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1. (WO2019035234) X線検査システム及びX線検査方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報第三者情報を提供

国際公開番号: WO/2019/035234 国際出願番号: PCT/JP2018/009498
国際公開日: 21.02.2019 国際出願日: 12.03.2018
IPC:
G01N 23/04 (2018.01) ,G01N 23/087 (2006.01) ,G01N 23/10 (2018.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23
グループG01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
02
放射線の材料透過によるもの
04
映像形成
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23
グループG01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
02
放射線の材料透過によるもの
06
吸収の測定
08
電気的検出手段の利用
083
放射線がX線であるもの
087
多種エネルギーX線を用いるもの
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23
グループG01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
02
放射線の材料透過によるもの
06
吸収の測定
08
電気的検出手段の利用
10
容器内に封入された材料
出願人:
富士電機株式会社 FUJI ELECTRIC CO., LTD. [JP/JP]; 神奈川県川崎市川崎区田辺新田1番1号 1-1, Tanabeshinden, Kawasaki-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa 2109530, JP
株式会社ティーアンドエス T&S CORPORATION [JP/JP]; 千葉県野田市七光台433番地1 433-1, Nanakodai, Noda-shi, Chiba 2780051, JP
発明者:
水谷 博成 MIZUTANI, Hiroshige; JP
小林 裕信 KOBAYASHI, Hironobu; JP
住川 健 SUMIKAWA, Takeshi; JP
笛木 豊 FUEKI, Yutaka; JP
宮本 克己 MIYAMOTO, Katsumi; JP
崔 成民 CHOI, Seongmin; JP
横島 伸 YOKOSHIMA, Shin; JP
二階堂 羊司 NIKAIDO, Yoji; JP
代理人:
青木 宏義 AOKI, Hiroyoshi; JP
天田 昌行 AMADA, Masayuki; JP
岡田 喜雅 OKADA, Yoshimasa; JP
優先権情報:
2017-15805918.08.2017JP
発明の名称: (EN) X-RAY INSPECTION SYSTEM AND X-RAY INSPECTION METHOD
(FR) SYSTÈME D'INSPECTION À RAYONS X ET PROCÉDÉ D'INSPECTION À RAYONS X
(JA) X線検査システム及びX線検査方法
要約:
(EN) Provided is an X-ray inspection system and an X-ray inspection method with which it is possible, even if an object to be inspected contains a plurality of contents, to clearly reflect the contents on an X-ray image. An X-ray projection device (10) projects a plurality of X-rays onto an object to be inspected (30), such X-rays having different X-ray projection outputs (A-P) and/or X-ray projection times (A'-P'). An X-ray image receiving device (20) receives the plurality of X-rays transmitted through the object to be inspected (30) to acquire a plurality of X-ray images. An X-ray image synthesis device (70) synthesizes the plurality of X-ray images.
(FR) L'invention concerne un système d'inspection à rayons X et un procédé d'inspection à rayons X grâce auxquels il est possible, même si un objet à inspecter contient une pluralité de contenus, de refléter clairement le contenu sur une image radiologique. Un dispositif de projection de rayons X (10) projette une pluralité de rayons X sur un objet à inspecter (30), lesdits rayons X possédant différentes sorties de projection de rayons X (A-P) et/ou différents temps de projection de rayons X (A'-P'). Un dispositif de réception d'images radiologiques (20) reçoit la pluralité de rayons X émis à travers l'objet à inspecter (30) afin d'acquérir une pluralité d'images radiologiques. Un dispositif de synthèse d'images radiologiques X (70) synthétise la pluralité d'images radiologiques.
(JA) 検査対象物が複数の内容物を含んでいる場合であってもこれらをX線画像に鮮明に映り込ませることができるX線検査システム及びX線検査方法を提供する。X線照射装置(10)は、検査対象物(30)にX線照射出力(A~P)とX線照射時間(A'~P')の少なくとも一方を異ならせた複数のX線を照射する。X線受像装置(20)は、検査対象物(30)を透過した複数のX線を受像して複数のX線画像を取得する。X線画像合成装置(70)は、複数のX線画像を合成する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)