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1. (WO2019031590) 基板処理装置
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国際公開番号: WO/2019/031590 国際出願番号: PCT/JP2018/029961
国際公開日: 14.02.2019 国際出願日: 09.08.2018
IPC:
H01L 21/677 (2006.01) ,H01L 21/304 (2006.01)
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
21
半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置
67
製造または処理中の半導体または電気的固体装置の取扱いに特に適用される装置;半導体または電気的固体装置もしくは構成部品の製造または処理中のウエハの取扱いに特に適用される装置
677
移送のためのもの,例.異なるワ―クステーション間での移送
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
21
半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置
02
半導体装置またはその部品の製造または処理
04
少なくとも一つの電位障壁または表面障壁,例.PN接合,空乏層,キャリア集中層,を有する装置
18
不純物,例.ドーピング材料,を含むまたは含まない周期律表第IV族の元素またはA↓I↓I↓IB↓V化合物から成る半導体本体を有する装置
30
21/20~21/26に分類されない方法または装置を用いる半導体本体の処理
302
表面の物理的性質または形状を変換するため,例.エッチング,ポリシング,切断
304
機械的処理,例.研摩,ポリシング,切断
出願人:
株式会社荏原製作所 EBARA CORPORATION [JP/JP]; 東京都大田区羽田旭町11番1号 11-1, Haneda Asahi-cho, Ohta-ku, Tokyo 1448510, JP
発明者:
前田 幸次 MAEDA Koji; JP
稲葉 充彦 INABA Mitsuhiko; JP
徐 海洋 XU Haiyang; JP
八嶋 哲也 YASHIMA Tetsuya; JP
代理人:
大野 聖二 OHNO Seiji; JP
松野 知紘 MATSUNO Tomohiro; JP
野本 裕史 NOMOTO Hiroshi; JP
優先権情報:
2017-15521310.08.2017JP
発明の名称: (EN) SUBSTRATE PROCESSING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE SUBSTRAT
(JA) 基板処理装置
要約:
(EN) A substrate processing device provided with a first processing unit and a second processing unit arranged in two stages vertically. Each of the first processing unit and the second processing unit includes: a plurality of processing tanks arrayed in series; a separating wall defining a transfer space extending in an array direction outside the plurality of processing tanks; a transfer mechanism which is arranged in the transfer space and transfers a substrate between the processing tanks in the array direction; and an air-introducing duct provided in the transfer space and extending in the array direction. A fan filter unit is connected to the air-introducing duct. An exhaust duct is connected to each of the processing tanks. The air-introducing duct is formed with openings in portions opposing the processing tanks. The transfer space of the first processing unit and the transfer space of the second processing unit are separated vertically by means of a separating wall.
(FR) L'invention concerne un dispositif de traitement de substrat comprenant une première unité de traitement et une seconde unité de traitement agencées en deux étages verticalement. Chacune de la première unité de traitement et de la seconde unité de traitement comprend : une pluralité de réservoirs de traitement disposés en série; une paroi de séparation définissant un espace de transfert s'étendant dans une direction de réseau à l'extérieur de la pluralité de réservoirs de traitement; un mécanisme de transfert qui est disposé dans l'espace de transfert et transfère un substrat entre les réservoirs de traitement dans la direction de réseau; et un conduit d'introduction d'air disposé dans l'espace de transfert et s'étendant dans la direction de réseau. Une unité de filtre de ventilateur est reliée au conduit d'introduction d'air. Un conduit d'échappement est relié à chacun des réservoirs de traitement. Le conduit d'introduction d'air est formé avec des ouvertures dans des parties opposées aux réservoirs de traitement. L'espace de transfert de la première unité de traitement et l'espace de transfert de la seconde unité de traitement sont séparés verticalement au moyen d'une paroi de séparation.
(JA) 基板処理装置は、上下二段に配置された第1処理ユニットおよび第2処理ユニットを備える。第1処理ユニットおよび第2処理ユニットは、それぞれ、直列に配列された複数の処理槽と、複数の処理槽の外側に配列方向に延びる搬送空間を画定する隔壁と、搬送空間に配置され、各処理槽間にて配列方向に沿って基板を搬送する搬送機構と、搬送空間に前記配列方向に沿って延びるように設けられた導風ダクトと、を有する。導風ダクトにはファンフィルタユニットが接続されている。各処理槽には排気ダクトが接続されている。導風ダクトのうち各処理槽と対向する部分にはそれぞれ開口が形成されている。第1処理ユニットの搬送空間と第2処理ユニットの搬送空間とは、隔壁により上下に分離されている。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)