処理部6Bは、作業者等による異物Fの検出の開始の指示に基づいて、光源41に制御信号を出力することによって光源41から励起光を照射させ、励起光照射部4の異常の有無を検出する。処理部6Bは、励起光を照射させる制御信号を励起光照射部4に出力している間、上記異常の有無を検出することができる。以下、処理部6Bにおける励起光照射部4の異常の有無を検出する異常検出処理の詳細について説明する。
[0134]
 処理部6Bは、励起光検出部80から出力された励起光の検出信号に基づいて、励起光照射部4の異常の有無を検出する。ここで、励起光検出部80は、励起光照射部4から検査領域R内に励起光が照射されている場合にその励起光を検出できる。しかしながら、励起光照射部4に異常が生じた場合、励起光検出部80において励起光を検出できない。また、励起光照射部4の取り付け角度にズレが生じて励起光が励起光検出部80に照射されていない場合、励起光検出部80は、励起光照射部4が照射した励起光を検出できない。
[0135]
 このため、処理部6Bは、励起光を照射させる制御信号を光源41に出力しているにも関わらず、励起光検出部80から励起光の検出信号が無い場合、励起光照射部4に異常が有りと検出する。処理部6Bは、異常が有りと検出した場合、異常が発生していることを示す警報表示等を表示部7に表示させてもよい。また、処理部6Bは、異常が有りと検出した場合、異常が発生していることを示す警報音等をスピーカ等から出力させてもよい。搬送部3の搬送制御部35は、処理部6Bによって異常が有りと検出された場合、駆動モータ34を停止させて、コンベアベルト31による被検査物Sの搬送を停止させる。処理部6Bは、上述した異常の有無の検出を、作業者等による異物Fの検出の開始の指示の後、異物Fの検出の終了の指示がされるまでの間、継続して繰り返し行う。
[0136]
 なお、処理部6Bは、例えば、第1実施形態における処理部6と同様の電子制御ユニットである。
[0137]
 次に、光検査装置1Bにおいて励起光照射部4の異常の有無を検出する異常検出方法について、図18のフローチャートを用いて説明する。なお、図18に示される処理は、作業者等による異物Fの検出の開始の指示に基づいて開始され、作業者等による異物Fの検出の終了の指示に基づいて終了する。また、図18に示される処理は、処理がエンドに至った後、再びスタートから処理が開始される。
[0138]
 図18に示されるように、処理部6Bは、光源41によって励起光を検査領域Rに照射させために、励起光を照射させる制御信号を光源41に出力する(S301:励起光照射ステップ)。励起光検出部80は、光源41から照射された励起光を検出する(S302:蛍光検出ステップ)。処理部6Bは、励起光検出部80が出力する検出信号に基づいて、励起光照射部4の異常の有無を検出する(S303:異常検出ステップ)。
[0139]
 次に、出力強度調整機能について説明する。処理部6Bは、画像を生成する際に用いる蛍光検出部52から出力された蛍光の検出信号に対し、検出信号の出力強度を調整(ゲインを調整)する。処理部6Bは、検出信号の出力強度を調整した後、調整した検出信号に基づいて画像を生成する。これにより、処理部6Bは、光源41等の性能の変化によって蛍光の検出信号が弱くなっても、検出信号の出力強度、すなわち画像全体の明るさを調整できる。以下、処理部6Bにおける検出信号の出力強度を調整する処理の詳細について説明する。
[0140]
 励起光検出部80で検出された励起光の検出信号の検出強度は、励起光照射部4(光源41)の性能が一定である場合、一定のまま変化しない。例えば、励起光照射部4(光源41)の性能が劣化して励起光の出力強度が低下した場合、蛍光検出部52で検出される異物Fによって発生する蛍光の検出強度及び励起光検出部80で検出される励起光の検出強度が低下する。このように、蛍光検出部52で検出される蛍光の検出強度及び励起光検出部80で検出される励起光の検出強度は、励起光照射部4の性能の変化に対応して変化する。
[0141]
 そこで、処理部6Bは、励起光検出部80での励起光の検出強度と、予め定められた励起光検出部80の基準強度に基づいて、蛍光検出部52における検出信号の出力強度(検出信号の全体の強度)を調整する。なお、予め定められた基準強度は、例えば、励起光検出部80によって過去に検出された励起光の検出強度である。過去の検出強度とは、光検査装置1Bの完成後、光検査装置1Bの使用開始時における検出強度であってもよい。すなわち、基準強度は、励起光照射部4の性能が変化する前に励起光検出部80によって検出された励起光の検出強度であればよい。当該基準強度は、処理部6Bに記憶されている。なお、予め定められた基準強度は、励起光検出部80によって過去に検出された励起光の検出強度とする例を示したが、製造時に記憶されるデフォルトの信号値(装置に関わらず一定の値)等としてもよい。
[0142]
 具体的には、処理部6Bは、励起光検出部80での励起光の検出強度と、基準強度との差分を算出する。処理部6Bは、算出した差分が予め定められた基準差分値以上である場合に、励起光検出部80の検出強度が基準強度となるような調整量(又は調整率)を算出し、当該調整量(又は調整率)に基づいて、蛍光検出部52における検出信号の出力強度(検出信号の全体の強度)を調整する。基準差分値は、予め処理部6Bに記憶されている。例えば、励起光検出部80での励起光の検出強度が基準強度よりも基準差分値以上低下した場合、処理部6Bは、蛍光検出部52における検出信号の出力強度を強くする。励起光検出部80での励起光の検出強度が基準強度よりも基準差分値以上上昇した場合、処理部6Bは、蛍光検出部52における検出信号の出力強度を弱くする。これにより、表示部7に表示される画像全体の明るさが調整される。
[0143]
 処理部6Bは、上述した検出信号の出力強度の調整を、搬送部3が被検査物Sの搬送を開始する前に行う。被検査物Sの搬送を開始する前とは、例えば、光検査装置1Bの電源がオンとなり、被検査物Sの搬送が開始される前であってもよい。すなわち、光検査装置1Bの電源がオンとなったときに検出信号の出力強度の調整が行われてもよい。また、光検査装置1Bの電源がオンとなったときに限定されず、使用者等の指示に基づいて、検出信号の出力強度の調整が行われてもよい。励起光照射部4の性能の変化は緩やかであるため、検出信号の出力強度の調整は、光検査装置1Bによる異物Fの検査中に常時実行される構成でなくてもよい。
[0144]
 処理部6Bは、励起光検出部80での励起光の検出強度(所定閾値)が予め定められた報知強度を下回った場合に、検出強度が低下したことを示す警報表示等を表示部7に表示させる。なお、処理部6Bは、励起光検出部80での励起光の検出強度が予め定められた報知強度を下回った場合に、検出強度が低下したことを示す警報音等をスピーカ(報知部)等から出力させたり、ランプ(報知部)を点灯させたりしてもよい。搬送部3の搬送制御部35は、励起光検出部80での励起光の検出強度が予め定められた報知強度を下回ったことが処理部6Bによって検出された場合、駆動モータ34を停止させて、コンベアベルト31による被検査物Sの搬送を停止させてもよい。
[0145]
 次に、光検査装置1Bにおいて実行される検出信号の出力強度を調整する出力強度調整方法の処理の流れについて、図19のフローチャートを用いて説明する。なお、図19に示される処理は、搬送部3が被検査物Sの搬送を開始する前に開始される。また、図19に示される処理は、処理がエンドに至った場合に終了する。
[0146]
 図19に示されるように、処理部6Bは、光源41によって励起光を検査領域Rに照射させために、励起光を照射させる制御信号を光源41に出力する。これにより、光源41から検査領域Rに励起光が照射される(S401:照射ステップ)。励起光検出部80は、検査領域Rにおいて、励起光照射部4によって照射された励起光を検出する(S402:励起光検出ステップ)。処理部6Bは、励起光検出部80で検出された励起光の検出強度と、基準強度とに基づいて、検出信号の出力強度の調整を行う(S403:強度調整ステップ)。
[0147]
 以上のように光検査装置1Bでは、励起光照射部4における励起光照射領域内に設置されると共に励起光を検出し、検出した励起光の検出信号を出力する励起光検出部80を備えている。このため、例えば、励起光検出部80の検出信号に基づいて、励起光照射部4の異常の有無を取得したり、励起光検出部80が検出する検出強度に基づいて、励起光照射部4の状態を取得したりすることが可能になる。これにより、励起光照射部4の異常の有無を適切に把握でき、また、励起光照射部4の状態に合わせた調整が適切に行えるようになる。この結果、異物Fの検出精度を維持することができる。
[0148]
 光検査装置1Bにおいて、処理部6Bは、励起光検出部80が出力する検出信号に基づいて、励起光照射部4の異常の有無が検出されるので、被検査物Sに付着した異物Fからの蛍光を蛍光検出部52が取得している状態でなくとも、励起光検出部80が励起光照射部4から照射された励起光を検出することができる。従って、処理部6Bは、励起光検出部80が出力する検出信号に基づいて、励起光照射部4の異常の有無を検出することができる。
[0149]
 光検査装置1Bでは、励起光検出部80が出力する検出信号の有無に基づいて、励起光照射部4の異常の有無が検出されるので、処理部6Bは、励起光検出部80が出力する検出信号の有無を判定するだけの簡易な処理で、励起光照射部4の異常の有無を検出できる。また、励起光照射部4に異常が有りと検出された場合には、搬送部3における被検査物Sの搬送が停止される。これにより、搬送部3によって被検査物Sが次々と搬送される場合であっても、異物Fの検出が正しくできない状態のまま検査領域Rに被検査物Sが搬送され続けることが防止できる。
[0150]
 光検査装置1Bでは、励起光検出部80が出力する検出信号の検出強度と基準強度とに基づいて、蛍光検出部52における出力強度が調整される。これにより、励起光照射部4の照射出力が減衰した場合であっても、その減衰に応じて蛍光検出部52の出力強度を高められるので、異物Fの検出精度の低下を抑制することができる。
[0151]
 光検査装置1Bでは、励起光検出部80が出力する検出信号の検出強度と基準強度とに基づいて取得される低下量に基づいて蛍光検出部52における出力強度が調整される。これにより、検出強度の低下量に応じて蛍光検出部52の出力強度が適切に調整されるので、異物Fの検出精度の低下を抑制することができる。また、低下量が所定閾値を下回った場合に、励起光照射部4の交換を促す旨を表示部7に表示される。これにより、励起光照射部4が減衰した状態で使用し続けられることが防止されるので、検出精度が低い状態で被検査物が検査され続けることを防止できる。
[0152]
 光検査装置1Bにおいて、励起光検出部80は、鉛直方向(Z軸方向)おいて、搬送部3における搬送面31aと同じ位置か、搬送部3における搬送面31aよりも下方に配置されている。このため、励起光照射部4と励起光検出部80との距離を確保することができるので、光源41の傾きを検出する場合に、より精度高く検出することができる。
[0153]
 以上、本開示の第3実施形態について説明したが、本開示は、上述した第3実施形態に限定されない。
[0154]
 例えば、処理部6Bは、蛍光検出部52が検出する光変換部8が発生させた蛍光の検出信号(又はその強度)と、励起光検出部80の検出信号(又はその強度)との両方に基づいて、励起光照射部4の異常の有無(又は状態)を検出してもよい。このようにして、励起光照射部4の異常の有無を取得する場合、例えば、処理部6Bは、蛍光検出部52の光変換部8に係る検出信号及び励起光検出部80の検出信号のうち少なくとも一方に基づいて異常が有りと検出されたときに、励起光照射部4に異常が生じていると判定する。これにより、光変換部8の不具合(例えば、剥がれ等)及び励起光検出部80の不具合(例えば、故障等)の一方が生じても、処理部6Bは、蛍光検出部52の光変換部8に係る検出信号及び励起光検出部80の検出信号のいずれかを取得できるので、より確実に励起光照射部4に異常が生じていることを検出できる。
[0155]
 例えば、第3実施形態において処理部6Bは、励起光検出部80から出力される検出信号が無い場合に、励起光照射部4等に異常が有りと検出したが、励起光検出部80から出力される検出信号が無い場合に限定されない。例えば、処理部6Bは、励起光検出部80から出力される検出信号に基づいて、検出信号の強度が予め定められた基準強度以下となった場合に、励起光照射部4に異常が有りと検出してもよい。これにより、ゲイン(調整)が可能な範囲を超えて検出強度が下がった場合、又はゲイン(調整)によりS/N比が許容範囲を超えて低下してしまった場合等の検出精度が十分に得られない状態において、異物が適切に検出されず被検査物が搬送されることを抑制することができる。
[0156]
 また、例えば、処理部6Bは、差分に代えて、励起光検出部80での励起光の検出強度と基準強度との比率を用いてもよい。この場合、処理部6Bは、励起光検出部80での励起光の検出強度と基準強度との比率を算出する。処理部6Bは、算出した比率が予め定められた基準比率範囲外である場合に、励起光検出部80での励起光の検出強度が基準強度となるような上述の比率に基づいて蛍光検出部52における検出信号の出力強度を調整してもよい。
[0157]
 第3実施形態において、励起光検出部80は、台座部21の内壁面21eに固定されているが、検査領域R内に配置されていれば、保護ケース23の本体部24に固定されてもよい。
[0158]
 励起光検出部80は、検査領域R内に二個以上設置されていてもよい。この場合、処理部6Bは、すべての励起光検出部80が励起光を検出しているか否かに基づいて、検出部5の取り付け角度のズレの有無等を検出してもよい。
[0159]
 また、励起光を照射させる制御信号が励起光照射部4に入力されている間、処理部6Bが励起光照射部4等の異常の有無を検出したが、異常の有無の検出は、制御信号が励起光照射部4に入力されている間継続して行われることは必須ではなく、このタイミング以外のタイミング(例えば、複数の被検査物が搬出される合間等、被検査物の検出漏れが生じない程度の定期的なタイミング)で行われてもよい。処理部6Bにおいて異常が有りと検出された場合、搬送制御部35が搬送部3による被検査物Sの搬送を停止させたが、搬送を停止させることは必須ではない。励起光検出部80は、検査領域R内に配置されていれば、筐体2以外の部位に取り付けられていてもよい。
[0160]
 上記第3実施形態又は第3実施形態の変形例では、励起光検出部として紫外線センサを設ける例を挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、励起光照射部から照射される励起光は、紫外線以外に可視光も出射されていることを考慮して、励起光照射部4から照射される光の一部を光ファイバ等の伝達部を介して、ダイクロイックフィルタ等の第2光学フィルタ51を介さずに蛍光検出部52に直接受光させることにより、励起光の検出の有無又は検出強度を検出してもよい。すなわち、蛍光検出部52が、励起光検出部80の機能を兼ねてもよい。この場合、蛍光検出部52のうち、伝達部から可視光を受光する部分に対応する画素の検出信号が励起光の検出信号となる。このような構成であっても、上記第3実施形態と同様の効果を得ることができる。
[0161]
 最後に、異物Fごとに、好適な励起光の波長の範囲、及びそれにより発生する蛍光の波長の範囲を例示する。
[0162]
 異物Fがアニサキスである場合、好適な励起光の波長の範囲は、300~400nmであり、330~350nmであってもよい。それにより発生する蛍光の波長の範囲は、380~500nmであり、420~450nmであってもよい。
[0163]
 異物Fがブリ線虫である場合、好適な励起光の波長の範囲は、350~450nmであり、370~390nmであってもよい。それにより発生する蛍光の波長の範囲は、420~530nmであり、440~470nmであってもよい。
[0164]
 異物Fがサバの骨である場合、好適な励起光の波長の範囲は、320~380nmであり、320~340nmであってもよい。それにより発生する蛍光の波長の範囲は、380~430nmであり、380~400nmであってもよい。
[0165]
 異物Fがタイの鱗である場合、好適な励起光の波長の範囲は、300~400nmであり、320~340nmであってもよい。それにより発生する蛍光の波長の範囲は、380~500nmであり、380~400nmであってもよい。
[0166]
 異物Fがタイの内臓である場合、好適な励起光の波長の範囲は、320~500nmであり、360~380nmであってもよい。それにより発生する蛍光の波長の範囲は、480~580nmであり、510~530nmであってもよい。

産業上の利用可能性

[0167]
 光検査装置によって、励起光照射部及び蛍光検出部の少なくともいずれかの異常の有無を検出できる。

符号の説明

[0168]
 1,1A,1B…光検査装置、2…筐体、3…搬送部、4…励起光照射部、5…検出部、6,6A,6B…処理部、7…表示部(報知部)、8…光変換部、21…台座部、21c…窓部、21g…上端、23…保護ケース、24…本体部、24a…開口部、25…鍔部、26,26E…保護部、26a…下端、31a…搬送面(載置面)、35…搬送制御部、51…第2光学フィルタ(フィルタ)、52…蛍光検出部、52a…光取込部、80…励起光検出部、F…異物、R…検査領域、R1…第1領域、R2…第2領域、S…被検査物。

請求の範囲

[請求項1]
 被検査物を検査領域に搬送する搬送部と、
 前記被検査物に付着した異物に蛍光を発生させるための励起光を前記検査領域に照射する励起光照射部と、
 前記検査領域内に設置され、前記励起光によって蛍光を発生させる光変換部と、
 前記検査領域において、前記励起光によって前記異物が発生させた前記蛍光と前記励起光によって前記光変換部が発生させた前記蛍光とを検出し、検出した前記蛍光の検出信号を出力する蛍光検出部と、
 前記光変換部が発生させた前記蛍光の前記検出信号に基づいて、前記励起光照射部及び前記蛍光検出部の少なくともいずれかの異常の有無を検出する処理部と、
を備える光検査装置。
[請求項2]
 前記処理部は、前記光変換部が発生させた前記蛍光の前記検出信号の有無に基づいて、前記励起光照射部及び前記蛍光検出部の少なくともいずれかの異常の有無を検出する、請求項1に記載の光検査装置。
[請求項3]
 前記検査領域は、第1領域と、前記第1領域とは異なる第2領域とを含み、
 前記光変換部は、前記第1領域内に設置され、
 前記搬送部は、前記被検査物を前記第2領域に搬送する、請求項1又は2に記載の光検査装置。
[請求項4]
 前記搬送部における前記被検査物の搬送を制御する搬送制御部を更に備え、
 前記搬送制御部は、前記処理部によって前記励起光照射部及び前記蛍光検出部の少なくともいずれかに異常が有りと検出された場合、前記搬送部における前記被検査物の搬送を停止させる、請求項1~3のいずれか一項に記載の光検査装置。
[請求項5]
 前記検査領域を覆う筐体を更に備え、
 前記光変換部は、前記筐体に固定されている、請求項1~4のいずれか一項に記載の光検査装置。
[請求項6]
 前記筐体は、前記搬送部に対して離間可能に設けられている、請求項5に記載の光検査装置。
[請求項7]
 前記処理部は、前記蛍光検出部から出力される前記検出信号の出力強度を更に調整し、
 前記検出信号は、前記検査領域内の前記蛍光の検出強度を含み、
 前記処理部は、前記検出信号における前記蛍光の検出強度と、予め定められた基準強度とに基づいて、前記検出信号の出力強度を調整する、請求項1に記載の光検査装置。
[請求項8]
 前記検出信号は、前記検査領域内の各位置での前記蛍光の検出強度を含み、
 前記処理部は、前記検出信号における前記光変換部の設置位置での前記蛍光の検出強度と、予め定められた基準強度とに基づいて、前記検出信号の出力強度を調整する、請求項7に記載の光検査装置。
[請求項9]
 前記予め定められた基準強度は、前記蛍光検出部によって過去に検出された前記光変換部の設置位置での前記蛍光の検出強度である、請求項7又は8に記載の光検査装置。
[請求項10]
 前記処理部は、前記搬送部が前記被検査物の搬送を開始する前に前記検出信号の出力強度を調整する、請求項7~9のいずれか一項に記載の光検査装置。
[請求項11]
 前記励起光照射部における励起光照射領域内に設置されると共に前記励起光を検出し、検出した前記励起光の検出信号を出力する励起光検出部を更に備え、
 前記処理部は、前記蛍光検出部から出力された前記検出信号であり前記異物が発生させた前記蛍光の前記検出信号に基づいて前記被検査物の画像を生成する、請求項1に記載の光検査装置。
[請求項12]
 前記処理部は、前記励起光検出部が出力する検出信号に基づいて、前記励起光照射部の異常の有無を検出する、請求項11に記載の光検査装置。
[請求項13]
 前記処理部は、前記励起光検出部が出力する検出信号の有無に基づいて、前記励起光照射部の異常の有無を検出する、請求項12に記載の光検査装置。
[請求項14]
 前記搬送部における前記被検査物の搬送を制御する搬送制御部を更に備え、
 前記搬送制御部は、前記処理部によって前記励起光照射部に異常が有りと検出された場合、前記搬送部における前記被検査物の搬送を停止させる、請求項11~13のいずれか一項に記載の光検査装置。
[請求項15]
 前記処理部は、前記励起光検出部が出力する検出信号の検出強度と、予め定められた基準強度と、に基づいて、前記蛍光検出部における出力強度を調整する、請求項11~14のいずれか一項に記載の光検査装置。
[請求項16]
 前記処理部は、前記励起光検出部が出力する検出信号の検出強度と前記基準強度とに基づいて前記検出強度の低下量を取得し、前記低下量に基づいて前記蛍光検出部における出力強度を調整する、請求項15に記載の光検査装置。
[請求項17]
 前記搬送部によって搬送される前記被検査物が通過可能に前記搬送部の上方に配置される台座部と、
 前記台座部の上部に配置され、少なくとも前記蛍光検出部を収容する保護ケースと、
 上方から見た平面視において前記台座部を外側から覆う保護部と、
を更に備える、請求項1に記載の光検査装置。
[請求項18]
 前記保護部は、上方から見た平面視において前記台座部の外側に配置され、前記保護部の下端は、前記台座部の上端よりも低い位置に位置している、請求項17に記載の光検査装置。
[請求項19]
 前記保護部は、前記台座部を囲むように枠状に配置されている、請求項17又は18に記載の光検査装置。
[請求項20]
 前記保護部は、前記保護ケースに形成されている、請求項17~19のいずれか一項に記載の光検査装置。
[請求項21]
 前記保護ケースは、開口部を有する箱状の本体部と、前記開口部の周囲から張り出した鍔部と、を有しており、
 前記保護部は、前記鍔部に形成されている、請求項17~20のいずれか一項に記載の光検査装置。
[請求項22]
 前記鍔部の上面は、張り出し方向に向かって、下方に傾斜している、請求項21に記載の光検査装置。
[請求項23]
 前記台座部は、前記保護ケースの前記開口部よりも面積が小さな窓部を有し、
 前記蛍光検出部は、前記窓部を介して、前記異物から発せられる蛍光を検出する、請求項21又は22に記載の光検査装置。
[請求項24]
 前記蛍光の波長帯以外の波長帯の光を減衰させるフィルタを更に備え、
 前記蛍光検出部は、当該蛍光検出部の光取込部に入射した蛍光を検出し、
 前記フィルタは、前記光取込部に対向する位置に設けられている、請求項1~23のいずれか一項に記載の光検査装置。
[請求項25]
 前記搬送部における前記被検査物が載置される載置面には、前記励起光の反射防止処理が施されている、請求項1~24のいずれか一項に記載の光検査装置。
[請求項26]
 検査領域に搬送された被検査物に励起光を照射して前記被検査物に付着する異物を検出すると共に、前記励起光によって蛍光を発生させる光変換部が前記検査領域内に設置された光検査装置における異常検出方法であって、
 前記異物及び前記光変換部に蛍光を発生させるための前記励起光を前記検査領域に照射させる制御信号を励起光照射部に入力する照射ステップと、
 前記検査領域において、前記励起光照射部が照射した前記励起光によって前記光変換部が発生させた前記蛍光を蛍光検出部が検出する蛍光検出ステップと、
 前記蛍光検出ステップで検出された前記光変換部が発生させた前記蛍光に基づいて、前記励起光照射部及び前記蛍光検出部の少なくともいずれかの異常の有無を処理部が検出する異常検出ステップと、
を含む異常検出方法。

図面

[ 図 1]

[ 図 2]

[ 図 3]

[ 図 4]

[ 図 5]

[ 図 6]

[ 図 7]

[ 図 8]

[ 図 9]

[ 図 10]

[ 図 11]

[ 図 12]

[ 図 13]

[ 図 14]

[ 図 15]

[ 図 16]

[ 図 17]

[ 図 18]

[ 図 19]