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1. (WO2019035449) 構造体および反射層の形成方法
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国際公開番号: WO/2019/035449 国際出願番号: PCT/JP2018/030225
国際公開日: 21.02.2019 国際出願日: 13.08.2018
IPC:
G02B 5/30 (2006.01) ,G02B 5/26 (2006.01)
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
5
レンズ以外の光学要素
30
偏光要素
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
5
レンズ以外の光学要素
20
フィルター
26
反射フィルター
出願人:
富士フイルム株式会社 FUJIFILM CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西麻布2丁目26番30号 26-30, Nishiazabu 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1068620, JP
発明者:
加藤 峻也 KATOH Shunya; JP
代理人:
渡辺 望稔 WATANABE Mochitoshi; JP
伊東 秀明 ITOH Hideaki; JP
三橋 史生 MITSUHASHI Fumio; JP
優先権情報:
2017-15648214.08.2017JP
発明の名称: (EN) STRUCTURE AND METHOD FOR FORMING REFLECTIVE LAYER
(FR) STRUCTURE ET PROCÉDÉ POUR FORMER UNE COUCHE RÉFLÉCHISSANTE
(JA) 構造体および反射層の形成方法
要約:
(EN) The present invention addresses the problem of providing: a structure that has suitable transparency and diffuse reflectivity and that comprises a reflective layer capable of minimizing glare; and a method for forming the reflective layer. The problem is solved by a structure that comprises a substrate and a reflective layer obtained by fixing a cholesteric liquid crystal phase and in which when a cross section of the reflective layer is observed using a scanning electron microscope, lines formed by dark sections and lines formed by light sections derived from the cholesteric liquid crystal phase either have a wave-like structure or said lines are inclined with respect to the surface of the substrate and at least part of the lines formed by the dark sections and the lines formed by the light sections are discontinuous.
(FR) Le problème décrit par la présente invention est de fournir : une structure qui a une transparence appropriée et une réflectivité diffuse et qui comprend une couche réfléchissante permettant de minimiser l'éblouissement ; et un procédé de formation de la couche réfléchissante. La solution selon l'invention porte sur une structure qui comprend un substrat et une couche réfléchissante obtenue par fixation d'une phase de cristaux liquides cholestériques et dans laquelle, lorsqu'une section transversale de la couche réfléchissante est observée avec un microscope électronique à balayage, des lignes formées par des sections sombres et des lignes formées par des sections claires provenant de la phase de cristaux liquides cholestériques présentent soit une structure de type vague, soit lesdites lignes sont inclinées par rapport à la surface du substrat et au moins une partie des lignes formées par les sections sombres et les lignes formées par les sections claires sont discontinues.
(JA) 良好な透明性および拡散反射性を有し、さらに、ギラツキも抑制できる反射層を有する構造体、および、この反射層の形成方法の提供を課題とする。基板と、コレステリック液晶相を固定してなる反射層とを有し、反射層は、走査型電子顕微鏡による断面の観察において、コレステリック液晶相に由来する明部が成す線および暗部が成す線が、波状構造を有しており、または、基板の表面に対して傾斜しており、かつ、暗部が成す線および明部が成す線の少なくとも一部が、不連続であることにより、課題を解決する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)