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1. (WO2019022170) 欠陥検査方法及び欠陥検査装置
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国際公開番号: WO/2019/022170 国際出願番号: PCT/JP2018/027998
国際公開日: 31.01.2019 国際出願日: 25.07.2018
IPC:
G01N 21/88 (2006.01) ,G06T 7/00 (2017.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84
特殊な応用に特に適合したシステム
88
きず,欠陥,または汚れの存在の調査
G 物理学
06
計算;計数
T
イメージデータ処理または発生一般
7
イメージ分析,例.ビットマップから非ビットマップへ
出願人:
横浜ゴム株式会社 THE YOKOHAMA RUBBER CO., LTD. [JP/JP]; 東京都港区新橋5丁目36番11号 36-11, Shimbashi 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1058685, JP
発明者:
多田 拡太郎 TADA, Hirotaro; JP
杉浦 彰彦 SUGIURA, Akihiko; JP
代理人:
グローバル・アイピー東京特許業務法人 GLOBAL IP TOKYO; 東京都新宿区西新宿8丁目3番30号 カーメルII CARMEL II, 8-3-30, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo 1600023, JP
優先権情報:
2017-14452426.07.2017JP
発明の名称: (EN) DEFECT INSPECTING METHOD AND DEFECT INSPECTING DEVICE
(FR) PROCÉDÉ D'INSPECTION DE DÉFAUT ET APPAREIL D'INSPECTION DE DÉFAUT
(JA) 欠陥検査方法及び欠陥検査装置
要約:
(EN) To cause a discriminator to learn when inspecting defects in an article, a defect image containing a defect and a non-defect image with no defect are acquired, the defect image and the non-defect image being images of an article different from the article being inspected, and the discriminator is caused to learn an image of a defect and an image of a non-defect which is not the defect, using the defect image and the non-defect image. The learned discriminator is caused to discriminate between whether or not each cut-out inspection image obtained by classifying an inspection image of the article being inspected contains a defect, and the presence or absence of the defect in the article being inspected is determined using the discrimination result obtained by the discriminator. When the discriminator is being caused to learn the defect, the discriminator is provided, as images for learning, with a plurality of cut-out defect images created from the defect image by modifying a cut-out region cut out from the defect image in such a way that the defect in the defect image is in a different position in each image.
(FR) Cette invention concerne un procédé d'inspection de défaut où, pour amener un discriminateur à apprendre lors de l'inspection de défaut dans un article, une image de défaut contenant un défaut et une image de non-défaut sont acquises, l'image de défaut et l'image de non-défaut étant des images d'un article différent de l'article en cours d'inspection, et le discriminateur est amené à apprendre une image de défaut et une image de non-défaut qui n'est pas le défaut, à l'aide de l'image de défaut et de l'image de non-défaut. Le discriminateur appris est amené à discriminer si chaque image d'inspection découpée obtenue par classification d'une image d'inspection de l'article en cours d'inspection contient un défaut ou non, et la présence ou l'absence du défaut dans l'article en cours d'inspection est déterminée à l'aide du résultat de discrimination obtenu par le discriminateur. Quand le discriminateur est amené à apprendre le défaut, le discriminateur reçoit, sous forme d'images pour l'apprentissage, une pluralité d'images de défaut découpées, créées à partir de l'image de défaut par modification d'une région découpée qui a été découpée de l'image de défaut de façon que le défaut dans l'image de défaut soit dans une position différente sur chaque image.
(JA) 物品の欠陥を検査するとき、識別器の学習のために、検査対象物品とは別の物品の、欠陥を含んだ欠陥画像及び欠陥の無い無欠陥画像を取得し、前記欠陥画像及び前記無欠陥画像を用いて前記識別器に前記欠陥の像及び前記欠陥ではない非欠陥の像を学習させる。学習した前記識別器に、前記検査対象物品の検査画像を区分けした切り出し検査画像それぞれが欠陥を含むか否かを識別させ、前記識別器の識別結果を用いて、前記検査対象物品の欠陥の有無を判定する。前記識別器に前記欠陥を学習させるとき、前記欠陥画像中の前記欠陥が画像中の異なる位置に来るように、前記欠陥画像から切り出す切り出し領域を変更して前記欠陥画像から作成した複数の切り出し欠陥画像を、前記識別器に学習用画像として提供する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)